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公开(公告)号：CN104603731A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201380045261.9
申请日：2013-08-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F3/046
CPC classification number: G06F3/03545 , G06F3/0418 , G06F3/046
Abstract: 提供一种触摸屏装置，所述触摸屏装置包括：电磁谐振(EMR)感测面板，用于感测来自电子笔的输入；显示面板，被安装在EMR感测面板的顶层部分之上，所述显示面板被配置为从外部接收控制信号或图形信号并显示对应图像；支架，以平板的形式形成于EMR感测面板和显示面板的下面，并具有从EMR感测面板和显示面板的对应部分延伸的延伸部分。软磁性材料或绝缘体被设置在所述延伸部分之上。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103579500A
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201310349372.0
申请日：2013-08-12
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H01L45/08 , H01L27/2409 , H01L27/2481 , H01L45/1233 , H01L45/145
Abstract: 本发明提供了电阻开关材料元件以及采用该电阻开关材料元件的器件。电阻开关材料元件包括设置在第一电极与第二电极之间的电阻开关材料层以及设置在电阻开关材料层与第一和第二电极中的任一个之间的自整流层。
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公开(公告)号：CN105976349B
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN201610135002.0
申请日：2016-03-10
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种使用高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)图像的晶粒分析方法和系统。所述方法涉及分析纳米晶粒，包括：接收HRTEM图像，针对HRTEM图像设置每个具有预定大小的局部窗口，对通过局部窗口确定的像素数据执行至少一次快速傅里叶变换以计算局部转换数据，基于局部转换数据分析晶粒。
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公开(公告)号：CN103579500B
公开(公告)日：2017-10-13
申请号：CN201310349372.0
申请日：2013-08-12
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H01L45/08 , H01L27/2409 , H01L27/2481 , H01L45/1233 , H01L45/145
Abstract: 本发明提供了电阻开关材料元件以及采用该电阻开关材料元件的器件。电阻开关材料元件包括设置在第一电极与第二电极之间的电阻开关材料层以及设置在电阻开关材料层与第一和第二电极中的任一个之间的自整流层。
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公开(公告)号：CN104603731B
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：CN201380045261.9
申请日：2013-08-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F3/046
CPC classification number: G06F3/03545 , G06F3/0418 , G06F3/046
Abstract: 提供一种触摸屏装置，所述触摸屏装置包括：电磁谐振(EMR)感测面板，用于感测来自电子笔的输入；显示面板，被安装在EMR感测面板的顶层部分之上，所述显示面板被配置为从外部接收控制信号或图形信号并显示对应图像；支架，以平板的形式形成于EMR感测面板和显示面板的下面，并具有从EMR感测面板和显示面板的对应部分延伸的延伸部分。软磁性材料或绝缘体被设置在所述延伸部分之上。
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