三维点云数据的处理方法及装置

    公开(公告)号:CN111524235B

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202010291508.7

    申请日:2020-04-14

    Abstract: 本发明公开了一种三维点云数据的处理方法及装置。该发明包括:获取多组点云;将多组点云分割为多个三角形,其中,每两个相邻的三角形共用一条边;将每两个相邻的三角形确定为一个四边形,并判断每个四边形中包含的两个三角形是否为钝角三角形;如果四边形中的两个三角形为钝角三角形,则将两个三角形转换为锐角三角形。通过本发明,解决了相关技术中点云稀疏时,导致重构的三维图像失真严重的技术问题。

    机器人抓取方法
    42.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107009391B

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN201710273477.0

    申请日:2017-04-24

    Abstract: 本发明提供了一种机器人抓取方法,适用于机器人抓取系统,机器人抓取系统包括机器人抓取定位装置,该机器人抓取定位装置包括:分料台、相机移动机构以及相机;相机移动机构与分料台对应设置,相机安装在相机移动机构上,相机移动机构用于带动相机相对于分料台沿预设轨迹移动,以使相机逐个采集分料台上多个预设位置的图像。从而在抓取多个产品时,无需设置多个视觉系统分别对多个产品进行识别和定位,解决了现有技术中的机器人设置多个固定的视觉系统以对分布于多个不同位置的不同的产品进行识别和定位占用空间较大的问题。

    电容外观的检测方法及装置、存储介质和处理器

    公开(公告)号:CN110333240B

    公开(公告)日:2022-01-07

    申请号:CN201910601487.1

    申请日:2019-07-03

    Abstract: 本申请公开了一种电容外观的检测方法及装置、存储介质和处理器。该方法包括:获取电容外观的目标图像,其中,目标图像为多个图像,多个图像中至少包括电容的顶部图像、侧面图像、电容的外壳图像和电容端子的图像;将目标图像分割成至少一个检测区域;通过至少一个检测区域对目标图像中电容外观的缺陷进行检测,其中,电容外观的缺陷包括以下至少之一:电容的顶部的缺陷、电容的侧面的缺陷、电容端子的缺陷和电容的外壳的缺陷。通过本申请,解决了相关技术中对电容外观的检测不全面,还需人工二次检测,导致对电容外观的检测效率不高的问题。

    输送设备
    44.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111003440B

    公开(公告)日:2021-06-18

    申请号:CN201911150131.7

    申请日:2019-11-21

    Abstract: 本发明提供了一种输送设备,输送设备包括推料装置和接料装置,推料装置的支撑机架内具有用于供产品通过的输料区域,推料机构可移动地设置在支撑机架上,以推动位于输料区域内的产品;接料装置的阻挡部的朝向输料区域的一侧为产品侧,阻挡部的背离输料区域的一侧为操作侧,接料部可移动地设置,接料部具有位于产品侧的接料位置以及位于操作侧的分离位置;接料部在位于接料位置的情况下,接料部接收推料机构推出的产品;接料部从接料位置移动到分离位置后,在阻挡部的阻挡下,接料部与位于接料部上的产品分离。通过上述操作可自动将产品输送到接料部上,并将接料部与产品分离,分离后的产品落到对应位置的卡板上,从而将产品放置到了卡板上。

    电容外观的检测方法及装置、存储介质和处理器

    公开(公告)号:CN110333240A

    公开(公告)日:2019-10-15

    申请号:CN201910601487.1

    申请日:2019-07-03

    Abstract: 本申请公开了一种电容外观的检测方法及装置、存储介质和处理器。该方法包括:获取电容外观的目标图像,其中,目标图像为多个图像,多个图像中至少包括电容的顶部图像、侧面图像、电容的外壳图像和电容端子的图像;将目标图像分割成至少一个检测区域;通过至少一个检测区域对目标图像中电容外观的缺陷进行检测,其中,电容外观的缺陷包括以下至少之一:电容的顶部的缺陷、电容的侧面的缺陷、电容端子的缺陷和电容的外壳的缺陷。通过本申请,解决了相关技术中对电容外观的检测不全面,还需人工二次检测,导致对电容外观的检测效率不高的问题。

    电容检测方法及装置
    47.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110160587A

    公开(公告)日:2019-08-23

    申请号:CN201910536872.2

    申请日:2019-06-20

    Abstract: 本发明公开了一种电容检测方法及装置。其中,该方法包括:控制电容公转,到达多个检测工位,其中,不同的检测工位用于对电容的不同故障种类的故障进行检测;在每个检测工位上对电容进行检测时,控制电容自转,对电容进行图像采集;根据采集到的图像,分析电容是否存在检测工位对应的故障种类的故障。本发明解决了相关技术中的电容检测方法,效率低的技术问题。

    目标对象的识别方法和装置

    公开(公告)号:CN109101982A

    公开(公告)日:2018-12-28

    申请号:CN201810835895.9

    申请日:2018-07-26

    Abstract: 本发明公开了一种目标对象的识别方法和装置。其中,该方法包括:获取样本图像中第一识别区域内每个第一边缘点的方向向量,其中,第一识别区域中包含目标对象;获取待识别图像中第二识别区域内每个第二边缘点的方向向量;根据每个第二边缘点的方向向量和第一识别区域内所有第一边缘点的方向向量,得到每个第二边缘点的相似度量;基于每个第二边缘点的相似度量,得到待识别图像的识别结果,其中,识别结果用于表征待识别图像中是否包含目标对象。本发明解决了现有技术中对目标对象的识别方法受到环境光照的影响,导致识别准确度低且效率低的技术问题。

    电子器件表面缺陷的检测方法及装置

    公开(公告)号:CN106934803A

    公开(公告)日:2017-07-07

    申请号:CN201710145578.X

    申请日:2017-03-13

    Inventor: 杨智慧

    Abstract: 本发明公开了一种电子器件表面缺陷的检测方法及装置,涉及电子器件外观检测领域,其中的方法包括:获取拍照装置拍摄的电子器件的原始表面图像;对原始表面图像进行预处理,用以得到去除了干扰的预处理图像;在预处理图像中确定检测目标图像并基于检测内容将检测目标图像分割为一个或多个检测区域图像;从检测区域图像中提取特征参数,并根据缺陷判定规则和特征参数确定电子器件的表面是否具有缺陷。本发明的检测方法及装置,能够实现对电子器件表面缺陷的自动检测,并能够同时检测多种缺陷,克服了人工检测外观缺陷的不足,检测效率高、误判率低,可以缩短检测时间,提高生产效率。

    连接管生产设备
    50.
    实用新型

    公开(公告)号:CN208929674U

    公开(公告)日:2019-06-04

    申请号:CN201821800391.5

    申请日:2018-11-01

    Abstract: 本实用新型提供了一种连接管生产设备,包括:上料机构,上料机构用于将螺母安装到连接管上;连接管扩口系统,连接管扩口系统用于将安装有螺母的连接管的端口扩成喇叭口;堵头安装系统,堵头安装系统用于将堵头安装到位于连接管上的螺母内;其中,上料机构、连接管扩口系统以及堵头安装系统依次运作。本实用新型的连接管生产设备解决了现有技术中的连接管生产效率较低的问题。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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