一种精确缩短节距值的自溯源光栅标准物质制备方法

    公开(公告)号:CN111650680B

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:CN202010575620.3

    申请日:2020-06-22

    Abstract: 本发明涉及一种精确缩短节距值的自溯源光栅标准物质制备方法,该方法基于激光汇聚原子沉积技术和软X射线干涉光刻技术,制备百纳米尺度及以下的小节距溯源标准物质,包括以下步骤:1)获取掩膜版基板;2)采用激光汇聚原子沉积技术,在掩膜版基板上,沉积制备掩膜版;3)获取光刻胶样品,该光刻胶样品包括光刻胶和第二衬底;采用掩膜版,通过软X射线干涉光刻技术,对光刻胶进行曝光和显影,得到光刻胶光栅结构;4)将光刻胶光栅结构转移到第二衬底上,获取自溯源光栅标准物质。与现有技术相比,本发明制备的自溯源光栅标准物质具有高精度、溯源性和精确缩短节距值等优点。

    实现元素空间定位的双能焦点堆栈三维重构方法

    公开(公告)号:CN110389140A

    公开(公告)日:2019-10-29

    申请号:CN201910633053.X

    申请日:2019-07-11

    Abstract: 该发明涉及一种实现元素空间定位的双能焦点堆栈三维重构方法,包括以下步骤:测量样品中需要检测的元素的全电子产额吸收谱,以确定吸收边能量,并选定一个边前能量;对样品进行扫描成像,且入射光的能量为该元素的吸收边能量,获取一组吸收边上的第一焦点堆栈图像;对样品进行扫描成像,且入射光的能量为该元素的边前能量,获取一组吸收边前的第二焦点堆栈图像;利用焦点堆栈算法分别重构所述第一焦点堆栈图像和第二焦点堆栈图像,分别对应获取第一三维结构图以及第二三维结构图;将第一三维结构图与第二三维结构图通过K边减影或相比双能衬度法处理,获得该元素在样品中的空间分布情况。

    一种同步辐射X射线大面积干涉光刻系统

    公开(公告)号:CN105182701B

    公开(公告)日:2017-11-28

    申请号:CN201510666500.3

    申请日:2015-10-15

    Abstract: 本发明涉及一种同步辐射X射线大面积干涉光刻系统,其包括:依次排列的波荡器光源、多个反射聚焦镜、掩膜光栅、具有光阑孔的级选光阑、具有观察孔的样品台、铝膜以及CCD探测器。本发明通过在掩膜光栅与样品之间增设级选光阑,并通过CCD探测器确保掩膜光栅与级选光阑的位置对准,从而使级选光阑能够可靠遮挡经过掩膜光栅分束产生的0级光,避免该0级光照射到样品上,以使样品上产生的±1级衍射光相干区域的周围不存在0级光区域,由此即可通过移动样品台实现样品上的有效曝光区域的大面积拼接。同时本发明还通过采用反射聚焦镜以及铝膜对X射线进行滤波,从而使得CCD探测器能够清楚观察到掩膜光栅与级选光阑的相对位置,从而即可确保两者的对准精度。

    一种同步辐射X射线大面积干涉光刻系统

    公开(公告)号:CN105182701A

    公开(公告)日:2015-12-23

    申请号:CN201510666500.3

    申请日:2015-10-15

    Abstract: 本发明涉及一种同步辐射X射线大面积干涉光刻系统,其包括:依次排列的波荡器光源、多个反射聚焦镜、掩膜光栅、具有光阑孔的级选光阑、具有观察孔的样品台、铝膜以及CCD探测器。本发明通过在掩膜光栅与样品之间增设级选光阑,并通过CCD探测器确保掩膜光栅与级选光阑的位置对准,从而使级选光阑能够可靠遮挡经过掩膜光栅分束产生的0级光,避免该0级光照射到样品上,以使样品上产生的±1级衍射光相干区域的周围不存在0级光区域,由此即可通过移动样品台实现样品上的有效曝光区域的大面积拼接。同时本发明还通过采用反射聚焦镜以及铝膜对X射线进行滤波,从而使得CCD探测器能够清楚观察到掩膜光栅与级选光阑的相对位置,从而即可确保两者的对准精度。

    一种用于X射线共振非弹性散射光谱仪的自动控制系统

    公开(公告)号:CN117761092A

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202311549369.3

    申请日:2023-11-20

    Abstract: 本发明提供一种用于X射线共振非弹性散射光谱仪的自动控制系统,包括一端与光栅单色器连接的入臂和出臂支架,安装于出臂支架的可动端的六轴并联机构;中央控制器模块利用PLC控制器根据物距和像距完成对执行器件的控制命令下发和状态读取,实现入臂支架和出臂支架的运动控制;单色器控制组件将光栅入射角和光栅衍射角作为目标值并根据目标值实现光栅单色器内的光栅组件的运动姿态的控制;六足并联机构控制器将CCD探测器表面光束入射角γ作为目标值并根据目标值沿Y轴方向、Z轴方向以及绕X轴旋转方向调节控制六足并联机构的姿态。本发明的自动控制系统能够实现X射线共振非弹性散射光谱仪的X射线自动聚焦控制。

