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公开(公告)号：CN118385799A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410570662.6
申请日：2024-05-09
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种降低小型表贴晶体振荡器内部水汽含量的封口工艺方法，解决了小型表贴晶体振荡器内部水汽含量高的问题。一种降低小型表贴晶体振荡器内部水汽含量的封口工艺方法，包括步骤：确认焊封室内露点温度低于‑60℃，开始真空烘烤；真空烘烤完成后，焊接封口。本发明有效降低了小型表贴晶体振荡器内部的水汽含量，减小了石英谐振器老化的质量吸附效应和内部水汽释放效应，满足了晶体振荡器可靠性方面的需求。
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公开(公告)号：CN118174677A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410426801.8
申请日：2024-04-10
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例公开了一种带阻滤波器，包括：主线路，电信号通过主线路流过带阻滤波器；谐振器组件，谐振器组件包括多个晶体谐振器，各个晶体谐振器的第一接线端与主线路连接，各个晶体谐振器的第二接线端接地；电感组件，电感组件包括多个电感，各个电感的第一接线端与主线路连接，各个电感的第二接线端接地，对于任意一个晶体谐振器的第一接线端，均有至少一个电感的第一接线端与其连接；电容组件，电容组件包括多个电容，各个电容串联安装于主线路，任意两个相邻的晶体谐振器的第一接线端之间均设有一个电容。通过本发明，解决了相关技术中的带阻滤波器的滤波精度不佳的技术问题。
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公开(公告)号：CN114384096B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202111659785.X
申请日：2021-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种用于表贴晶体元器件的X射线照相治具及设备。该治具包括底座、可动定位板、弹性元件以及活动翻板。底座的上表面设置有凹槽，凹槽底部设置有侧面拍照置槽；可动定位板可滑动地设置于凹槽内；弹性元件固定设置于底座与可动定位板之间；活动翻板可翻转地设置于可动定位板与第一侧壁之间，以用于将表贴晶体元器件从正面翻转至侧面，活动翻板上设置有正面拍照置槽。采用该治具对表贴晶体元器件正面进行X射线照相后，可以很方便地把表贴晶体元器件从正面转换到侧面位置进行X射线照相，操作简单方便，无需对表贴晶体元器件进行夹持，进而不容易对表贴晶体元器件造成损伤，能够提高表贴晶体元器件的生产效率。
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公开(公告)号：CN117206211A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202310680355.9
申请日：2023-06-09
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: B07C5/344
Abstract: 本发明提供了一种提高时钟振荡器可靠性的筛选方法，步骤包括：对一批时钟振荡器的每只产品分别测试和记录电性能参数值；对每只时钟振荡器按照筛选试验的要求进行多次筛选试验；再次测试并记录时钟振荡器的电性能参数，并剔除不合格产品；完成所有筛选试验，对比频率准确度总变化，剔除频率准确度总变化不合格产品；进行该批次时钟振荡器的批次间的频率准确度参数一致性计算，若满足则提交该批次。此方法可以筛选出并剔除一致性差的时钟振荡器，提高了整批时钟振荡器的可靠性。
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公开(公告)号：CN112285455B
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202010959590.6
申请日：2020-09-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种引线元器件通用测试装置，包括：底架，所述底架包括：载板，所述载板包括：用于放置元器件的限位槽；压边板，所述压边板用于对放置于所述底架上的元器件进行固定；所述限位槽底部包括贯穿载板底部的引线过孔，将元器件引线朝下穿过所述引线过孔并放入所述限位槽内，所述引线过孔和限位槽的双重作用，用于限制元器件向四周运动，防止元器件引线承受外力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116722835A
公开(公告)日：2023-09-08
申请号：CN202310659471.2
