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公开(公告)号：CN118376492A
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410507031.X
申请日：2024-04-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明提供一种用应变片测试多孔芯材泊松比的方法，属于泊松比检测技术领域。其中所述方法包括：将耐高温胶膜贴合在目标多孔芯材表面；将目标多孔芯材放入压机中并在目标多孔芯材下方垫硅橡胶缓冲垫，通过压机进行热压处理；对应变片进行预处理；去除目标多孔芯材表面上所述耐高温胶膜的保护膜，滴加胶水并将应变片粘贴在耐高温胶膜表面；去除多余胶水，固化后进行泊松比测试。本发明采用的用应变片测试多孔芯材泊松比的方法在现有试验技术的基础上，利用胶膜阻隔胶水渗透泡沫，与多孔芯材成为一个整体，测试简单、便捷，并且方法满足标准测试方法要求，填补了相关技术空白。
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公开(公告)号：CN114295536A
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202111406433.3
申请日：2021-11-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N17/00
Abstract: 本申请涉及一种高分子材料评估方法、装置、计算机设备和存储介质。装置包括：测试主体装置以及老化箱，测试主体装置包括容器以及设置在容器内的支架，容器，用于盛放目标液体介质，目标液体介质与待测试的高分子材料所处应用环境中的液体特性参数相匹配，支架，用于分层放置待测试的高分子材料，使得待测试的高分子材料与目标液体介质接触，老化箱，用于容纳测试主体装置，提供测试主体装置的老化测试环境。能够在一定程度上排除温度之外的其他应力对高分子材料寿命测试的干扰，提高对高分子材料老化性能的测试准确性。
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公开(公告)号：CN114295536B
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202111406433.3
申请日：2021-11-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N17/00
Abstract: 本申请涉及一种高分子材料评估方法、装置、计算机设备和存储介质。装置包括：测试主体装置以及老化箱，测试主体装置包括容器以及设置在容器内的支架，容器，用于盛放目标液体介质，目标液体介质与待测试的高分子材料所处应用环境中的液体特性参数相匹配，支架，用于分层放置待测试的高分子材料，使得待测试的高分子材料与目标液体介质接触，老化箱，用于容纳测试主体装置，提供测试主体装置的老化测试环境。能够在一定程度上排除温度之外的其他应力对高分子材料寿命测试的干扰，提高对高分子材料老化性能的测试准确性。
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公开(公告)号：CN112763447A
公开(公告)日：2021-05-07
申请号：CN202011521613.1
申请日：2020-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及高分子材料技术领域，公开了一种质量一致性提升方法，获取材料的原料和半成品的性能参数以及材料的成品的一致性表征数据；根据材料的原料和半成品的性能参数，分析导致材料出现质量不稳定问题的原料因素；根据材料的成品的一致性表征数据，分析导致材料出现质量不稳定问题的工艺因素；根据原料因素和工艺因素，提出相应的改进措施。通过对原料和生产工艺两个方面进行分析，对可能存在的导致材料出现质量不稳定问题的原因进行发掘，获取导致材料出现质量不稳定问题的工艺因素。根据原料因素和工艺因素，有针对性地提出相应的改进措施，以实现对质量一致性的提升改进，从根本上解决材料一致性差的问题。
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