    基于多通道电子倍增器件的电离吸收谱探测装置

    公开(公告)号:CN105092690A

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201510305701.0

    申请日:2015-06-04

    Abstract: 本发明提供一种基于多通道电子倍增器的电离吸收谱探测装置,包括用于使气体电离的电离腔室;设置在所述电离腔室中的金网,其设置为收集所述电离腔室中电离产生的离子;设置在所述电离腔室中的多通道电子倍增器,其位置与所述金网的位置相对,以在两者之间形成电场,并通过所述电场的作用接收所述金网收集的所述离子并输出相应的离子信号;连接至所述多通道电子倍增器的加压及信号采集电路,其设置为向所述多通道电子倍增器提供电压以及采集并输出所述离子信号;以及信号处理系统,其设置为接收所述离子信号并根据所述离子信号获取相应的电离吸收谱。本发明能够改善测量光束线能量分辨率的准确度,减小气体碰撞展宽对最终结果的影响。

    一种原位光通量监测及曝光剂量补偿方法

    公开(公告)号:CN108549197B

    公开(公告)日:2020-04-17

    申请号:CN201810214561.X

    申请日:2018-03-15

    Abstract: 本发明涉及一种原位光通量监测及曝光剂量补偿方法,该方法通过采用光电二极管在光刻实验开始前对经过出射狭缝进入真空腔体内的主光束的光通量进行测量,并在进行实验曝光时对经过出射狭缝进入真空腔体内的强度与主光束成正比的杂散光的光通量进行监测,从而根据杂散光的光强变化实时调整各个光刻区域的曝光时间,由此对曝光剂量进行补偿,以使曝光剂量在XIL大面积曝光图形拼接过程中保持不变,从而确保最终获得的大面积曝光图形内的纳米结构均匀,进而有效提高这种曝光图形形成的器件性能。

    带原位蒸金功能的软X射线光束线通量检测装置

    公开(公告)号:CN109239109A

    公开(公告)日:2019-01-18

    申请号:CN201811183779.X

    申请日:2018-10-11

    Inventor: 邹鹰 王勇 邰仁忠

    Abstract: 本发明涉及带原位蒸金功能的软X射线光束线通量检测装置,具有真空六通法兰管道,该管道具有沿其x向设置的连接上游和下游光学部件的入射和出射法兰,在两法兰之间的真空法兰管道内有金网,沿其y向设有固接有蒸金器的蒸金器安装法兰;沿其z向则设有金网安装法兰,金网由金网夹持电极固定并与外部的真空密封BNC电极电连接,该夹持电极通过金网安装法兰固定于该管道内,一旋转组件通过金网安装法兰与所述金网夹持电极相连,通过旋转组件带动金网在六通管道内沿垂直或水平于光束线方向原位转动,既可进行正常光束线通量检测,又可通过加热蒸金器中的金材而在对金网面镀金膜,从而适时、高效地解决金网沉积污染物的问题,且不会引入其他污染。

    一种同步辐射软X射线无损实时位置分辨电离室

    公开(公告)号:CN106783502B

    公开(公告)日:2018-08-24

    申请号:CN201611088759.5

    申请日:2016-11-30

    Abstract: 本发明提供一种同步辐射软X射线无损实时位置分辨电离室,包括密封壳体以及在所述密封壳体中上下平行对置的高压电极板和收集电极板,其特征在于,所述收集电极板呈矩形,并由两个呈直角三角形的微通道板模块拼接而成。本发明通过将收集电极板设计为由两个呈直角三角形的微通道板模块拼接而成,从而可利用微通道板模块对电流信号放大的作用,使得电离室即使工作在高真空下,也可以输出能够被检测到的电流,进而实现对软X射线光束强度、位置的无损实时监测。

    一种用于软X射线近边吸收谱测量的原位标样系统

    公开(公告)号:CN107561098A

    公开(公告)日:2018-01-09

    申请号:CN201710947926.5

    申请日:2017-10-12

    Abstract: 本发明提供一种用于软X射线近边吸收谱测量的原位标样系统,包括:一真空腔体,X射线从所述真空腔体的一端沿中轴线进入;通过一柔性管材在所述真空腔体的上方与所述真空腔体连接的二维位移台;与所述二维位移台连接并在所述柔性管材中竖直向下延伸的支杆,所述支杆上通过一导电基片固定有多种标准样品,所述标准样品在X射线的照射下产生电流;以及用于测量所述电流的测量装置。本发明提供了一种可以原位集成标准样品,因此得以快速高效测量标准样品,并且实现标准样品和实验样品吸收谱的同时测量,具有大幅提高的工作效率以及高可信度的用于软X射线近边吸收谱测量的原位标样系统。

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