申请日：2023-06-05
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请实施例公开一种晶体滤波器及其制作方法，滤波器包括：第一基座、第一单片晶体滤波器和第二单片晶体滤波器；第一单片晶体滤波器和第二单片晶体滤波器分别包括：第二基座和结合固定在第二基座上的石英振子，第二基座包括有第一引脚、第二引脚和第三引脚，第一引脚、第二引脚和第三引脚分别与石英振子连接；第一单片晶体滤波器的第一引脚和第二单片晶体滤波器的第一引脚分别作为晶体滤波器的输入端和输出端，第一单片晶体滤波器的第二引脚和第二单片晶体滤波器的第二引脚连接且分别与耦合电容的输入端连接。本发明大大减少了组成滤波器所用的构件数量，从而大大减小了滤波器的体积，提高了滤波器的抗振性和可靠性，可完成高精度的滤波功能。
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公开(公告)号：CN114429931A
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN202111644607.X
申请日：2021-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H01L21/687
Abstract: 本发明公开一种夹簧载盘辅助装载治具，包括：夹簧载盘承载底座、阵列插针板和推动组件。阵列插针板固定连接于夹簧载盘承载底座，阵列插针板上设置多个插针。推动组件连接于夹簧载盘承载底座，推动组件具有推块，推块能沿夹簧载盘承载底座平移，以推动放置于阵列插针板上的夹簧载盘移动。夹簧载盘可平铺于推动组件上，推动组件的插针可以插接于夹簧载盘上各簧片拨孔上实现对簧片的牵动，当推块推动夹簧载盘时，可完全解除夹簧载盘上的各簧片的夹持力，从而使基座可从夹簧载盘上轻易拾取，最终可实现通过配置移栽装置移载装载操作批量自动化，减少和去除手工装载拾取操作，提高基座装载拾取移栽的易操作性和操作效率。
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公开(公告)号：CN114414910A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111533907.0
申请日：2021-12-15
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种表贴晶振的可靠性筛选方法，包括：对表贴晶振进行电性能筛选测试，获取初始测试数据；对所述表贴晶振进行力学筛选测试；对所述表贴晶振进行热学筛选测试；对所述表贴晶振进行常温电性能参数终测筛选测试；对所述表贴晶振进行高低温测试筛选测试；对表贴晶振进行外观检查非破坏性筛选测试；根据上述筛选测试结果与初始测试数据的比对结果，筛选出符合要求的表贴晶振。
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公开(公告)号：CN108169651B
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN201711174137.9
申请日：2017-11-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请实施例提供一种时钟晶体振荡器检测方法，包括整体检测过程、开封检测过程，所述整体检测过程包括以下步骤：用显微镜外观检查；X光检查、电流电压特征测试、密封测试、颗粒碰撞试验、超声扫描显微镜检测；所述开封检测包含以下步骤：显微镜检查、扫描电镜晶片检测、晶片功能测试、金相显微镜芯片检测、芯片功能测试、扫描电镜芯片内部检测步骤。此检测流程按照先非破坏性检测后破坏性检测的方法，缩短了失效检测步骤，提高了失效检测的效率和准确性。通过此方法的应用，可以达到在生产、试验和使用过程中提高器件质量和可靠性的目的。
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公开(公告)号：CN109021859B
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN201810649123.6
申请日：2018-06-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: C09J9/02
Abstract: 本发明公开一种导电胶的搅拌方法，包括：基于导电胶的回温要求准备导电胶材料；基于导电胶的使用需求对导电胶材料进行称重；分别对搅拌阶段和脱泡阶段设置搅拌参数，搅拌参数包括自转速度和公转速度；将导电胶材料放入搅拌设备，基于搅拌参数对导电胶材料进行搅拌。本发明中的导电胶的搅拌方法，采用公转和自转同时在对导电胶进行充分搅拌，使得导电胶物料在料杯内受到离心力的作用，沿矢量方向产生的比重分离运动与导电胶自重所产生向上推动作用将气泡分离出来，大大减少单位面积内的空洞数量，可大大增加振子的剪切强度，解决了电阻一致性差的问题，提高了产品的可靠性、抗震、抗冲击等特性。
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