公开(公告)号：CN115754683A

公开(公告)日：2023-03-07

申请号：CN202211643038.1

申请日：2022-12-20

Applicant: 上海晟矽微电子股份有限公司

Inventor： 吴骁

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/04

Abstract: 本公开涉及一种多端口芯片测试方法及装置，所述装置包括主机、开关组件、电平转换组件、端口切换组件，所述主机用于：建立端口切换组件中各个输入端口与各个输出端口的连接关系；根据测试信号的类型建立模拟测试通路或数字测试通路，其中，若测试信号的类型为模拟信号，则通过开关组件与端口切换组件的各个输入端口建立模拟测试通路；若测试信号的类型为数字信号，则通过开关组件和电平转换组件与所述端口切换组件的各个输入端口建立数字测试通路；发送所述测试信号到所述测试芯片进行测试，并接收所述测试芯片返回的结果信号。本公开实施例可以实现在不同电压环境下任意端口的切换，提高了芯片的测试效率，且可以避免可能发生的信号冲突问题。

公开(公告)号：CN117240365A

公开(公告)日：2023-12-15

申请号：CN202311318167.8

申请日：2023-10-11

Applicant: 上海晟矽微电子股份有限公司

Inventor： 吴骁 ,  罗启元

IPC: H04B10/40

Abstract: 本公开涉及一种光模块、光电芯片和电子设备，所述光模块包括第一基板、控制组件及光组件，所述控制组件及所述光组件设置在所述第一基板上，控制组件包括：总线及连接于所述总线的通信接口及多个功能单元，通信接口及各个功能单元能够通过总线建立两两之间的通信关系，光组件包括：光接收单元及光发送单元，所述光接收单元用于接收第一光信号，并将所述第一光信号转换为第一电信号后传输到所述通信接口，所述光发送单元用于从所述通信接口接收第二电信号，将所述第二电信号转换为第二光信号并发送。本公开实施例能够提升光模块运行的处理速度，能够极大的降低噪声和干扰，减少光模块布线及设备体积，在提升光模块可靠性的基础上降低设备成本。

公开(公告)号：CN115494369A

公开(公告)日：2022-12-20

申请号：CN202110673554.8

申请日：2021-06-17

Applicant: 上海晟矽微电子股份有限公司

Inventor： 吴骁 ,  于宏新 ,  张文荣

IPC: G01R31/28

Abstract: 本公开涉及一种芯片测试装置，所述装置包括控制模块、测试模块，控制模块根据控制信息实现对测试模块的控制，以使得测试模块对连接的至少一个待测芯片进行测试；测试模块，包括处理单元、测试单元、接口单元、供电及复位单元，处理单元用于与所述控制模块、测试单元及供电及复位单元通信，通过测试单元及接口单元将测试程序写入待测芯片并根据控制程序执行相应的测试，供电及复位单元用于当待测芯片出现死机情况时，执行多级复位管理，确定所述待测芯片出现死机的原因。本公开实施例可以对至少一个待测芯片进行快速、自动、准确测试，得到清晰、可靠的测试结果，人工干预少，成本低，效率高。

公开(公告)号：CN220730364U

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202322411823.0

申请日：2023-09-05

Applicant: 上海晟矽微电子股份有限公司

Inventor： 吴骁

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/02

Abstract: 本实用新型涉及测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试装置，所述芯片测试装置包括主机板、从机板、可变端口转接板、端口转换电路板及被测芯片电路板，所述主机板通过柔性电路板连接于所述从机板及所述可变端口转接板，所述可变端口转接板通过柔性电路板连接于所述从机板及所述端口转换电路板，所述端口转换电路板通过柔性电路板连接于所述被测芯片电路板，所述被测芯片电路板用于承载被测芯片，其中，所述可变端口转接板可插拔地连接于所述主机板、所述从机板及所述端口转换电路板。本实用新型实施例的测试装置提高了通用性、灵活性，降低了测试成本，各个通过柔性电路板连接，提高装置的柔韧性，提高散热能力、抗温能力。

公开(公告)号：CN215599311U

公开(公告)日：2022-01-21

申请号：CN202121357360.9

申请日：2021-06-17

Applicant: 上海晟矽微电子股份有限公司

Inventor： 吴骁 ,  于宏新 ,  张文荣

IPC: G01R31/28

Abstract: 本实用新型涉及一种芯片测试装置，所述装置包括控制模块、测试模块，控制模块根据控制信息实现对测试模块的控制，以使得测试模块对连接的至少一个待测芯片进行测试；测试模块，包括处理单元、测试单元、接口单元、供电及复位单元，处理单元用于与所述控制模块、测试单元及供电及复位单元通信，通过测试单元及接口单元将测试程序写入待测芯片并根据控制程序执行相应的测试，供电及复位单元通过开关单元选择第一单元、第二单元、第三单元、第四单元的任意一个或多个的输出电压对测试模块和/或待测芯片供电。本实用新型实施例可以对至少一个待测芯片进行快速、自动、准确测试，得到清晰、可靠的测试结果，人工干预少，成本低，效率高。