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公开(公告)号：CN118154711A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410275691.X
申请日：2024-03-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06T11/00
Abstract: 提供一种标定数据的生成方法，标定数据用于扫描成像设备的图像重建的校正，所述方法包括：将标定模体置于射线形成的扫描区域中，其中，标定模体包括分别由M种材料构成的M个部分，M种材料分别具有M个物理属性理论值，M为大于等于2的正整数；通过探测器采集经过扫描区域的射线，以获取实际投影数据；基于实际投影数据，利用图像重建算法对标定模体进行重建，以获得重建图像；对重建图像进行分割处理，以获得M个重建子图像，其中，M个重建子图像分别对应M个部分；针对M个重建子图像，分别计算出与M个部分对应的M个物理属性测量值；以及基于M个物理属性理论值和M个物理属性测量值，生成标定数据。
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公开(公告)号：CN118145510A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410361988.8
申请日：2024-03-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 同方威视科技江苏有限公司
Abstract: 本发明提供了一种用于将安装件安装至安装平台的吊装设备，安装平台与地面之间的距离为H，安装平台具有安装口，安装件在安装前，适于放置于与安装口相对的地面上，吊装设备包括：吊装装置，吊装装置安装于安装平台，吊装装置包括可伸缩的起吊组件，起吊组件适于与安装件可分离地连接；支撑装置，支撑装置安装于安装平台与地面之间，支撑装置与吊装装置正对设置。本发明的吊装设备可以在需要时安装至安装平台，也即可以将起吊组件安装到安装平台上，将支撑装置安装在安装平台与地面之间，本发明的吊装设备移动方便，可以在有限的空间里使用。
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公开(公告)号：CN116229195B
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202210478943.X
申请日：2022-04-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06V10/774 , G06V10/771 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06V10/25
Abstract: 提供了一种辐射图像识别模型的在线训练方法和装置、辐射图像识别方法和装置。辐射检查系统中预先存储有预置数据，预置数据包括第一辐射图像。训练方法包括：在辐射检查现场采集第二辐射图像；在线标注第二辐射图像，以形成带有第二标注信息的现场采集数据，其中，第二标注信息为第二辐射图像的不完备标注信息，第二标注信息用于指示第二辐射图像中部分感兴趣对象；在线合成预置数据和现场采集数据以形成训练数据集；利用训练数据集在线训练辐射图像识别模型。
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公开(公告)号：CN118035481A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410430802.X
申请日：2024-04-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明提供了一种检索器的生成方法和装置、目标检测方法和装置、电子设备和射线扫描检测系统，可用于图像处理领域。所述生成方法包括：构建样本库，包括：获取第一样本数据，包括第一图像和第一标签，第一标签表示第一检测目标的类别；获取第二样本数据，包括第二图像和第二标签，第二标签表示第二检测目标的类别，第一、第二样本数据分别为正、负样本数据；构建特征库，包括：利用特征提取模型，提取第一、第二图像特征；形成第一、第二特征‑标签关系；基于第一、第二特征‑标签关系，生成特征库；基于特征库，生成检索器。这样，仅需要少量样本即可通过图像特征提取网络获得特征表示，并构建类别对应的特征库。
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公开(公告)号：CN118035476A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202311360670.X
申请日：2023-10-19
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06F16/532 , G06F16/55 , G06F16/50
Abstract: 本申请涉及一种模板库的构建和检索方法以及装置，该方法包括：模板库构建步骤，其中，针对模板图像，基于变分自动编码器，获取与模板图像对应的隐向量，将隐向量进行保存来构建模板库；以及模板库检索步骤，其中，针对测试图像，基于变分自动编码器，获取与测试图像对应的隐向量，利用该隐向量在模板库中进行检索，得到模板数据。本申请中，通过这样的模板库的构建和检索方法以及装置，能够提高模板库的构建和检索效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118010770A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202311840021.X
申请日：2023-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/046 , G01V5/226
Abstract: 本公开提供了一种CT设备，涉及辐射扫描技术领域。CT设备包括：机架；设置在机架上的多个支撑装置；可旋转部，可旋转部能够围绕一旋转轴线旋转，在可旋转部旋转过程中，可旋转部由多个支撑装置共同支撑；扫描装置，设于可旋转部上，扫描装置用于对待检物进行扫描；以及托举装置，设于机架上，托举装置用于托举可旋转部，托举装置被配置为：托举可旋转部上升，使得可旋转部脱离支撑装置的支撑；托举装置带动可旋转部下降，使得可旋转部被支撑装置支撑且在支撑装置的驱动下发生旋转。
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公开(公告)号：CN107966460B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN201711429492.6
申请日：2017-12-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括辐射源和射束调制装置，射束调制装置包括设置于辐射源的射束出射侧的第一准直结构和设置于第一准直结构的射束出射侧的第二准直结构，第二准直结构与第一准直结构相对可动地设置以改变第一准直结构的第一准直口和第二准直结构的第二准直口的相对位置，使射束调制装置在第一工作状态和第二工作状态之间切换，其中，在第一工作状态，射束调制装置将初始射束调制为扇形束，在第二工作状态，射束调制装置将初始射束调制为位置可变的笔形束。本发明的辐射检查系统和辐射检查方法可以兼顾检查效率和检查精度。
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公开(公告)号：CN117950070A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202410106341.0
申请日：2020-07-21
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 提供一种自助安检系统和物品安检设备，将被检查的物品进入扫描通道；射线发射装置适用于向扫描通道中的物品发射辐射束；扫描图像采集模块适用于根据从物品接收的辐射束形成扫描图像，并包括适用于形成第一扫描图像和第二扫描图像的第一成像模块和第二成像模块；实物图像采集模块设置在所述第一成像模块和第二成像模块之间，适用于摄取位于扫描通道中的物品的实物图像。实物图像采集模块包括：适用于摄取位于所述扫描通道中的物品的实物图像的摄像设备和适用于照亮位于所述扫描通道中的物品的照明设备。绑定模块适用于将第一成像模块、第二成像模块得到的第一扫描图像、第二扫描图像和实物图像绑定之后，得到表示物品状态的平面图形、立体图形和实物图像。
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公开(公告)号：CN115113289B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202110770903.8
申请日：2021-07-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/226 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：至少一个射线源，能够围绕旋转轴线在至少两个扫描位置之间转动并且在相邻两个扫描位置之间的转动角度大于每个射线源的相邻靶点相对于旋转轴线的角度；探测器组件和输送装置，用于承载被检查的物体。检查系统构造成使得至少一个射线源和探测器组件能够相对于输送装置沿行进方向移动，从而被检查的物体能够所述检查区域。当至少一个射线源位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动预定距离后，至少一个射线源围绕旋转轴线转动到多个扫描位置中的另一个。
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