半导体装置
    1.
    发明公开
    半导体装置 审中-公开

    公开(公告)号:CN118488709A

    公开(公告)日:2024-08-13

    申请号:CN202410097746.2

    申请日:2024-01-23

    Abstract: 公开了一种半导体装置。所述半导体装置包括:下电路图案,设置在基底上;公共源极板(CSP),设置在下电路图案上;沟道连接图案,设置在CSP上;牺牲层结构,设置在CSP上并且与沟道连接图案间隔开;支撑层,设置在沟道连接图案和牺牲层结构上;第一栅电极结构和第二栅电极结构,包括堆叠在支撑层上并且彼此间隔开的栅电极;第一沟道,设置在CSP上,其中,第一沟道延伸穿过第一栅电极结构、支撑层和沟道连接图案;以及接触插塞,延伸穿过第二栅电极结构、支撑层、牺牲层结构和CSP,其中,接触插塞电连接到下电路图案。

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