一种自准直仪
    61.
    实用新型

    公开(公告)号:CN205580406U

    公开(公告)日:2016-09-14

    申请号:CN201620358714.4

    申请日:2016-04-26

    Abstract: 本实用新型公开了一种自准直仪,所述自准直仪包括光源、分束镜、准直透镜、闪耀光栅和接收器,所述光源输出的激光依次经过分束镜、准直透镜和闪耀光栅,所述闪耀光栅在光路中以利特罗角度放置,闪耀光栅产生的n级衍射光依次经过准直透镜、分束镜和接收器,其中n为非零整数,闪耀光栅产生的0级衍射光被待测面反射后,依次经过闪耀光栅、准直透镜、分束镜和接收器,本实用新型的自准直仪带有可以产生实时基准光束的闪耀光栅,可以实现示值漂移的自动、实时、精确修正,大大降低高精度自准直仪对环境的要求。

    基于机器人的平面面形子孔径拼接干涉测量装置

    公开(公告)号:CN209991947U

    公开(公告)日:2020-01-24

    申请号:CN201921158225.4

    申请日:2019-07-22

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于机器人的平面面形子孔径拼接干涉测量装置,包括干涉仪、工业机器人以及坐标系建立组件,所述干涉仪能够通过连接工装安装在工业机器人上,所述坐标系建立组件包括参考件和校准件,所述校准件包括能够安装在工业机器人上的连接盘和设置在连接盘一侧的校准杆,所述校准杆的延伸方向与连接盘的连接盘安装轴线平行,该校准杆与连接盘距离最远的一点为校准点。本实用新型具有结构灵活简单、应用范围广、高效安全、环境适应性好等优点,兼具子孔径干涉测量的高空间分辨率等优点,可以同时满足各种重力姿态下的大口径光学元件平面面形高精度在位测量问题,可以进行表面未经过镀膜或打毛等处理的平面面形测量。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    基于空间坐标测量的多点放样工装

    公开(公告)号:CN209140872U

    公开(公告)日:2019-07-23

    申请号:CN201821962663.1

    申请日:2018-11-27

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于空间坐标测量的多点放样工装,包括水平底板和空心柱筒,在水平底板上开设有放样锥定位孔,空心柱筒的内腔与放样锥定位孔连通,在内腔中配置有中心放样锥和放样锤,在水平底板上布置有放样锥条形引导槽,各个放样锥条形引导槽均沿空心柱筒的径向延伸,并均配置有角点放样锥;空心柱筒的上端配置有球形反射器,在水平底板的上表面设置有两个坐标测量孔,在水平底板上安装有调节部件。采用本实用新型提供的基于空间坐标测量的多点放样工装,通过一次调整就能够快速地在地面做出各个放样标识,有效提高大型科学装置地面支撑架支腿安装时放样的效率与精度,进而提高大型科学装置地面支撑架安装的效率与精度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    米量级反射镜自动化柔性装校平台

    公开(公告)号:CN208872932U

    公开(公告)日:2019-05-17

    申请号:CN201821822847.8

    申请日:2018-11-06

    Abstract: 本实用新型公开了米量级反射镜自动化柔性装校平台,其中,米量级反射镜自动化柔性装校平台包括底座和可转动地安装在底座上部的转台,转台包括装配面板和顶升板,在装配面板上沿顶升板的周向穿设有能够靠近或远离顶升板的定位销,在顶升板的上表面设置有柔性洁净垫,在装配面板的两侧均设置有锁螺丝组件。采用本实用新型提供的米量级反射镜自动化柔性装校平台,不仅解决了米量级反射镜的自动化柔性批量装校的问题,避免了人工干预引入的洁净问题,大大提高了装校效率,还使反射镜各处的预紧力均匀,减小了反射的波前误差,提高反射镜的装校质量和稳定性,同时可以推广应用到其他精密光学元件的装校工艺上。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    光学元件离线精密装校用洁净型自动化夹具库

    公开(公告)号:CN208847922U

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201821823184.1

    申请日:2018-11-06

    Abstract: 本实用新型公开了一种光学元件离线精密装校用洁净型自动化夹具库,包括夹具库外罩、洁净系统、夹具存放架和自动取放机构,夹具库外罩侧壁上设置有夹具取放口和可开合的库门,洁净系统设置在夹具库外罩上,夹具存放架设置在夹具库外罩的内部,该夹具存放架上放置有多个夹具定位机构,自动取放机构设置在夹具库外罩的内部。采用本实用新型提供的光学元件离线精密装校用洁净型自动化夹具库,不仅通过洁净系统能够保持夹具库内部的洁净,而且能够全自动实现光学元件夹具的输送和回收,完全没有人员干涉,提高了装校效率,大大减少了粉尘的产生,提高了环境和光学元件表面的洁净度,并且,光学元件夹具转运过程稳定可靠,效率高。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种大径厚比光学元件的多功能夹持系统

    公开(公告)号:CN206920674U

    公开(公告)日:2018-01-23

    申请号:CN201720575980.7

    申请日:2017-05-23

    Abstract: 本实用新型公开了一种大径厚比光学元件的多功能夹持系统,该夹持系统包括元件框、光学元件、夹持模块和压紧螺钉;光学元件通过夹持模块的固定在元件框内,夹持模块通过压紧螺钉固定在元件框上,夹持模块通过夹持模块安装面与元件框固定连接,夹持模块的光学元件接触面与光学元件的表面接触并传递压力,夹持模块能够实现光学元件接触面相对于夹持模块安装面在X轴方向转动、Y轴方向转动以及Z轴方向平动三个自由度的自适应调节,进而保证夹持模块的光学元件接触面与光学元件时刻处于面接触的状态,有利于控制光学元件面型。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种阵列式透镜焦距一致性测量装置

    公开(公告)号:CN205580709U

    公开(公告)日:2016-09-14

    申请号:CN201620358016.4

    申请日:2016-04-26

    Abstract: 本实用新型公开了一种阵列式透镜焦距一致性测量装置,所述测量装置包括固定架、点光源、圆形达曼光栅、会聚透镜和电荷耦合元件,所述点光源位于阵列式透镜的一侧,所述圆形达曼光栅、会聚透镜和电荷耦合元件位于阵列式透镜的另一侧,所述点光源发出光依次经过阵列式透镜、圆形达曼光栅和会聚透镜,并且聚焦在电荷耦合元件上,本实用新型采用待测阵列式透镜跟标准阵列式透镜的比对测量,利用一阶圆环达曼光栅对准直光束的高度敏感性,通过直接测量电荷耦合元件上的2个衍射环间距,即可计算出阵列式透镜焦距的一致性结果,结构简单、体积小巧、成本低廉、计算简便、结果准确度高。

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