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公开(公告)号：CN113021213B
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202110209493.X
申请日：2021-02-24
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明公开了一种展开式光学透镜的夹紧和储放装置，包括主架体单元、主压紧单元、辅助压紧单元、副架体单元、卡扣单元。通过本专利所设计的装置，可以一体式地实现被测件储放和夹紧，无需再使用别种夹持装置或者储放装置，降低了测量成本。通过所设计的主架体和副架体等结构，可以使得本发明所设计的装置呈现夹持状态和储放状态两种形式，功能多样，并且使用方便、简洁。
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公开(公告)号：CN112880569B
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202110098452.8
申请日：2021-01-25
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于腔长校正的多表面测量方法，能够实现腔长值的预先校正和被测件表面的精确测量，主要操作步骤包括腔长预先校正过程和测量过程；依次为：将被测件放置在预估位置A；采集预估干涉图；多点平均进行FFT计算；反算腔长值，并且进行腔长位置的校正；导轨及夹具校正；将被测件通过导轨放置在测量位置B；采集测量所需干涉图；算法处理及输出各表面的初始相位；消倾斜和解包裹；各个表面的面形计算。在所述的导轨及夹具校正和测量时，需要使用导轨和夹具系统，该系统主要部分包括：一个夹具主体、一个旋钮单元、三个按压头单元、一个导轨单元。本发明方法对被测件的腔长位置进行准确测量，从而使用移相算法达到精确的测量的目标。
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公开(公告)号：CN112880569A
公开(公告)日：2021-06-01
申请号：CN202110098452.8
申请日：2021-01-25
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于腔长校正的多表面测量方法，能够实现腔长值的预先校正和被测件表面的精确测量，主要操作步骤包括腔长预先校正过程和测量过程；依次为：将被测件放置在预估位置A；采集预估干涉图；多点平均进行FFT计算；反算腔长值，并且进行腔长位置的校正；导轨及夹具校正；将被测件通过导轨放置在测量位置B；采集测量所需干涉图；算法处理及输出各表面的初始相位；消倾斜和解包裹；各个表面的面形计算。在所述的导轨及夹具校正和测量时，需要使用导轨和夹具系统，该系统主要部分包括：一个夹具主体、一个旋钮单元、三个按压头单元、一个导轨单元。本发明方法对被测件的腔长位置进行准确测量，从而使用移相算法达到精确的测量的目标。
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公开(公告)号：CN115265393B
公开(公告)日：2025-02-21
申请号：CN202210560072.6
申请日：2022-05-23
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种数字散斑干涉微变形测量双模式装置，通过所设计的倒T字型导轨和倒T字型轨道槽，可以根据测量要求灵活地改变测量模式。本发明所设计的分光镜底座，分光镜底座上的弹簧夹具可以保证对不同大小分光镜的夹紧，分光镜底座上的调整旋钮可以调整分光镜的上下位置以保证分光镜与其他光学零件的准直。本发明所设计的物光光纤夹持器支持架和物光光纤安装板，可以根据被测物体所放置的位置旋转物光光纤所照射的角度。本发明通过便携的双模式集成测量系统实现对待测件表面微变形进行测量，提高了测量的效率，减少了测量时间和测量误差，可通过一套系统实现物体的轮廓检测和物体表面的微变形检测。
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公开(公告)号：CN113043227A
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202110210174.0
申请日：2021-02-24
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明公开了一种可实现表面旋转的调整架，包括上压紧单元、下旋转单元、圆架、下转动杆、上旋钮、方架、上盖、约束单元、底足单元和下压紧单元，所述上压紧单元和下压紧单元的两个压紧头和弹簧部件实现对被测件的夹紧，其中两套上压紧单元安装在圆架内上部两侧，利用圆架使被测件实现在被测件的前后表面进行旋转，并实现定位、夹紧和减振。在使用本发明调整架对被测件的夹持和表面旋转的过程中，因为使用了旋钮进行旋转以及通过相关部件进行约束，避免了被测件表面容易被污损的风险，避免了在多次调整倾斜和夹持位置的过程中纳入测量误差的可能，减少整体的结构振动，降低振动误差。
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公开(公告)号：CN114964033B
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202210134027.4
申请日：2022-02-14
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种使用波长移相法测量超表面形貌分布的方法。本发明方法操作步骤：利用波长移相干涉技术对超表面进行干涉图的采集处理：干涉图的移相采集及加权平均化处理、干涉图筛选有效区域、干涉图去除背景噪声。基于时域离散傅里叶变换校正移相值：抽取干涉图特征信号、基于多点时域光照互相关系数剔除无效特征信号、时域傅里叶变换求解移相频率。本发明算法简单，计算量小，求解精度高，对高精度测量超表面具有非常重要的意义。
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公开(公告)号：CN112880981B
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202110099724.6
申请日：2021-01-25
Applicant: 上海大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种自适应调节腔长的多表面干涉测量方法，通过对可移动夹具、运动系统和和导轨系统进行设计，使得被测件通过本发明所设计的调整架进行夹持时，一方面通过夹具等部件可以实现被测件的夹紧，另一方面通过运动系统和导轨系统对被测件的腔长进行自适应调整，准确得到被测件腔长值。硬件部分主要包括：可移动夹具、运动系统和导轨系统。测量算法实现部分包括输入的写入、所需腔长值的计算和位置的移动、干涉图的采集和初始相位的解调。能够实现对多表面被测件的各表面一次性测量，无需涂抹消光材料，并可以自适应移动腔长位置，进一步降低测量成本。
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公开(公告)号：CN113001424B
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202110177033.3
申请日：2021-02-07
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明公开了一种用于光学透镜的一体式夹持及夹紧机构，原理在于：通过对夹持和夹紧机构进行设计，使得夹持机构能够被手动控制，进而实现对被测件进行夹持，并且放置到夹具机构的主架体上进行被测件的夹紧与固定，从而免去了人为地对被测件进行手动拿取，降低纳入测量误差和被测件污损的可能性。一种用于光学透镜的一体式夹持及夹紧机构，主要结构包括：夹持臂、圆盘机构、卡架机构、底座、旋钮单元。
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公开(公告)号：CN113043227B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202110210174.0
申请日：2021-02-24
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明公开了一种可实现表面旋转的调整架，包括上压紧单元、下旋转单元、圆架、下转动杆、上旋钮、方架、上盖、约束单元、底足单元和下压紧单元，所述上压紧单元和下压紧单元的两个压紧头和弹簧部件实现对被测件的夹紧，其中两套上压紧单元安装在圆架内上部两侧，利用圆架使被测件实现在被测件的前后表面进行旋转，并实现定位、夹紧和减振。在使用本发明调整架对被测件的夹持和表面旋转的过程中，因为使用了旋钮进行旋转以及通过相关部件进行约束，避免了被测件表面容易被污损的风险，避免了在多次调整倾斜和夹持位置的过程中纳入测量误差的可能，减少整体的结构振动，降低振动误差。
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