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公开(公告)号:CN103488817A
公开(公告)日:2014-01-01
申请号:CN201310393511.X
申请日:2013-09-02
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种变形大型单反射面天线的馈源位置补偿方法,主要解决单反射面天线因热变形引起的电性能下降问题。其方案是:(1)根据天线结构参数,建立未变形单反射面天线有限元模型;(2)计算在其上加载温度载荷后发生变形的节点坐标;(3)提取变形后主反射面的节点坐标和单元信息,建立天线热变形主反射面的电磁模型;(4)在天线热变形主反射面的电磁模型中,计算未补偿时的电性能;(5)利用遗传算法,对变形后主反射面的变形参量进行优化,由变形参量得馈源位置及指向,计算天线补偿后的电性能;(6)比较补偿前后天线的电性能,判断电性能提高量是否满足要求,是,为最佳馈源位置;否,重新设置优化参数再计算,直至满足要求。
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公开(公告)号:CN101252225B
公开(公告)日:2011-02-09
申请号:CN200810017889.9
申请日:2008-04-03
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种反射面天线面板变形数据的预处理方法。该方法以反射面天线的变形数据为处理对象,根据工程中的不同数据类型选择:扇形面板采样点三维坐标、三角形单元结点坐标、四边形单元结点坐标三种不同的数据预处理方法;引入面积坐标和极坐标简化任意单元的积分区域;使用Gauss积分公式提高数值积分效率;以天线的半功率波瓣宽度为参照,估计方向图的波瓣数目;选取每个波瓣的离散点数目,确定方向图的离散精度;根据方向图的离散精度重复数值积分计算,最终绘制出变形反射面天线的完整的远场方向图。仿真结果表明,本发明不仅能有效地减少数据处理时间,而且能提高天线方向图计算精度,可应用于在多种工程情况下对反射面天线变形数据的预处理。
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公开(公告)号:CN101958459A
公开(公告)日:2011-01-26
申请号:CN201010289295.0
申请日:2010-09-24
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种平板裂缝天线阵几何建模方法,主要是解决现有几何建模方法通用性差和建模周期长的缺点。其建模步骤是:首先根据平板裂缝天线结构局部相似性的特点,将天线拆分成许多组件;然后通过循环每个组件的结构参数信息,建立每个组件的几何模型并平移到相应的空间位置上;最后根据各组件与子阵的所属关系,合并获得整个平板裂缝天线的几何模型。本发明具有通用性强和建模效率高的优点,可用于大口径平板裂缝天线的参数化建模。
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公开(公告)号:CN101281552A
公开(公告)日:2008-10-08
申请号:CN200810018002.8
申请日:2008-04-18
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种双反射面天线系统的机电综合网格划分方法。其具体过程是:由双反射面天线的结构分析模型,分别提取主面网格、副面网格和馈源网格信息;根据天线工作频率的上限,将网格变换为规则的深度图像;根据主面、副面和馈源的结构形式选择标准网格的形式,并进行均匀细化;然后通过质心坐标变换得到与深度图像相适应的映射网格;最后由映射网格在对应的深度图像上采样,分别形成双反射面天线主面、副面和馈源的三维网格,进行电磁分析计算。本发明不仅解决了双反射面天线结构与电磁分析时网格划分要求脱节,及主面、副面和馈源网格形式不统一的问题,而且能显著提高电磁分析的精度与效率,可用于双反射面天线的计算机辅助分析与设计。
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公开(公告)号:CN101252223A
公开(公告)日:2008-08-27
申请号:CN200810017887.X
申请日:2008-04-03
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种平板裂缝天线阵面平面度的确定方法,主要解决现有方法没有考虑在实际工况中阵面平面度的变形误差和制造误差对电性能影响的问题。本发明的方法以天线结构力学分析为基础,根据所构建的阵面平面度变形误差和制造误差与电磁场远场方向图的函数关系式;分析了结构受力引起的阵面平面度变形误差对电性能的影响关系,同时也分析了阵面平面度制造误差对电性能的影响关系;依据所分析的误差对电性能的影响关系,通过优化的过程合理的分配变形误差和制造误差的比重,以实现对平板裂缝天线阵面平面度比较准确的确定。本发明可用于指导平板裂缝天线阵面平面度的加工、制造以及结构设计,提高平板裂缝天线的整体性能。
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公开(公告)号:CN119627455A
公开(公告)日:2025-03-14
