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公开(公告)号:CN115435749B
公开(公告)日:2025-01-07
申请号:CN202210960722.6
申请日:2022-08-11
Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC: G01C9/00
Abstract: 本发明提供一种键合指倾斜角度的测量方法、装置、终端及存储介质。该方法包括:获取包含键合指的图像;基于视觉检测技术和图像确定键合指的位置;基于键合指的位置确定测试点的位置;测试点为键合指上的点;通过激光传感器对测试点进行测量,得到键合指的倾斜角度。本发明通过视觉检测技术确定键合指的位置,然后确定测试点,比人工选取的测试点位置更准确,因此基于此测试点进行的倾斜角度测量结果也更加准确。
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公开(公告)号:CN115435749A
公开(公告)日:2022-12-06
申请号:CN202210960722.6
申请日:2022-08-11
Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC: G01C9/00
Abstract: 本发明提供一种键合指倾斜角度的测量方法、装置、终端及存储介质。该方法包括:获取包含键合指的图像;基于视觉检测技术和图像确定键合指的位置;基于键合指的位置确定测试点的位置;测试点为键合指上的点;通过激光传感器对测试点进行测量,得到键合指的倾斜角度。本发明通过视觉检测技术确定键合指的位置,然后确定测试点,比人工选取的测试点位置更准确,因此基于此测试点进行的倾斜角度测量结果也更加准确。
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