公开(公告)号：CN107819507A

公开(公告)日：2018-03-20

申请号：CN201711171382.4

申请日：2017-11-21

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 田宇 ,  金晔 ,  万晓光 ,  王炜 ,  奚廉承 ,  闵康磊 ,  王慧平 ,  屈毅 ,  徐佳俊

IPC: H04B7/185 ,  H04L12/24 ,  H04L12/26

Abstract: 本发明公开了一种针对卫星测控系统的多层次测试系统的配置方法及测试方法，包含了强制性的人机互动系统参数标校，严格划分的三层次软硬件组成，两层次双客户端的信息管理监测机制，以及实时数据查询与判读方式，还包含测试数据包的导出。本发明具有很好的通用性和良好的可移植性，可以应用于标准化型谱化的宇航产品的测试系统，提供灵活高效的测试解决方案，以满足卫星系统不断提升的可靠度需求。

公开(公告)号：CN107819507B

公开(公告)日：2020-06-05

申请号：CN201711171382.4

申请日：2017-11-21

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 田宇 ,  金晔 ,  万晓光 ,  王炜 ,  奚廉承 ,  闵康磊 ,  王慧平 ,  屈毅 ,  徐佳俊

IPC: H04B7/185 ,  H04L12/24 ,  H04L12/26

Abstract: 本发明公开了一种针对卫星测控系统的多层次测试系统的配置方法及测试方法，包含了强制性的人机互动系统参数标校，严格划分的三层次软硬件组成，两层次双客户端的信息管理监测机制，以及实时数据查询与判读方式，还包含测试数据包的导出。本发明具有很好的通用性和良好的可移植性，可以应用于标准化型谱化的宇航产品的测试系统，提供灵活高效的测试解决方案，以满足卫星系统不断提升的可靠度需求。

公开(公告)号：CN109408111A

公开(公告)日：2019-03-01

申请号：CN201811313290.X

申请日：2018-11-06

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 金晔 ,  田宇 ,  王炜 ,  万晓光 ,  屈毅 ,  闵康磊 ,  奚廉承 ,  秦奋 ,  陈龙 ,  罗小成

IPC: G06F8/71

Abstract: 本发明公开了一种针对空间应用的高可靠ASIC芯片参数配置方法，包括以下步骤：1)在FPGA的芯片内部划分一部分可编程存储区域，在其中存放参数配置数据，其功能逻辑、参数值、时序接口根据PROM接口要求进行一致化设计；2)在FPGA验证板上，针对PROM对ASIC进行多次参数读取校验验证；3)当完成在FPGA基础上进行的参数配置预验证完成后，将FPGA上划出的可编程存储区域中的参数区烧录至PROM芯片，参数区以外程序区域进行ASIC流片工作。本发明实现高可靠ASIC芯片参数配置，防止ASIC芯片在空间环境中SRAM单粒子翻转。