垂直型氮化镓功率器件及其制备方法

    公开(公告)号:CN113299749B

    公开(公告)日:2022-04-15

    申请号:CN202110697529.3

    申请日:2021-06-23

    Abstract: 本发明公开了一种垂直型氮化镓功率器件,包括硅衬底、缓冲层、模板层、掩膜层和漏极电极;掩膜层中设六边形窗口;六边形窗口在掩膜层上生长第一n+GaN层,融合位置有空隙缺陷;第一n+GaN层上覆盖n‑GaN扩散层;n‑GaN扩散层上设p‑GaN势垒层、第二n+GaN层;六边形窗口、空隙缺陷的上设垂直沟槽;垂直沟槽内设第一绝缘层;垂直沟槽和第一绝缘层上覆盖第二绝缘层;第二绝缘层上覆盖栅极电极,栅极电极的顶面与第二n+GaN层的顶面齐平;第二绝缘层的开口中设置源极电极。本发明还公开了一种垂直型氮化镓功率器件的制备方法。本发明能够降低缺陷密度,不易形成垂直漏电通道,异质外延应力小,器件可靠性极高。

    一种超表面透镜以及包含该超表面透镜的空间光调制器

    公开(公告)号:CN112925121A

    公开(公告)日:2021-06-08

    申请号:CN202110107317.5

    申请日:2021-01-26

    Abstract: 本发明公开了一种超表面透镜,依次包括介质层、导电层和电光调制材料层,电光调制材料层上设置若干互不联通的凹槽,凹槽内填充有金属电极;超表面透镜还包括电源,电源包括若干脉冲电压源,脉冲电压源的正极端与金属电极电性相连,负极端与导电层电性相连并接地,两两相邻的金属电极上加载的脉冲电压源的电压值互不相同。本发明还公开了一种空间光调制器,包括激光器和上述超表面透镜,超表面透镜设于激光器上。本发明能够通过电调构成超表面透镜的调制材料折射率,实现通过超表面透镜的光束的空间指向、光学焦距以及数值孔径的动态调节。

    一种复合工程衬底及其制备方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115966462A

    公开(公告)日:2023-04-14

    申请号:CN202211665182.5

    申请日:2022-12-23

    Inventor: 范谦 倪贤锋 顾星

    Abstract: 本发明公开了一种复合工程衬底的制备方法,通过制备氮化铝陶瓷基底和内有阻挡层的硅衬底,分别在氮化铝陶瓷基底和上层硅衬底表面形成第一介质层和第二介质层,键合第一介质层和第二介质层,去除下层硅衬底和阻挡层,得到多晶的氮化铝陶瓷基底和单晶的硅衬底组合的复合工程衬底。上述复合工程衬底从下往上依次包括氮化铝陶瓷基底、组合介质层和硅衬底,组合介质层为电绝缘体。该复合工程衬底可以兼顾氮化铝陶瓷基底的高导热、同氮化物半导体材料热膨胀匹配以及硅衬底的外延生长兼容性、尺寸大等优点,提高了GaN功率器件的外延质量以及GaN功率器件的可靠性。

    一种半导体器件及其制备方法

    公开(公告)号:CN113594110A

    公开(公告)日:2021-11-02

    申请号:CN202110862262.9

    申请日:2021-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种半导体器件,包括多晶金刚石层,多晶金刚石层上覆盖单晶金刚石薄膜,单晶金刚石薄膜上依次堆叠介质层、缓冲层、势垒层和沟道层。本发明还公开了一种半导体器件的制备方法,包括以下步骤:在原始衬底上形成有牺牲层;在牺牲层上形成多晶金刚石层;在籽晶层上形成单晶金刚石薄膜;将籽晶层和单晶金刚石薄膜倒置并键合到多晶金刚石层上;将籽晶层从单晶金刚石薄膜上分离;去除原始衬底和牺牲层;在临时衬底上形成缓冲层;在单晶金刚石薄膜上形成介质层,将单晶金刚石薄膜与缓冲层键合;去除临时衬底;在缓冲层上形成势垒层和沟道层。本发明改善散热性能和稳定性能,提高电学性能,改善器件良率,简化制备工艺,降低生产成本。

    VCSEL单元单独可控的激光器

    公开(公告)号:CN111969414B

    公开(公告)日:2021-08-17

    申请号:CN202010868364.7

    申请日:2020-08-26

    Abstract: 本发明公开了一种VCSEL单元单独可控的激光器,包括驱动电路模块、VCSEL模块和微透镜模块,驱动电路模块和VCSEL模块电性连接,微透镜模块设于VCSEL模块上以实现光学聚焦;VCSEL模块包括VCSEL单元形成的VCSEL阵列和共阴极单元,共阴极单元设于VCSEL阵列的四周;VCSEL单元包括独立阳极和独立阴极,独立阴极均电性连接至共阴极单元,共阴极单元电性连接至驱动电路模块的地端,独立阳极电性连接至驱动电路模块的正极端。本发明能够单独控制各VCSEL单元,驱动电路模块、VCSEL模块和微透镜模块实现一体化集成式的空间堆叠,避免了部分VCSEL单元贴片高度不一致的问题。

