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公开(公告)号:CN111220481A
公开(公告)日:2020-06-02
申请号:CN202010072424.4
申请日:2020-01-21
申请人: 大连理工大学
IPC分类号: G01N3/20
摘要: 本发明公开了一种三层复合纸各层面内弹性模量的测试方法,包括以下步骤:准备3种试样;将3种试样分别切成标准弯曲试样,并测试弯曲刚度K;测试每一层材料的厚度;根据多层复合梁的弯曲特性,得到包含纸芯层弹性模量E1、表面浸渍层弹性模量E2和粘接层弹性模量E3的三元一次方程,进而求解得到各层弹性模量。本发明直接采用成品复合纸进行测试,过程中无需将复合纸各层剥离,因此,操作简单;本发明不存在剥离过程中材料变形过大而发生材料性能变化,测量结果能真实反应材料性能。本发明通过弯曲模量反演获得各层弹性模量,弯曲应力和复合纸面内方向一致,得到的是复合纸面内方向的弹性模量,避免了现有方法用于结构分析可能存在的偏差。
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公开(公告)号:CN111189379A
公开(公告)日:2020-05-22
申请号:CN202010037837.9
申请日:2020-01-14
申请人: 大连理工大学
摘要: 本发明公开了一种基于双点旋转摩擦的内腔表面粗糙度在位检测方法,将带有摩擦球的摩擦组件和微型直流无刷电机集成在一起作为指形探头,通过机械运动部件将指形探头送达指定测量表面。调整好指形探头与测量表面位置后,指形探头上的摩擦球将按设定的法向载荷压在测量表面,最后电机带动摩擦球在测量表面旋转摩擦,通过反馈的电机电流大小来推定表面粗糙度的大小。一方面由于设备结构简单,环境要求不高,很容易集成到机床等设备上实现在位测量;另外一方面直流无刷电机可以做到很小(直径毫米量级),所以集成的指形探头可以做成指形大小,适合于内腔表面的测量。本发明的摩擦球易于更换,且对力传感器的精度要求不高,造价相对较低。
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公开(公告)号:CN107505248B
公开(公告)日:2019-07-16
申请号:CN201710718588.8
申请日:2017-08-21
申请人: 大连理工大学
IPC分类号: G01N15/10
CPC分类号: G01N15/10
摘要: 本发明公开了一种纳米切深高速单点划擦试验装置及其试验方法,所述装置包括工作台、气浮转台、试件夹具、试件、Z向进给装置、纳米运动平台、力传感器和划擦工具,所述试件的待划擦位置制有长度、高度可控的微凸结构。本发明在划擦速度方面从μm/s提升至m/s,真实地还原了超精密磨削过程中磨粒的加工速度。本发明在高速划擦条件下准确采集不同纳米切深条件下的划擦力信号,划擦力‑划擦深度对应关系明确。本发明在试件表面构造微凸结构,避免了金刚石针尖在整个晶圆表面留下很长划痕,在较短划痕内提供了丰富的试验数据,极大地提高了单位划擦长度内有效信息的含量,有利于后续的划痕分析和残留划痕的特征识别,保证了划擦工具的完整性。
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公开(公告)号:CN109594119A
公开(公告)日:2019-04-09
申请号:CN201811513696.2
申请日:2018-12-11
申请人: 大连理工大学
摘要: 本发明公开了一种电致化学抛光装置及其工作方法,所述的装置包括隔振光学平台、线型滑台、电极系统、基准平晶、真空陶瓷吸盘、调平基板、微分测头和压电陶瓷偏转台。本发明采用粗调和精调相结合,调平精度高、范围大,可以对不同厚度的材料进行抛光;本发明使用柔性波纹管传递扭矩,降低了由于电极转动受力不均对下方液膜厚度均一性造成的影响,此外,柔性波纹管还可以减缓与减速电机和线型滑台相连的保持架上装配结构引起的振动对下端电极的影响,可以显著提高抛光工件的质量;本发明采用直线轴承和导向轴代替传统技术中的拨叉结构,可以极大地减小电极系统与其他部件的摩擦力,避免了电极在转动过程中导致贵重电极与工件划擦而损坏的技术难题。
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公开(公告)号:CN108381331A
公开(公告)日:2018-08-10
申请号:CN201810241094.X
申请日:2018-03-22
申请人: 大连理工大学
摘要: 本发明公开了一种平面零件全局修形加工装置和方法,所述的装置包括表面车平机构、表面沟槽车削机构和工具盘机构。所述的方法,包括以下步骤:获得完整工具盘下平面零件材料去除率;确定工具盘沟槽参数以及修形加工时间;加工环形沟槽;平面零件修形加工。由于本发明通过采用沟槽工具盘的设计,改变工件表面材料去除率,实现了确定性可控修形,便于实现自动化生产,提高加工效率;由于本发明通过表面车平机构进行工具盘平面加工,提高了工具盘精度,减小了由于工具盘面形精度恶化导致平面零件面形恶化,从而保证了工件加工精度;由于本发明通过采用工件表面实际材料去除率预测,实现了采用符合修形零件材料特性的工具盘,提高加工效率和精度。
