-
-
公开(公告)号：CN110637377B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN201880032667.6
申请日：2018-03-26
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 米特克·巴科夫斯基·霍尔特里德 , 马茨·丹尼尔松 , 许成
IPC: H01L31/115 , H01L27/146 , H01L29/06
Abstract: 提供了一种X射线传感器(21)，具有有源检测器区域，该有源检测器区域包括在传感器的第一侧的多个检测器二极管(22)，并且结终端(23)布置在传感器的第二对侧。通常，这意味着结终端(23)从有源检测器区域所在的顶侧移动到传感器的底侧，允许利用检测器二极管到传感器的最边缘来充分利用顶侧处的有源检测器区域。
-
公开(公告)号：CN110383108B
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN201880016121.1
申请日：2018-02-05
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 克里斯特·斯文森
Abstract: 本发明提供了一种X射线探测器系统(1)，包括多个探测器元件(2)，每个探测器元件连接到各自的光子计数通道(4，PCC)，用于提供至少一个光子计数输出；以及读出单元(9)，连接到输出光子计数输出的光子计数通道。该X射线探测器系统(1)的特征是：光子计数通道(4，PCC)的至少一个子集的每一个包括至少两个光子计数子通道(40‑1至40‑M)，每个光子计数子通道提供至少一个光子计数输出，并具有整形滤波器(6)，整形滤波器是被配置为具有不同的整形时间；具有不同整形时间的整形滤波器的光子计数子通道是适用于计数不同能量水平的光子。而且，对于每个光子计数通道(PCC)，读出单元(9)是被配置为从光子计数子通道选择光子计数输出。
-
公开(公告)号：CN110494769B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN201880023539.5
申请日：2018-03-26
Applicant: 棱镜传感器公司
IPC: G01T1/24 , A61B6/03 , G01N23/04 , G01N23/083 , G01T1/36
Abstract: 提供了一种光子计数x射线探测器系统(200)，包括多个光子计数通道(220)和至少一个反重合电路(230)，每个反重合电路连接这些通道中的至少两个通道并且被配置为探测所连接的通道中的重合事件。x射线探测器系统(200)还包括反重合控制器(240)，该反重合控制器被配置为基于光子计数信息随着从阈值计数率开始渐增的计数率通过逐渐适应所述至少一个反重合电路的操作来控制所述至少一个反重合电路的操作。
-
公开(公告)号：CN115047511A
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202210537441.X
申请日：2016-09-05
Applicant: 棱镜传感器公司
IPC: G01T1/24
Abstract: 本发明提供了用于模块化的X射线检测器的检测器模块(1)，其中，所述检测器模块(1)包括多个X射线检测器基板(10)和相关联的防散射准直器(20)。每个X射线检测器基板(10)具有多个检测器二极管，每个X射线检测器基板具有相关联的防散射准直器(20)。每个X射线检测器基板(10)具有集成电路(30)，用于从所述二极管采集X射线信号；所述集成电路是在X射线检测器基板底部附接到所述X射线检测器基板，假设X射线检测器基板的顶部是X射线进入的地方，所述相关联的防散射准直器(20)是被设置在集成电路(30)的上方。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113678025A
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN201980095004.3
申请日：2019-10-02
Applicant: 棱镜传感器公司
Abstract: 提供了一种装置，该装置包括与被配置用于在医学透射射线照相中操纵x射线的同轴x射线聚焦光学器件(15)结合布置的x射线检测器(20)，其中，该同轴x射线光学器件(15)包括透镜阵列，其中，这些透镜覆盖部分或整个视场，并且其中，该x射线检测器(20)是光子计数检测器。此外，该x射线检测器(20)是能量分辨检测器，并且该透镜阵列的色差和/或源的有限相干性通过该能量分辨检测器的能量分辨率来补偿，以及/或者，该x射线检测器(20)是深度分辨检测器，并且该透镜阵列的色差和/或该源(10)的有限相干性通过该检测器(20)中的深度分辨率或体积分辨率来补偿。
-
公开(公告)号：CN110494770B
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN201880024382.8
申请日：2018-03-06
Applicant: 棱镜传感器公司
IPC: G01T1/24 , A61B6/03 , G01N23/04 , G01N23/046 , G01N23/083 , G01T1/36
Abstract: X射线检测器系统包括光子计数检测器(20)，其具有多个包括相应的耗电电路(30)的检测器模块。至少一些检测器模块包括温度传感器，以监测检测器模块上的温度并生成温度表示信号。对于检测器模块中的至少一个子集，检测器控制器选择性地在检测器模块的至少相应部分断电的空闲模式和检测器模块接通的运行模式之间切换检测器模块。检测器模块中的至少一个子集的耗电电路(30)基于温度表示信号生成校准数据，以校正由光子计数检测器(20)生成的图像数据的任何温度引起的变化。
-
公开(公告)号：CN108449977B
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN201580082643.8
申请日：2015-09-23
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 马丁·斯约林 , 弗雷德里克·格洛伯格
Abstract: 本发明提供了一种用于相对于X射线的方向从X射线源至少部分地确定边缘上X射线检测器的方位的方法。所述方法包括：获得(S1)来自通过X射线检测器执行的测量的信息，所述信息表示在与所述X射线检测器和所述X射线源相关的体模的两个不同相对位置的最小值处的X射线的强度，所述体模被定位于所述X射线源和所述X射线检测器之间，并且被设计成当暴露于X射线时将定向信息嵌入所述X射线场中。所述方法还包括：相对于X射线的方向并基于从测量所获得的信息和X射线检测器的空间构造、X射线源和体模的几何模型，确定(S2)与X射线检测器的方位相关联的至少一个参数。
-
公开(公告)号：CN107710020B
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201580081248.8
申请日：2015-10-08
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 马特斯·丹尼尔松 , 大卫·迈克尔·霍夫曼
Abstract: 本发明提供了在多级光子计数X射线探测器(102、103)中估计和/或补偿目标散射和/或内部散射的方法和装置，以及用于目标的X射线断层成像同时校正目标散射和/或内部散射的方法和装置。该X射线探测器具有安装在几何形的边缘上的至少两层探测器二极管，例如被设计用于：1)在目标散射具有缓慢变化的空间分布的假设下，基于在顶层和底层之间计数的差异来估计对所述至少两层的顶层中的计数的目标散射贡献；和/或2)基于通过将高衰光束截止置停留于探测器元件的顶部而选择性地遮蔽来自首次辐射的一些探测器元件来在底层中或在顶层和底层中估计具有在所述探测器内部的康普顿散射的光子的再吸收的计数，以及测量在那些探测器元件中的计数。
-
公开(公告)号：CN110869811A
公开(公告)日：2020-03-06
申请号：CN201880043400.7
申请日：2018-06-20
Applicant: 棱镜传感器公司
Abstract: 本发明提供了一种用于管理X射线成像系统中的几何失准的方法，该X射线成像系统具有X射线源、光子计数的X射线检测器和在X射线源和X射线检测器之间的X射线路径上的中间准直器结构。X射线检测器包括多个像素，并且准直器结构包括多个准直器单元，其中准直器单元的至少一个子集中的每一个对应于像素的N×M矩阵，其中N和M中的至少一个大于1。该方法包括：针对包括至少两个像素的指定像素子集，监测(S1)来自指定像素子集的像素的输出信号，该至少两个像素由于几何失准而受到来自所述准直器结构的阴影的不同影响；以及基于来自所述指定像素子集的所述像素的所述监测输出信号来确定(S2)几何失准的发生。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
69
records
(took 0.101 seconds)
