公开(公告)号：CN101000881B

公开(公告)日：2010-09-29

申请号：CN200710001658.4

申请日：2007-01-09

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李钟文 ,  李浚泽

IPC: H01L21/66 ,  G01R31/00 ,  G01R31/26 ,  G01M11/00

CPC classification number: G01N21/9501

Abstract: 本发明公开了一种光学测试装置、相关的测试方法和操作方法、以及相关联的探测卡，所述探测卡被适配来光学地测试图像传感器。光学测试装置的照射源通过探测卡向所述图像传感器提供光学测试信号。所述光学测试信号具有由在与探测卡相关联的基准图像传感器和控制单元之间形成的反馈回路而变化地限定的性质，所述控制单元连接在所述基准图像传感器和照射源之间。

公开(公告)号：CN101000881A

公开(公告)日：2007-07-18

申请号：CN200710001658.4

申请日：2007-01-09

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李钟文 ,  李浚泽

IPC: H01L21/66 ,  G01R31/00 ,  G01R31/26 ,  G01M11/00

CPC classification number: G01N21/9501

Abstract: 本发明公开了一种光学测试装置、相关的测试方法和操作方法、以及相关联的探测卡，所述探测卡被适配来光学地测试图像传感器。光学测试装置的照射源通过探测卡向所述图像传感器提供光学测试信号。所述光学测试信号具有由在与探测卡相关联的基准图像传感器和控制单元之间形成的反馈回路而变化地限定的性质，所述控制单元连接在所述基准图像传感器和照射源之间。