公开(公告)号：CN120020811A

公开(公告)日：2025-05-20

申请号：CN202411645181.3

申请日：2024-11-18

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金炳鲁 ,  蔡秀炫 ,  金度翰 ,  孙永训 ,  李芝庸 ,  崔仁寿

IPC: G06F30/27 ,  G06N3/126

Abstract: 一种电子设备包括Plackett‑Burman设计(PBD)执行电路、遗传算法(GA)执行电路和控制电路。PBD执行电路被配置为生成初始实验设计(DOE)集，该DOE集包括关于外部设备的存储器设备的半导体特性的多个初始案例。GA执行电路被配置为将前一代DOE集转换为下一代DOE集。控制电路被配置为将初始DOE集发送到外部设备，从外部设备接收初始特性评估，基于初始特性评估生成起始DOE集，并控制遗传算法以起始DOE集的实验结果作为输入而被执行。多个初始案例中的每个初始案例对应于影响半导体特性的多个设置值的组合。

公开(公告)号：CN117238352A

公开(公告)日：2023-12-15

申请号：CN202310671424.X

申请日：2023-06-07

Applicant: 三星电子株式会社 ,  首尔大学校产学协力团

Inventor： 姜釉 ,  蔡秀炫 ,  朴钟闵 ,  章峻琪 ,  李芝庸 ,  沈秀姸 ,  埃盖·弗拉基米尔·弗拉基米罗维奇

IPC: G11C29/10

Abstract: 提供了一种存储器测试装置，包括命令特征向量提取器和地址特征向量提取器。命令特征向量提取器基于多个存储器单元之中的存储器单元上执行的命令提取命令特征向量。地址特征向量提取器基于指示执行所述命令的存储器单元的位置的地址相关信息提取地址特征向量。