公开(公告)号：CN115462742A

公开(公告)日：2022-12-13

申请号：CN202211039833.X

申请日：2022-08-29

Applicant: 上海大学

Inventor： 林星羽 ,  陈相艳 ,  于瀛洁 ,  魏庆永 ,  柴璇煜 ,  应志军

IPC: A61B1/07 ,  A61B1/05 ,  A61B1/273 ,  A61B1/31 ,  A61B1/00 ,  A61B5/107 ,  G02B6/02

Abstract: 本发明涉及一种基于多芯光纤的空间形状感知及三维成像装置和方法。可通过一束组合多芯光纤同时实现两种功能，一种是空间形状感知，本发明的外层螺旋光栅光纤束可以通过光纤变形检测出光纤的曲率和挠率，再根据空间曲线重构算法进行空间形状的重建。另一种是三维成像，传统的内窥镜成像通常只能进行二维成像，而本发明借助计算成像技术，根据接收到的衍射图像通过迭代计算直接恢复目标组织相位信息，并且通过波前反衍技术，可以对目标组织实现三维成像。同时将不同时刻空间信息与成像信息进行数据融合，达到可视化表达。

公开(公告)号：CN114636382B

公开(公告)日：2024-03-19

申请号：CN202111222040.7

申请日：2021-10-20

Applicant: 上海大学

Inventor： 何婷婷 ,  常林 ,  于瀛洁 ,  陈柱 ,  应志军 ,  王陈

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明公开了一种适用于透明平行平板在任意测量位置下的四表面干涉测量方法及夹具导轨系统。通过基于四表面干涉测量方法下的最佳移相采样参数矩阵构建的方法，为任意测量位置下的透明平行平板测量提供最佳的移相采样参数，并通过对测量的硬件装置进行设计，使本发明方法更加有效的实施，从而使被测件测量位置不受传统多表面相位解调算法限制，在保证精度的前提下达到灵活的测量的目的。

公开(公告)号：CN113465539B

公开(公告)日：2024-03-19

申请号：CN202110760277.4

申请日：2021-07-06

Applicant: 上海大学

Inventor： 应志军 ,  于瀛洁 ,  陈鼎夫 ,  常林 ,  陈柱

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种基于干涉拼接的自动化圆柱度测量装置及方法。本装置包括干涉仪、计算全息片、自动测试件调整装备、激光位移传感器、控制电箱和计算机，利用激光位移传感器和自动控制系统对轴类零件进行摆正，通过分析干涉图像，利用闭环控制系统实现对当前子孔径下的轴类零件进行姿态补偿，实现干涉的零位测量。整个测量过程避免了人工操作时引入的环境误差，降低了测量结果的不确定度，减少了测量时间。相比传统圆柱度仪的测量结果，提高了轴向采样密度，给出高精度的元件表面轮廓误差图和其他更多的表征结果。

公开(公告)号：CN114636382A

公开(公告)日：2022-06-17

申请号：CN202111222040.7

申请日：2021-10-20

Applicant: 上海大学

Inventor： 何婷婷 ,  常林 ,  于瀛洁 ,  陈柱 ,  应志军 ,  王陈

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明公开了一种适用于透明平行平板在任意测量位置下的四表面干涉测量方法及夹具导轨系统。通过基于四表面干涉测量方法下的最佳移相采样参数矩阵构建的方法，为任意测量位置下的透明平行平板测量提供最佳的移相采样参数，并通过对测量的硬件装置进行设计，使本发明方法更加有效的实施，从而使被测件测量位置不受传统多表面相位解调算法限制，在保证精度的前提下达到灵活的测量的目的。

公开(公告)号：CN113465539A

公开(公告)日：2021-10-01

申请号：CN202110760277.4

申请日：2021-07-06

Applicant: 上海大学

Inventor： 应志军 ,  于瀛洁 ,  陈鼎夫 ,  常林 ,  陈柱

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种基于干涉拼接的自动化圆柱度测量装置及方法。本装置包括干涉仪、计算全息片、自动测试件调整装备、激光位移传感器、控制电箱和计算机，利用激光位移传感器和自动控制系统对轴类零件进行摆正，通过分析干涉图像，利用闭环控制系统实现对当前子孔径下的轴类零件进行姿态补偿，实现干涉的零位测量。整个测量过程避免了人工操作时引入的环境误差，降低了测量结果的不确定度，减少了测量时间。相比传统圆柱度仪的测量结果，提高了轴向采样密度，给出高精度的元件表面轮廓误差图和其他更多的表征结果。