一种测量痕量金属离子浓度的方法和装置

    公开(公告)号:CN106918567B

    公开(公告)日:2019-05-28

    申请号:CN201710188941.6

    申请日:2017-03-27

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明提供了一种测量痕量金属离子浓度的方法和装置,该方法包括:S1,根据包含痕量金属离子的溶液在全波段的吸光度,使用预测均方根误差获取所述全波段内的最优波长区间;S2,通过相关系数法获取所述最优波长区间内测量所述痕量金属离子浓度的有效波长点。通过采用间隔‑相关系数偏最小二乘法,快速高效地去除高浓度基体离子的敏感区域和空白信息区域,剔除非线性强、信息量少、被基体离子掩蔽的波长点,最大程度地保留痕量待测离子完整可用的信息,减小高浓度基体离子对痕量待测离子的干扰,同时保持待测离子的灵敏度,减少变量个数,提高模型的精度和实时性。

    一种高锌背景下痕量多金属离子检测光谱微分预处理方法

    公开(公告)号:CN109115704A

    公开(公告)日:2019-01-01

    申请号:CN201810994636.0

    申请日:2018-08-29

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明公开了一种高锌背景下痕量多金属离子检测光谱微分预处理方法,包括:计算待测痕量金属离子在不同微分阶次下的覆盖度和失真度;基于待测痕量金属离子在不同微分阶次下的覆盖度和失真度分别拟合出待测痕量金属离子的覆盖度与微分阶次的函数关系以及失真度与微分阶次的函数关系;计算出每个待测痕量金属离子的非劣解集;从每个待测痕量金属离子的非劣解集中分别选择一个阶次作为待测痕量金属离子的最优微分阶次,并基于对应的最优微分阶次对每个待测痕量金属离子的光谱信号图进行微分导数滤波预处理。本发明通过所述方法实现不同待测痕量离子优化光谱信号微分阶次,减少离子光谱覆盖率,同时降低噪声干扰,实现高锌背景光谱信号预处理。

    基于测试体系优化的掩蔽峰重现方法

    公开(公告)号:CN106124728A

    公开(公告)日:2016-11-16

    申请号:CN201610460142.5

    申请日:2016-06-22

    Applicant: 中南大学

    CPC classification number: G01N33/20 G06F19/702

    Abstract: 本发明公开一种基于测试体系优化的掩蔽峰重现方法,基于两个目标,设计实验并获取实验数据,通过分析目标中极谱参数与测试体系中试剂种类与用量之间的统计特性,建立其函数关系。其次,根据被测离子的个数n,将该多目标优化问题划分为n‑1个子多目标优化问题P(i),通过比较不同i值时离子之间分离度SD(i)和PHR(i)确定i的值。然后,应用目标互为约束法将多目标优化问题转化为单目标优化问题,基于fmincon函数求解该问题。最后,分析多目标优化问题的Pareto前沿,最终得到测试体系中试剂的种类与用量范围。本发明得到的测试体系具有宽线性度、低检测限、高精确度和精密度。适合用于高浓度比背景下掩蔽峰重现时测试体系的优化。

    一种测量痕量金属离子浓度的方法和装置

    公开(公告)号:CN106918567A

    公开(公告)日:2017-07-04

    申请号:CN201710188941.6

    申请日:2017-03-27

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明提供了一种测量痕量金属离子浓度的方法和装置,该方法包括:S1,根据包含痕量金属离子的溶液在全波段的吸光度,使用预测均方根误差获取所述全波段内的最优波长区间;S2,通过相关系数法获取所述最优波长区间内测量所述痕量金属离子浓度的有效波长点。通过采用间隔‑相关系数偏最小二乘法,快速高效地去除高浓度基体离子的敏感区域和空白信息区域,剔除非线性强、信息量少、被基体离子掩蔽的波长点,最大程度地保留痕量待测离子完整可用的信息,减小高浓度基体离子对痕量待测离子的干扰,同时保持待测离子的灵敏度,减少变量个数,提高模型的精度和实时性。

    一种高锌背景下痕量多金属离子检测光谱微分预处理方法

    公开(公告)号:CN109115704B

    公开(公告)日:2020-08-04

    申请号:CN201810994636.0

    申请日:2018-08-29

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明公开了一种高锌背景下痕量多金属离子检测光谱微分预处理方法,包括:计算待测痕量金属离子在不同微分阶次下的覆盖度和失真度;基于待测痕量金属离子在不同微分阶次下的覆盖度和失真度分别拟合出待测痕量金属离子的覆盖度与微分阶次的函数关系以及失真度与微分阶次的函数关系;计算出每个待测痕量金属离子的非劣解集;从每个待测痕量金属离子的非劣解集中分别选择一个阶次作为待测痕量金属离子的最优微分阶次,并基于对应的最优微分阶次对每个待测痕量金属离子的光谱信号图进行微分导数滤波预处理。本发明通过所述方法实现不同待测痕量离子优化光谱信号微分阶次,减少离子光谱覆盖率,同时降低噪声干扰,实现高锌背景光谱信号预处理。

    基于测试体系优化的掩蔽峰重现方法

    公开(公告)号:CN106124728B

    公开(公告)日:2017-04-19

    申请号:CN201610460142.5

    申请日:2016-06-22

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明公开一种基于测试体系优化的掩蔽峰重现方法,基于两个目标,设计实验并获取实验数据,通过分析目标中极谱参数与测试体系中试剂种类与用量之间的统计特性,建立其函数关系。其次,根据被测离子的个数n,将该多目标优化问题划分为n‑1个子多目标优化问题P(i),通过比较不同i值时离子之间分离度SD(i)和PHR(i)确定i的值。然后,应用目标互为约束法将多目标优化问题转化为单目标优化问题,基于fmincon函数求解该问题。最后,分析多目标优化问题的Pareto前沿,最终得到测试体系中试剂的种类与用量范围。本发明得到的测试体系具有宽线性度、低检测限、高精确度和精密度。适合用于高浓度比背景下掩蔽峰重现时测试体系的优化。

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