公开(公告)号：CN117176156A

公开(公告)日：2023-12-05

申请号：CN202311048405.8

申请日：2023-08-18

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 琚安安 ,  汪波 ,  马林东 ,  王烁 ,  陈凡 ,  孔泽斌 ,  王昆黍 ,  楼建设

IPC: H03M1/10

Abstract: 一种数模模数转换器单粒子瞬态效应测试装置及其方法，所述装置主要由程控电源、信号发生器、示波器、测试电路板、电流表组成、待测器件DUT和可编程门阵列FPGA模块组成。待测器件DUT焊接在测试电路板上，程控电源为测试电路板和待测器件提供正常工作需要的电流。程控电源的正极通过电线连接电流表输入端口，经过电流表的输出端口连接至电路板，以此来观察器件工作电流的变化情况。信号发生器通过同轴电缆连接测试电路板的SMA接口，为待测器件提供输入信号，输入信号为方波或者正弦波。待测器件的输出信号通过测试电路板的SMA接口利用同轴电缆连接到示波器，来显示输出的数字或模拟信号。FPGA模块同样焊接在测试电路板上，通过电路板上的金属布线与待测器件连接。

公开(公告)号：CN117113894A

公开(公告)日：2023-11-24

申请号：CN202311049359.3

申请日：2023-08-18

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 琚安安 ,  马林东 ,  王烁 ,  汪波 ,  陈凡 ,  孔泽斌 ,  王昆黍

IPC: G06F30/3308 ,  G06F30/337 ,  G06F30/398

Abstract: 本发明的一种电路结构的单粒子效应数值仿真方法，能够在不开展地面辐照试验的情况下，通过数值仿真得到电路结构中的单粒子效应响应情况。该方法主要利用计算机辅助仿真工具对电路结构进行结构和物理建模，并辅助以半导体测试方法提取真实电路结构的电学参数信息，完成对实际物理过程的仿真。首先测量集成电阻的物理尺寸，根据实际尺寸对集成电阻进行结构建模；接着为模型添加物理过程，使数值仿真根据物理模型求解；然后测量集成电阻电阻的实际电阻值，根据实际电阻值为建立的模型进行校准。最后优化模型的数值仿真求解过程，提高数值仿真的精度和速度，不需要对电阻器开展价格昂贵的辐照试验，避免了试验过程中的试验误差，成本低、操作简单。