申请号:CN202411905619.7
申请日:2024-12-23
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种折纸反射阵天线分块布局方法,解决了现有技术中反射阵单元周期性、对称性、规则性的分布特征与折纸构型的非周期性、非对称性、非规则性之间的不适配问题;该方法包括:完成布局前的准备工作,依次对折纸反射阵内的各面板进行独立布局设计;面板的独立布局设计包括:生成初始布局,根据初始布局确定单元类型,删除板外单元,保留板内单元;对于相交单元,建立布局设计模型,优化变量为相交单元中心位置偏移量,约束条件为偏移后的相交单元不与折痕和相邻单元相交,并以最小化所有相交单元偏移量平方和为优化目标;此方法在规避折痕的同时补偿了电磁波到达面板边缘的相位,减小了折痕对天线电磁性能的负面影响。
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公开(公告)号:CN118607138A
公开(公告)日:2024-09-06
申请号:CN202410655088.4
申请日:2024-05-24
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种折痕对薄膜反射阵天线单元的影响分析及布局设计方法,涉及空间可展开天线技术领域,解决了现有技术中薄膜展开后留有的折痕变形对天线单元特性的影响问题;该方法包括:获取带折痕的薄膜天线的初始天线阵列,并确定初始天线阵列的天线单元;采用有限元方法对带折痕的薄膜天线进行展开特性分析,得到分析结果;利用其确定不同载荷下薄膜展开特性的建模结果;再建立带折痕的天线单元电磁分析模型,并对天线单元电磁分析模型进行折痕分析,得到相位误差量;利用相位误差量对初始天线阵列的相位进行误差修正,得到修正后的天线阵列;该方法实现了通过分析折痕影响关系,为后续电性能较优的反射阵天线设计提供理论依据和指导。
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公开(公告)号:CN114036753B
公开(公告)日:2024-02-23
申请号:CN202111322330.9
申请日:2021-11-09
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F30/20 , G06F111/02
Abstract: 本发明公开了球面共形天线不确定性对功率方向图影响的区间分析方法,包括以下步骤:S1创建阵列天线功率方向图的分析模型;S2阵因子分析;S3单元因子分析;S4计算功率方向图;S5对球面的功率方向图进行区间分析,本发明适用于通信技术领域,用代理模型表示球面贴片天线方向图(作为阵元)的闭式区间公式,避免区间单元因子的复杂推导;在天线设计期间和天线原型制造之前广泛使用该容差分析方法来预测可能对辐射性能的影响天线结构中的误差/容差,以保证天线在“运行中”工作;与传统的统计方法相比,该方法大大节省了时间和计算资源。
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公开(公告)号:CN109190151B
公开(公告)日:2023-02-24
申请号:CN201810811739.9
申请日:2018-07-23
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F30/27 , G06N3/126 , H04B7/0408 , H04B7/06 , G06F111/04 , G06F111/06 , G06F111/10
Abstract: 本发明涉及用于微波无线能量传输系统的近似平顶主波束的设计方法,包括:(1)根据口径场分布函数,计算发射天线远场处的基本场强方向图;(2)构造平顶主波束场强方向图函数Eflat‑top(θ);(3)定义平顶主波束的描述函数及确定最小二乘法曲线拟合的目标函数;(4)运用最小二乘法,求得平顶主波束场强方向图函数Eflat‑top(θ);(5)计算波束收集效率和接收天线上的边缘锥削;(6)采用如下优化模型来优化目标函数,来获得最优的波束收集效率和最优的接收天线边缘锥削值;(7)解得设计变量X;(8)根据设计变量X和Pareto前端图,可得到最优的波束收集效率和接收天线边缘锥削值,以及平顶主波束场强方向图函数Eflat‑top(θ)。
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公开(公告)号:CN115408771A
公开(公告)日:2022-11-29
申请号:CN202210990659.0
申请日:2022-08-18
IPC: G06F30/15 , G06F30/28 , B64F5/60 , G06F113/28 , G06F119/14
Abstract: 本发明提出一种高空超长航时大展弦比一体化无人飞行平台设计方法,从整体一体化的角度进行考虑整流天线的全平台设计,充分考虑各个总体、气动、结构等参数的传递性和关联性,而进入详细设计阶段,即可以采用一体化平台约束下的分部件设计以加快迭代流程。本发明中,通过一体化的思路分解约束条件和设计指标,在平台和天线上进行交互设计,最终实现了一体化下的模块化研发,整流天线以一体化模块的形式与平台结合,也即通过简单的连接关系即可将天线与平台完整的组成一个整体系统。
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