一种FPGA器件的可靠性测试装置和方法

    公开(公告)号:CN118393326B

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202410832119.9

    申请日:2024-06-26

    Abstract: 本发明公开了一种FPGA器件的可靠性测试装置和方法,所述装置包括上位机、母板、转接板、子板,母板包括主控FPGA、第一I/O接口、电源模块,子板包括待测FPGA器件、第二I/O接口和AD模块,主控FPGA向待测FPGA器件发送测试指令,第一I/O接口通过转接板与子板连接,实现对待测FPGA器件的供电、通信和控制,电源模块为待测FPGA器件提供工作电压;第二I/O接口与转接板连接并进行通信,反馈待测FPGA器件的测试结果,AD模块监测待测FPGA器件的工作电压,转接板将子板的信号与母板相连,以便在转接板上对待测FPGA器件进行测试;上位机与母板连接,生成测试序列并向母板发送测试指令,并从母板接收子板的测试数据。本发明能够以较低的成本实现FPGA器件在多种应用场景下的可靠性评估。

    一种FPGA器件的可靠性测试装置和方法

    公开(公告)号:CN118393326A

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410832119.9

    申请日:2024-06-26

    Abstract: 本发明公开了一种FPGA器件的可靠性测试装置和方法,所述装置包括上位机、母板、转接板、子板,母板包括主控FPGA、第一I/O接口、电源模块,子板包括待测FPGA器件、第二I/O接口和AD模块,主控FPGA向待测FPGA器件发送测试指令,第一I/O接口通过转接板与子板连接,实现对待测FPGA器件的供电、通信和控制,电源模块为待测FPGA器件提供工作电压;第二I/O接口与转接板连接并进行通信,反馈待测FPGA器件的测试结果,AD模块监测待测FPGA器件的工作电压,转接板将子板的信号与母板相连,以便在转接板上对待测FPGA器件进行测试;上位机与母板连接,生成测试序列并向母板发送测试指令,并从母板接收子板的测试数据。本发明能够以较低的成本实现FPGA器件在多种应用场景下的可靠性评估。

    飞针测试装置
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117665543B

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202410130707.8

    申请日:2024-01-31

    Abstract: 本申请涉及一种飞针测试装置,包括上料箱、测试机构、分拣机构及机械臂。上料箱有容置腔,容置腔用于层叠线路板。测试机构包括测试平台及探针组件,测试平台开设有测试窗口。分拣机构包括分拣台、第一传送机构及第二传送机构,分拣台用于将线路板分类,并送入第一传送机构或第二传送机构。机械臂用于将线路板于上料箱、测试机构及分拣机构之间进行转运,且机械臂能够将从上料箱所拾取的线路板悬置于测试窗口,探针组件用于在测试窗口处对线路板的正、反板面进行飞针测试。采用上述技术方案,线路板能够在机械臂的作用下在上料箱、测试机构及分拣机构之间进行转运,如此替代了人工上下料的过程,有助于提高工作效率。

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