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公开(公告)号：CN104730395A
公开(公告)日：2015-06-24
申请号：CN201510157385.7
申请日：2015-04-03
Applicant: 上海航天测控通信研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的测试系统及方法，调试设备通过通信接口电路发送测试配置数据至测试板，测试板上FPGA的中心控制单元接收测试配置数据进行初始化包括初始化被测器件的控制驱动模块。然后，调试设备通过通信接口电路发送控制指令至测试板，测试板上FPGA的中心控制单元接收控制指令，驱动测试流程包括输出控制信号至被测器件以及接收采集被测器件输出的测试数据。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107316655A
公开(公告)日：2017-11-03
申请号：CN201710592073.8
申请日：2017-07-19
Applicant: 上海航天测控通信研究所
IPC: G11B7/26
CPC classification number: G11B7/26
Abstract: 本发明提供了一种用于航天初始化数据存储的方法，包括：将初始化数据按预设FPGA程序的bit文件格式进行构造得到bit格式文件，构造时将初始化数据起始位置指向第二片程序存储器的头部位置；使用专用软件将构造的bit格式文件转化为mcs格式文件；将第二片程序存储器的PROM程序文件加载到商用FLASH器件中进行产品调试；S4：调试完毕后，将第二片程序存储器PROM程序文件烧入至一片程序存储器中进行最终状态固化。该方法使用XQR17V16程序存储器替代传统的航天专用数据存储器UT28F256LV用于初始化数据存储，使其存储容量提高64倍，成本下降10倍，经济价值高；且调试过程中数据可修改，使用方便。
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公开(公告)号：CN106776359B
公开(公告)日：2020-03-17
申请号：CN201611040185.4
申请日：2016-11-11
Applicant: 上海航天测控通信研究所
IPC: G06F12/06
Abstract: 本发明提供了一种NAND Flash坏块管理方法及系统，包括：若目标逻辑地址属于工作区，且为坏块，则目标物理地址等于备用区最高位地址减去偏移地址；对目标存储块进行操作之后检验目标存储块的状态，若目标存储块为坏块属于工作区，且标识为好块，则将从备用区最高位向低位顺序第一个标识为未用好块的存储块作为替换块，在映射表中修改该替换块的标识为已用好块，将该替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址和坏块标识写入映射表中；若目标逻辑地址属于工作区，且对应映射表中块状态标识为坏块，则先在映射表中将当前替换块的块状态标识修改为坏块，再将新替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址和坏块标识写入映射表中。
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公开(公告)号：CN107316655B
公开(公告)日：2019-08-09
申请号：CN201710592073.8
申请日：2017-07-19
Applicant: 上海航天测控通信研究所
IPC: G11B7/26
Abstract: 本发明提供了一种用于航天初始化数据存储的方法，包括：将初始化数据按预设FPGA程序的bit文件格式进行构造得到bit格式文件，构造时将初始化数据起始位置指向第二片程序存储器的头部位置；使用专用软件将构造的bit格式文件转化为mcs格式文件；将第二片程序存储器的PROM程序文件加载到商用FLASH器件中进行产品调试；S4：调试完毕后，将第二片程序存储器PROM程序文件烧入至一片程序存储器中进行最终状态固化。该方法使用XQR17V16程序存储器替代传统的航天专用数据存储器UT28F256LV用于初始化数据存储，使其存储容量提高64倍，成本下降10倍，经济价值高；且调试过程中数据可修改，使用方便。
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公开(公告)号：CN106776359A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611040185.4
申请日：2016-11-11
Applicant: 上海航天测控通信研究所
IPC: G06F12/06
Abstract: 本发明提供了一种NAND Flash坏块管理方法及系统，包括：若目标逻辑地址属于工作区，且为坏块，则目标物理地址等于备用区最高位地址减去偏移地址；对目标存储块进行操作之后检验目标存储块的状态，若目标存储块为坏块属于工作区，且标识为好块，则将从备用区最高位向低位顺序第一个标识为未用好块的存储块作为替换块，在映射表中修改该替换块的标识为已用好块，将该替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址和坏块标识写入映射表中；若目标逻辑地址属于工作区，且对应映射表中块状态标识为坏块，则先在映射表中将当前替换块的块状态标识修改为坏块，再将新替换块相对于备用区最高位地址的偏移地址和坏块标识写入映射表中。
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公开(公告)号：CN204536452U
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201520204951.0
申请日：2015-04-03
Applicant: 上海航天测控通信研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本实用新型提供了一种通用自动化元器件应用验证装置，该装置包括通用控制母板、专用被测元器件子板以及计算机，所述通用控制母板通过多种接口与专用被测元器件子板连接，所述专用被测元器件子板通过转接插座与被测元器件连接，所述计算机通过通信接口与通用控制母板连接实现自动化测试。本实用新型是一种通用元器件应用验证装置硬件设计。与现有技术相比，其优点和有益效果是：改变传统专用验证装置重复性设计的高成本、低效率的现状，提供一种通用化、自动测试的验证装置。满足我国元器件国产化应用进程加速、国产器件不断推陈出新、亟待验证的需求，工程运用效果好、应用方便，取得降低设计成本、提高验证效率的有益效果。
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