-
公开(公告)号:CN103832967A
公开(公告)日:2014-06-04
申请号:CN201410085898.7
申请日:2014-03-10
Applicant: 上海先进半导体制造股份有限公司
IPC: B81C1/00
Abstract: 本发明提供一种MEMS传感器的加工方法,包括:提供硅衬底,在其正、背面分别依次形成刻蚀阻挡层、第一电极层;对衬底正面的第一电极层作图形化;在其上分别依次形成牺牲层、第二电极层;对衬底正面的第二电极层作图形化;透过图形化的第二电极层刻蚀牺牲层形成接触孔,并在接触孔底部和第二电极层上分别形成金属接触;从衬底的背面依次刻蚀第二电极层、牺牲层、第一电极层及刻蚀阻挡层,并继续刻蚀衬底直至正面的刻蚀阻挡层才停止,形成开口向下的深槽;在衬底的正面上方涂覆光刻胶作保护,留出后续需要被刻蚀牺牲层的区域;透过图形化的第二电极层刻蚀牺牲层,并去除深槽底部的刻蚀阻挡层。本发明简化了工艺步骤,保证顺利流片并实现良好的成品率。
-
公开(公告)号:CN103832967B
公开(公告)日:2016-03-16
申请号:CN201410085898.7
申请日:2014-03-10
Applicant: 上海先进半导体制造股份有限公司
IPC: B81C1/00
Abstract: 本发明提供一种MEMS传感器的加工方法,包括:提供硅衬底,在其正、背面分别依次形成刻蚀阻挡层、第一电极层;对衬底正面的第一电极层作图形化;在其上分别依次形成牺牲层、第二电极层;对衬底正面的第二电极层作图形化;透过图形化的第二电极层刻蚀牺牲层形成接触孔,并在接触孔底部和第二电极层上分别形成金属接触;从衬底的背面依次刻蚀第二电极层、牺牲层、第一电极层及刻蚀阻挡层,并继续刻蚀衬底直至正面的刻蚀阻挡层才停止,形成开口向下的深槽;在衬底的正面上方涂覆光刻胶作保护,留出后续需要被刻蚀牺牲层的区域;透过图形化的第二电极层刻蚀牺牲层,并去除深槽底部的刻蚀阻挡层。本发明简化了工艺步骤,保证顺利流片并实现良好的成品率。
-