公开(公告)号：CN115440320A

公开(公告)日：2022-12-06

申请号：CN202210945278.0

申请日：2022-08-08

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 刘沛江 ,  徐焕翔 ,  陈泽坚 ,  肖美珍 ,  何晓 ,  李银乐 ,  赵振博

IPC: G16C60/00 ,  G06F30/20 ,  G06F119/04 ,  G06F119/14

Abstract: 本申请涉及一种材料寿命确定方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法应用于电磁屏蔽导电高分子材料，包括基于第一数量个的环境参数和第二数量个的频率子范围，构建多组试验参数；获取在各组试验参数下对目标材料分别进行老化试验而得到试验结果，每次老化试验得到的试验结果包括目标材料的多个关键特征的特征值；对于每个关键特征，根据对应于相同环境参数的老化试验而得到的相应关键特征的特征值，确定与相应关键特征对应的目标特征值；对于每个环境参数，基于各目标特征值分别达到临界值所经历的时间段，确定在相应环境参数下目标材料的材料寿命。采用本方法能够对实际使用环境下的电磁屏蔽导电高分子材料进行寿命预测。

公开(公告)号：CN115915638A

公开(公告)日：2023-04-04

申请号：CN202310094927.5

申请日：2023-02-10

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 李星星 ,  周波 ,  周亮 ,  梁朝辉 ,  何晓

IPC: H05K3/28

Abstract: 本发明涉及一种挠性板铜线路表面覆盖膜的去除方法，首先用单一溶剂浸泡软化覆盖膜树脂层，得到第一中间态；然后对第一中间态的覆盖膜PI层进行热处理，使得PI层膜鼓泡、分层、脱落，得到第二中间态；最后对第二中间态进行清洗，吸取残留的溶剂，干燥后得到第三中间态即成品表面树脂层和PI层清除干净，且铜线路未受损；必要时可以在得到第三中间态后增加紫外激光处理，深度去除挠性板上残留的树脂，为挠性板有效的失效分析提供了可能性。