公开(公告)号：CN112582290B

公开(公告)日：2024-03-08

申请号：CN202011022280.8

申请日：2020-09-25

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 海老池勇史 ,  野口贵也 ,  伊藤嘉教 ,  生田美和 ,  高山幸一

IPC: H01L21/66 ,  H01L21/67 ,  G01R31/26

公开(公告)号：CN101779298B

公开(公告)日：2012-02-01

申请号：CN200880102611.X

申请日：2008-06-02

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 越前谷大介 ,  中村真之 ,  安田顺一 ,  三浦辉人 ,  生田美和

IPC: H01L31/042 ,  H01L31/04

CPC classification number: H01L31/0504 ,  Y02E10/50

Abstract: 本发明提供一种不会使每个单位面积的发电量降低，能够降低太阳能电池单元的破裂的太阳能电池板。是一种将表面电极片(104)连接到里面电极片(105)，将多个太阳能电池单元(1)串联连接的太阳能电池板，片间连接部(107)相对于片-单元间连接部(106)没有重合地在太阳能电池单元的排列方向(162)隔着间隙(108)配置，并且片间连接部的一端部(107a)存在于非受光面(3)的区域内。

公开(公告)号：CN112582290A

公开(公告)日：2021-03-30

申请号：CN202011022280.8

申请日：2020-09-25

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 海老池勇史 ,  野口贵也 ,  伊藤嘉教 ,  生田美和 ,  高山幸一

IPC: H01L21/66 ,  H01L21/67 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明的目的是提供半导体测试装置，其可同时测试多个半导体装置，即使一部分半导体装置发生问题，也能继续对其他元件特性良好的半导体装置进行测试。本发明所涉及的半导体测试装置将具有漏极电极(7a)(高电压端子)和源极电极(7c)(低电压端子)的半导体装置(7)作为被测试物，具有：电路切断开关(13)(第1开关)，其将电源(1)的低压侧与源极电极(7c)连接；以及漏极源极间开关(14)(第2开关)，其一端与漏极电极(7a)连接，另一端与源极电极(7c)连接。在针对某半导体装置(7)检测出大于或等于基准值的漏电流的情况下，在将与该半导体装置(7)连接的电路切断开关(13)控制为断开后，将漏极源极间开关(14)控制为接通。

公开(公告)号：CN101779298A

公开(公告)日：2010-07-14

申请号：CN200880102611.X

申请日：2008-06-02

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 越前谷大介 ,  中村真之 ,  安田顺一 ,  三浦辉人 ,  生田美和

IPC: H01L31/042 ,  H01L31/04

CPC classification number: H01L31/0504 ,  Y02E10/50

Abstract: 本发明提供一种不会使每个单位面积的发电量降低，能够降低太阳能电池单元的破裂的太阳能电池板。是一种将表面电极片(104)连接到里面电极片(105)，将多个太阳能电池单元(1)串联连接的太阳能电池板，片间连接部(107)相对于片-单元间连接部(106)没有重合地在太阳能电池单元的排列方向(162)隔着间隙(108)配置，并且片间连接部的一端部(107a)存在于非受光面(3)的区域内。