寿命推定电路及使用了该寿命推定电路的半导体装置

    公开(公告)号:CN106531704B

    公开(公告)日:2019-10-22

    申请号:CN201610827463.4

    申请日:2016-09-14

    IPC分类号: H01L23/34

    摘要: 寿命推定电路(3)具有:温度检测器(4),其对功率元件部(1)的温度进行检测;拐点检测部(5),其基于温度检测器(4)的输出信号(Vt),对功率元件部(1)的温度变化的拐点进行检测;运算部(8),其求出本次检测出的拐点处的功率元件部(1)的温度与前次检测出的拐点处的功率元件部(1)的温度之差的绝对值;计数电路(9),其对温度差的绝对值达到阈值温度(Tth)的次数进行计数;以及信号发生部(10),其在计数电路(9)的计数值(C)达到阈值次数(Cth)的情况下,输出表示功率元件部(1)的寿命已至的警告信号(AL)。

    寿命推定电路及使用了该寿命推定电路的半导体装置

    公开(公告)号:CN106531704A

    公开(公告)日:2017-03-22

    申请号:CN201610827463.4

    申请日:2016-09-14

    IPC分类号: H01L23/34

    摘要: 寿命推定电路(3)具有:温度检测器(4),其对功率元件部(1)的温度进行检测;拐点检测部功率元件部(1)的温度变化的拐点进行检测;运算部(8),其求出本次检测出的拐点处的功率元件部(1)的温度与前次检测出的拐点处的功率元件部(1)的温度之差的绝对值;计数电路(9),其对温度差的绝对值达到阈值温度(Tth)的次数进行计数;以及信号发生部(10),其在计数电路(9)的计数值(C)达到阈值次数(Cth)的情况下,输出表示功率元件部(1)的寿命已至的警告信号(AL)。(5),其基于温度检测器(4)的输出信号(Vt),对