    VCSEL单元单独可控的激光器

    公开(公告)号:CN111969414A

    公开(公告)日:2020-11-20

    申请号:CN202010868364.7

    申请日:2020-08-26

    Abstract: 本发明公开了一种VCSEL单元单独可控的激光器,包括驱动电路模块、VCSEL模块和微透镜模块,驱动电路模块和VCSEL模块电性连接,微透镜模块设于VCSEL模块上以实现光学聚焦;VCSEL模块包括VCSEL单元形成的VCSEL阵列和共阴极单元,共阴极单元设于VCSEL阵列的四周;VCSEL单元包括独立阳极和独立阴极,独立阴极均电性连接至共阴极单元,共阴极单元电性连接至驱动电路模块的地端,独立阳极电性连接至驱动电路模块的正极端。本发明能够单独控制各VCSEL单元,驱动电路模块、VCSEL模块和微透镜模块实现一体化集成式的空间堆叠,避免了部分VCSEL单元贴片高度不一致的问题。

    垂直型氮化镓功率器件及其制备方法

    公开(公告)号:CN113299749A

    公开(公告)日:2021-08-24

    申请号:CN202110697529.3

    申请日:2021-06-23

    Abstract: 本发明公开了一种垂直型氮化镓功率器件,包括硅衬底、缓冲层、模板层、掩膜层和漏极电极;掩膜层中设六边形窗口;六边形窗口在掩膜层上生长第一n+GaN层,融合位置有空隙缺陷;第一n+GaN层上覆盖n‑GaN扩散层;n‑GaN扩散层上设p‑GaN势垒层、第二n+GaN层;六边形窗口、空隙缺陷的上设垂直沟槽;垂直沟槽内设第一绝缘层;垂直沟槽和第一绝缘层上覆盖第二绝缘层;第二绝缘层上覆盖栅极电极,栅极电极的顶面与第二n+GaN层的顶面齐平;第二绝缘层的开口中设置源极电极。本发明还公开了一种垂直型氮化镓功率器件的制备方法。本发明能够降低缺陷密度,不易形成垂直漏电通道,异质外延应力小,器件可靠性极高。

    一种垂直结构LED芯片及其制备方法

    公开(公告)号:CN111697114A

    公开(公告)日:2020-09-22

    申请号:CN202010742093.0

    申请日:2020-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种垂直结构LED芯片及其制备方法,所述芯片包括第一n-GaN层、图形化反射层、第二反射层、第二n-GaN层、多量子阱层、p-GaN层和第二衬底;图形化反射层为间隔排列的凸形结构,图形化反射层为分布式布拉格反射镜。所述制法包括:在第一衬底上形成本征GaN层和第一n-GaN层;覆盖第一反射层;刻蚀形成图形化反射层;覆盖第二反射层;刻蚀暴露出第一n-GaN层未覆盖图形化反射层的表面;覆盖第二n-GaN层、多量子阱层、p-GaN层;将p-GaN层与第二衬底键合;剥离第一衬底、本征GaN层,露出第一n-GaN层。本发明出光效率高,能够有效缓解大电流注入时的电流拥堵效应,电流分布均匀。

    一种柔性电极及其制备方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119700128A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411911943.X

    申请日:2024-12-24

    Inventor: 范谦 顾星 倪贤锋

    Abstract: 本发明公开了一种柔性电极及其制备方法,柔性电极,包括若干组柔性电极单元,柔性电极单元包括支撑层和电极层,支撑层表面设置阵列分布的通孔一,电极层设置在通孔一和支撑层表面并形成网格状的凹槽;若干组柔性电极单元的通孔位置互相错开。制备方法,包括以下步骤:在衬底表面形成牺牲层;在牺牲层表面形成支撑层;对支撑层进行光刻、显影、固化,在支撑层上形成若干个通孔一;在所得物表面形成电极层,电极层上形成通孔二;对电极层处理,形成网格状的凹槽;采用UV光自底部照射衬底,牺牲层与衬底接触部分分解,衬底分离;用BOE溶液清洗,去除剩余牺牲层。本发明电极层形成网格状凹槽,有利于释放应力,柔性增强,不易损坏。

    一种GaN单晶衬底的制备方法

    公开(公告)号:CN117552111B

    公开(公告)日:2024-08-13

    申请号:CN202311533965.2

    申请日:2023-11-16

    Inventor: 范谦 顾星 倪贤锋

    Abstract: 本发明公开了一种GaN单晶衬底的制备方法,包括以下步骤:在基板上依次生长阻挡层、第一键合层,在衬底上依次生长GaN外延薄膜、第二键合层;将第一键合层与第二键合层键合,形成键合层,去除衬底,得到自下而上的基板、阻挡层、键合层、GaN外延薄膜;通过湿法腐蚀使得GaN外延薄膜远离键合层的一侧表面形成具有(10‑11)晶面的GaN岛;在GaN岛上,采用HVPE法在800~1000℃生长GaN,形成GaN厚膜;通过HF或BOE法腐蚀去掉键合层,将基板与GaN厚膜分离;对GaN厚膜做表面研磨、抛光处理。本发明基板与GaN厚膜的热膨胀系数一致,不存在失配,长厚时不容易碎裂,能够制备大尺寸GaN单晶。

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