基于FIB设备定制AFM探针的方法及原子力显微镜

    公开(公告)号:CN113917190B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202111172714.7

    申请日:2021-10-08

    Abstract: 本发明提供一种基于FIB设备定制AFM探针的方法及原子力显微镜。方法包括步骤:提供FIB设备,将针尖基底和悬臂梁基底固定于样品台上并置于FIB设备的工艺腔室内;利用聚焦离子束刻蚀从针尖基底上切取所需长度的针梢,且利用聚焦离子束刻蚀在悬臂梁基底的一端刻蚀出安装面;将针梢的一端放置于安装面上,并利用聚焦离子束沉积将针梢的一端和安装面相固定;利用聚焦离子束刻蚀对针梢进行轰击削尖,以将针梢加工成所需尺寸的针尖而得到所需的AFM探针。本发明利用FIB技术提供了一种针尖高度和曲率半径可控的AFM探针的制备方法,探针制备的灵活性大大提高,可用于定制各种特殊参数的AFM探针以满足不同的检测需求,有助于提高制备良率和降低制备成本。

    基于FIB设备定制AFM探针的方法及原子力显微镜

    公开(公告)号:CN113917190A

    公开(公告)日:2022-01-11

    申请号:CN202111172714.7

    申请日:2021-10-08

    Abstract: 本发明提供一种基于FIB设备定制AFM探针的方法及原子力显微镜。方法包括步骤:提供FIB设备,将针尖基底和悬臂梁基底固定于样品台上并置于FIB设备的工艺腔室内;利用聚焦离子束刻蚀从针尖基底上切取所需长度的针梢,且利用聚焦离子束刻蚀在悬臂梁基底的一端刻蚀出安装面;将针梢的一端放置于安装面上,并利用聚焦离子束沉积将针梢的一端和安装面相固定;利用聚焦离子束刻蚀对针梢进行轰击削尖,以将针梢加工成所需尺寸的针尖而得到所需的AFM探针。本发明利用FIB技术提供了一种针尖高度和曲率半径可控的AFM探针的制备方法,探针制备的灵活性大大提高,可用于定制各种特殊参数的AFM探针以满足不同的检测需求,有助于提高制备良率和降低制备成本。

Patent Agency Ranking