一种在硅衬底上生长无裂纹Ⅲ族氮化物的方法

    公开(公告)号:CN1825539A

    公开(公告)日:2006-08-30

    申请号:CN200510009509.3

    申请日:2005-02-22

    Abstract: 一种在硅衬底上生长无裂纹III族氮化物的方法,涉及半导体技术领域,利用应力补偿缓冲层在硅衬底上生长无裂纹III族氮化物薄膜。该方法,1)首先在单晶硅衬底上沉积20纳米左右铝化的高温氮化铝缓冲层,然后在其上再沉积一层晶格常数远小于III族氮化物的六方相物质(如低温氮化铝,氮化镓铝,氮化硼等),形成具有应力补偿作用的缓冲层结构;2)加入一种活化剂使应力补偿层易于在低温下形成,同时表面平整晶体质量高;3)预沉积的六方相物质由于晶格常数小于III族氮化物,可在其上生长的III族氮化物薄膜中引入压应力,从而补偿与硅衬底热失配引入的拉应力。

    键合强度可调节的柔性衬底

    公开(公告)号:CN1452214A

    公开(公告)日:2003-10-29

    申请号:CN02105735.4

    申请日:2002-04-16

    CPC classification number: Y02P70/521

    Abstract: 本发明一种键合强度可调节的柔性衬底,其中包括:一机械支撑衬底,对于整个结构起机械支撑作用;在机械支撑衬底上生长一层去耦合的中间层结构,中间层结构与机械支撑衬底之间选择性腐蚀能力较强;在去耦合的中间层上生长一顶层结构,与机械支撑衬底共同完成键合强度的调节,与中间层的选择性腐蚀能力较强;本发明的键合强度可调节柔性衬底成功的解决了柔性层与机械支撑衬底的键合强度问题,可以生长出高质量的外延膜。

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