一种用于继电保护装置元器件替换测试的方法及系统

    公开(公告)号:CN115858260A

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202211505116.1

    申请日:2022-11-28

    IPC分类号: G06F11/22

    摘要: 本发明公开了一种用于继电保护装置元器件替换测试的方法及系统,属于电网二次装置技术领域。本发明方法,包括:获取继电保护装置的基本参数,根据基本参数确定所述继电保护装置中元器件的构成,以确定元器件的主要功能及与其他元器件共同实现某一功能的方式;基于所述元器件的主要功能及与其他元器件共同实现某一功能的方式,对元器件进行分类;根据测试原则以及替代芯片导致的实际情况,得到测试策略;根据测试策略对待替换的元器件进行测试,以获取测试结果,所述测试结果用于指导所述继电保护装置的元器件的替换。本发明的测试方法可以有效减少元器件替换的测试项目和测试费用。

    一种对继电保护设备进行单粒子效应测试的方法及装置

    公开(公告)号:CN118885340A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202410778422.5

    申请日:2024-06-17

    IPC分类号: G06F11/22 G06F11/26

    摘要: 本发明公开了一种对继电保护设备进行单粒子效应测试的方法及装置。其中,方法包括:确定待测试继电保护设备的单比特变位存储单元板卡;进行时序逻辑测试,确定待测试继电保护设备的时序逻辑测试结果;进行置位测试,确定待测试继电保护设备的第一置位方案;对单比特变位存储单元板卡的典型存储单元进行置位测试,确定待测试继电保护设备的第二置位方案;根据第一置位方案以及第二置位方案分别对待测试继电保护设备进行测试,确定待测试继电保护设备的置位测试结果;根据时序逻辑测试结果以及置位测试结果,确定待测试继电保护设备的软错误风险点。