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公开(公告)号：CN119438751A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411477711.8
申请日：2024-10-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种近场扫描方法、装置、设备、存储介质和程序产品。方法包括：获取二维网格中各第一扫描点的电磁场信息，二维网格根据目标扫描区域确定，第一扫描点的个数小于二维网格中的总网格点数；根据各电磁场信息确定各第一扫描点的梯度信息和注意力值，梯度信息用于表示目标扫描区域中电磁场变化满足预设阈值的方向，注意力值用于聚焦电磁场强度满足预设阈值的区域；根据各梯度信息和注意力值确定下一次扫描的多个第二扫描点，直至扫描次数满足预设条件；根据二维网格中各扫描点的电磁场信息确定目标扫描区域的电磁场分布。采用本方法能够提高近场扫描的效率。
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公开(公告)号：CN118534382A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410623271.6
申请日：2024-05-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁检测组件和系统。电磁检测组件包括：信号传输部和检测部；其中，检测部包括与信号传输部电性连接的第一检测组件和与第一检测组件连接的第二检测组件；第一检测组件所在的检测平面与第二检测组件所在的检测平面相交。其中，第一检测组件用于检测待测组件的待测电磁场，以生成第一射频信号；第二检测组件用于检测待测组件的待测电磁场，以生成第二射频信号；其中，第二射频信号所属的频段带宽大于第一射频信号所属的频段带宽；信号传输部用于将第一射频信号和第二射频信号传输给分析设备。采用本申请，可以提高电场检测的灵敏度。
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公开(公告)号：CN118534381A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410622877.8
申请日：2024-05-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁检测组件和系统。电磁检测组件包括：信号传输部和检测部；其中，检测部包括与信号传输部电性连接的主检测环路和与主检测环路电性连接的至少一个辅检测环路；其中，主检测环路用于检测待测组件的待测电磁场，以生成第一射频信号；辅检测环路用于检测所述待测电磁场，以生成第二射频信号；信号传输部用于将第一射频信号和各辅检测环路的第二射频信号传输给分析设备。采用本申请，可以提高电磁场检测的灵敏度。
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公开(公告)号：CN118465641A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410667066.X
申请日：2024-05-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种探头、磁场探测设备、磁场探测方法、磁场探测装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。该探头包括多个探测环路和多层电路板，且多层电路板包括接地层和非接地层，接地层和非接地层中各层电路板上均部署一个探测环路，接地层中的探测环路的一端与接地层的接地通孔连接，接地层中的探测环路的另一端通过接地层的连接通孔与非接地层的探测环路连接。其中，各探测环路，用于探测电子系统形成的磁场信号。采用本探头能够在不影响探头灵敏度的同时，减小探头体积，进而提升探头的探测场景。
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公开(公告)号：CN112561821B
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202011499241.7
申请日：2020-12-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种基于近场扫描的芯片表面电磁数据降噪方法，包括以下步骤：通过对芯片表面进行近场扫描得到电磁数据；对得到的电磁数据进行信号提取，得到电磁图像；对电磁图像进行局部均值估计和局部噪声方差估计；对电磁图像中的所有相似块的每个像素进行加权平均处理，得到真实图像的基础估计；使用基础估计对电磁图像进行维纳降噪，得到局部估计；使用加权平均对所有得到的局部估计进行聚合，计算出真实图像的最终估计，从而得到最终的降噪图像。本发明的方法能够针对近场扫描的复杂噪声进行有效地降噪。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112698251B
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202011260068.5
申请日：2020-11-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R33/02
Abstract: 本发明涉及电磁检测技术领域，公开了一种磁场无源探头和磁场探测装置，第一接地层和第二接地层的端部上分别设有第一探测开口和第二探测开口，第一探测开口的位置和第二探测开口的位置相对应；第一信号层和第二信号层上分别设有第一探测线和第二探测线，第一探测线的一端与第一信号层相连接，另一端围绕第一探测开口的位置形成第一探测线圈；第二探测线的一端与第一信号层相连接，另一端围绕第二探测开口的位置形成第二探测线圈；第一探测线和第二探测线轴对称设置，且第一探测线圈与第二探测线圈相连接，用于探测磁场信号。在保证磁场无源探头的内部结构完全对称的情况下，可通过差分运算消除电场的干扰，从而实现较高的电场抑制比。
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公开(公告)号：CN113779498B
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202110885606.8
申请日：2021-08-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种离散傅里叶矩阵重构方法、装置、设备和存储介质。方法包括：获取随机样本数据，并获取前次迭代所得到的矩阵参数；将随机样本数据与矩阵参数进行线性相乘，得到频域输出信号；基于频域输出信号进行域变换处理，得到重构时域信号；基于随机样本数据和重构时域信号，确定当次迭代所对应的损失，根据当次迭代所对应的损失调整矩阵参数；进入下一次迭代，并将调整后的矩阵参数作为下一次迭代所对应的前次迭代所得到的矩阵参数，返回将随机样本数据与矩阵参数线性相乘，得到频域输出信号的步骤继续执行，直至达到停止条件时停止；基于最后迭代所得到的矩阵参数，确定离散傅里叶重构矩阵。采用本方法能够提高信号数据处理的效率。
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公开(公告)号：CN115754424A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211303345.5
申请日：2022-10-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种远场电压的确定方法、装置、设备、介质和程序产品。所述方法包括：对待扫描对象进行近场扫描，获取近场电磁场数据，进一步根据近场电磁场数据，获取目标近场电压，根据目标近场电压、近场电压和远场电压之间的映射关系，确定目标远场电压。采用本方法能够提高远场电压确定的准确性，进而提高远场电磁场对器件的耦合作用的准确性。
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公开(公告)号：CN114325167A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111449999.4
申请日：2021-11-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种微带装置、测量系统、确定方法、装置和存储介质。所述微带装置包括：底座；导体带，设置于所述底座上，所述导体带与所述底座具有间隙。通过使微带装置的导体带与底座之间具有间隙，从而使得导体带上方和下方的介质均为空气，使得信号在导体带周围的传输速度相同，进而使得微带装置的传输模式为理想的TEM模式。因此，通过微带装置代替微带线，利用微带线法来得到校准因子，探头可以进行准确的电场耦合表征，从而得到准确的校准因子。
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公开(公告)号：CN113779498A
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN202110885606.8
申请日：2021-08-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种离散傅里叶矩阵重构方法、装置、设备和存储介质。方法包括：获取随机样本数据，并获取前次迭代所得到的矩阵参数；将随机样本数据与矩阵参数进行线性相乘，得到频域输出信号；基于频域输出信号进行域变换处理，得到重构时域信号；基于随机样本数据和重构时域信号，确定当次迭代所对应的损失，根据当次迭代所对应的损失调整矩阵参数；进入下一次迭代，并将调整后的矩阵参数作为下一次迭代所对应的前次迭代所得到的矩阵参数，返回将随机样本数据与矩阵参数线性相乘，得到频域输出信号的步骤继续执行，直至达到停止条件时停止；基于最后迭代所得到的矩阵参数，确定离散傅里叶重构矩阵。采用本方法能够提高信号数据处理的效率。
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