一种基于InAs QD-HEMT结构的力敏测试系统

    公开(公告)号:CN115855325A

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202111612348.2

    申请日:2021-12-27

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明公开一种基于InAs QD‑HEMT结构的力敏测试系统,包括试验箱体10,试验箱体10的底座9上放置陶瓷托盘1,陶瓷托盘1内放置InAs QD‑HEMT结构样品2;InAs QD‑HEMT结构样品2的源极通过导线11与直流稳压电源3相连,漏极欧姆接触处通过导线11高精度万用表4相接;试验箱体10上安装有进气阀7和出气阀8,进气阀7与密封压力罐6相连;进气阀7和出气阀8通过压力控制器5控制动作;试验箱体10内安装压力传感器,压力传感器输出信号至压力控制器5。本发明对研制新一代MEMS力敏传感器有着重要的意义和价值,将服务于未来各个领域,特别是灵敏度要求较高的电子、国防、航空航天等力敏测量。

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