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公开(公告)号:CN106215984A
公开(公告)日:2016-12-14
申请号:CN201610290922.X
申请日:2016-05-04
申请人: 大连理工大学
IPC分类号: B01L3/00
CPC分类号: B01L3/50273 , B01L3/502707 , B01L2300/0809 , B01L2400/0424
摘要: 本发明涉及一种基于介电泳作用使流体如液滴以及细胞等减速的微流控芯片,属于微流控芯片技术领域。基于介电泳作用的微流控芯片,包括基底和设置于其上并与之键合的主体结构,所述主体结构包括用于流体流通的微流控管道,在基底上,在所述微流控管道外侧相对设置电极I和电极II,所述电极I和电极II靠近微流控管道的一侧为方波状,另一侧为连续带状。本发明特点不仅是在原有的微流控输运管道外侧增加了具有特殊作用的电极,通过电极的设计,达到控制液滴以及细胞等运动的目的,更在于电极布置在微流道两侧,并没有伸入到微流道中,通过一种主动控制方法,实现对单分散液滴、生物分子以及微小颗粒的无损控制。
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公开(公告)号:CN118031843A
公开(公告)日:2024-05-14
申请号:CN202410236895.2
申请日:2024-03-01
申请人: 大连理工大学
摘要: 本发明公开了一种抛光垫面形和正交网格沟槽在位测量方法,在一次测量过程中,利用每组采集数据中的标准块数据段拟合出机床的倾斜角度,有效的消除了每组数据中机床旋转时产生的倾覆误差,以消除了倾覆误差的标准块数据段为参考,将每组面形高度数据进行平移,有效的消除了抛光盘跳动误差,相较于采用气浮转台、液体静压转台等高精度转台,该设计成本较低;本发明利用两组夹角不为45°倍数的抛光垫面形数据,有效地识别出抛光垫正交网格沟槽结构,测量分析耗时短、效率高,相较于用一条半径数据代替整盘面形的数据处理方法,本发明测量得到了抛光垫正交沟槽结构,在分析工件接触压力分布时拥有更精确的抛光垫面形。
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公开(公告)号:CN117984223A
公开(公告)日:2024-05-07
申请号:CN202410344433.2
申请日:2024-03-25
申请人: 大连理工大学
摘要: 本发明公开了一种低刚度薄壁齿圈端面磨削工装,包括电永磁吸盘、微调精密升降平台、弧形夹块和平面度测量装置,所述微调精密升降平台和弧形夹块各3个,3个微调精密升降平台和3个弧形夹块等间距交替放置在电永磁吸盘的表面上。本发明通过将传统的端面吸附装夹改变为通过齿圈圆柱面装夹,将装夹力由轴向改变为径向,将误差转移到了加工非敏感方向,可以迅速实现齿圈定位,提高齿圈的加工效率;端面不会在较大的磁力下产生变形和误差复映问题,并且装夹力不会对磨削端面工序精度产生影响。本发明采用电永磁吸盘进行装夹,避免了装夹传统夹紧方式装夹位置的变形问题,提高了端面磨削生产效率。
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公开(公告)号:CN117161965A
公开(公告)日:2023-12-05
申请号:CN202311060792.7
申请日:2023-08-22
申请人: 大连理工大学
摘要: 本发明公开了一种抛光垫真实接触状态的原位测量装置及其使用方法,所述装置包括基座、加载机构、Z向进给机构和观测机构,所述基座为中空圆管结构,所述加载机构安装在基座内的下部,所述Z向进给机构安装在基座内的中上部,所述观测机构通过Z向进给机构安装在基座内。本发明利用光学显微镜直接获得抛光垫的真实接触状态图像,测量结果更加准确可靠。本发明测量时只需要将装配好装置放置于抛光垫表面,待测量结束后移除,整个测量过程不破坏抛光垫,不影响后续的抛光工艺。本发明通过砝码块和托码套筒嵌套,可以保证加载的均匀性。本发明通过批量处理真实接触状态图像提取接触特征信息,可以实时分析化学机械抛光状态并指导材料去除稳定性控制。
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公开(公告)号:CN115626260A
公开(公告)日:2023-01-20
申请号:CN202211117543.2
申请日:2022-09-14
申请人: 大连理工大学
IPC分类号: B63B71/00
摘要: 本发明公开了一种适用于船舶艉轴的实验加载装置,包括实验用艉轴、径向加载机构和配重盘;所述径向加载机构包括两组加载缸,两组加载缸互相垂直安装在加载支座上。所述配重盘包括质量圆盘、质量块和导轨滑块。本发明通过加载缸和配重盘的组合方式,通过调节伺服电机转矩转速改变加载缸输出力的大小和频率,从而模拟艉轴径向所受的不同大小的负荷和激振力;配重盘模拟螺旋桨的悬重,其上安装偏心质量块在转动时模拟螺旋桨安装偏心造成的离心力。本发明通过调节质量块的大小和位置,对应标注的刻度位置可方便进行偏载力的定量调节,可实现大的偏载量;通过调节加载缸输出力的大小和频率,便于操作人员进行操作。
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