一种用于电子封装器件红外热成像无损检测的实验装置

    公开(公告)号:CN203216860U

    公开(公告)日:2013-09-25

    申请号:CN201320158700.4

    申请日:2013-04-01

    Abstract: 本实用新型为一种用于电子封装器件红外热成像无损检测的实验装置,由红外热像仪夹持部分和待测试样载台两部分组成。所述红外热像仪夹持部分由底座、固定螺栓、立柱、紧固螺栓、顶架、手柄、螺杆、活动支架、热像仪组成;红外热像仪夹持部分能够实现热像仪在垂直方向上拍摄,并能够上下自由活动,且装置稳定安全;试样载台部分用于固定待测试样的卡座采用高低卡座设计,满足了不同尺寸待测试样的实验要求;三维移动台的螺栓上标有刻度,扭动螺栓可以实现待测试样在三维方向上定量移动,有利于保障实验测量精度。本实用新型装置稳固,操作简单,能够实现待测试样的三维定量移动。

    一种磨抛机用试件夹具
    54.
    实用新型

    公开(公告)号:CN202894983U

    公开(公告)日:2013-04-24

    申请号:CN201220356816.4

    申请日:2012-07-21

    Abstract: 本实用新型公开了一种适用于磨抛机用的试件夹具,属于材料加工领域的新型工具。包括支架,支架包括横梁和两根立柱;还包括2个底座,调节螺栓,转动轴承,弹簧,两侧开有滑槽的方形螺纹套,2个带导向块的方形立柱及2个夹头;本实用新型解决了手持磨削小型试件不安全且不够准确的问题。使用时将支座用螺栓固定在磨抛机上后,支架横跨磨抛机工作转盘上方,装夹好试件后,调整夹头高度使压缩弹簧有一定的压缩量,通过弹簧的弹力使试件在打磨的过程中始终与磨抛机工作转盘紧密接触。

    一种再布线QFN封装器件
    58.
    实用新型

    公开(公告)号:CN202996820U

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201220700196.1

    申请日:2012-12-17

    CPC classification number: H01L24/97 H01L2224/49171 H01L2224/73265

    Abstract: 本实用新型公开了一种再布线QFN封装器件。该器件包括:芯片载体配置于封装器件的中央部位;多个引脚配置于芯片载体四周,围绕芯片载体呈多圈排列;绝缘填充材料配置于芯片载体与引脚之间,以及引脚与引脚之间;IC芯片通过粘贴材料配置于芯片载体上;第一金属材料层围绕IC芯片排列;引脚通过再布线层实现与第一金属材料层的连接;IC芯片通过金属导线连接至第一金属材料层;第二金属材料层配置于芯片载体和引脚的下表面;塑封材料包覆密封上述IC芯片、粘贴材料、金属导线、第一金属材料层、再布线层和芯片载体,仅仅暴露出配置于芯片载体和引脚下表面的第二金属材料层。该器件具有高的I/O密度、低的制造成本和良好的可靠性。

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