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公开(公告)号：CN104331569B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201410642109.5
申请日：2014-11-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法，涉及一种大规模集成电路的小时延故障测试通路选择方法。它是为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间复杂度和空间复杂度过高的问题。本发明所述的基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法，通过使用关键节点选择来优化蚁群优化算法的搜索时间，进而快速选择出小时延缺陷测试通路，使搜索时间减少为原时间的20％至25％。不仅降低了时间复杂度，也降低了空间复杂度。适用于在大规模集成电路小时延故障测试通路的选择。
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公开(公告)号：CN104486222A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201410766047.9
申请日：2014-12-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H04L12/727
Abstract: 基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法，涉及一种小时延缺陷的测试路径选择方法。它为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间长、速度慢的问题。本发明所述的基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法，首先对测试电路读入分析电路节点连接信息时的算法及存储数据的格式；然后对所要测试电路在读取连接信息的基础上转换为有向无环路图的形式；最后使用蚁群优化算法求解电路网络中的最长通路作为小时延缺陷的关键路径。在保证较高的正确率的前提下，加快了运行速度，以提高路径选择方法在实际应用的实用性。适用于小时延缺陷的测试路径的选择。
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公开(公告)号：CN103632019A
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201310726412.9
申请日：2013-12-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 基于Perl的Verilog网表电路的部分可测性设计自动实现系统及方法，涉及数字芯片的可测性领域。为可测性设计人员提供便捷的实现过程，提高电路可测性设计的效率和正确性，增加电路的可测性和可靠性，降低电路的测试成本。自动实现系统包括分析单元、内部可测性设计单元、测试封装设计单元，分析单元用于完成电路结构信息的分析以及用户设定信息的分析，并将分析的结果传递给内部可测性设计单元；内部可测性设计单元用于完成电路内部测试扫描链的设计，将处理后的结果传递给测试封装设计单元；测试封装设计单元用于完成电路测试封装的设计，得到最终的电路部分可测性设计的结果。方法步骤与三个功能模块相一致。用于使用Verilog网表描述的电路的部分可测性设计过程。
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公开(公告)号：CN103457684A
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：CN201310459573.6
申请日：2013-09-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H04B17/00
Abstract: 一种用于串行通信设备波特率容限测试的信号发生装置，属于波特率容限测试领域。本发明是解决了现有弹上机测试系统无法对通信设备的串行通讯接口容限进行测试的问题，本发明所述的上位机控制器的控制信号输出端与FPGA处理模块的控制信号输入端连接，上位机控制器的数据信号输入输出端与FPGA处理模块的第一数据信号输入输出端连接，晶振的频率信号输出端与FPGA处理模块的时钟信号输入端连接，FPGA处理模块的第二数据信号输入输出端同时与N个光耦隔离器的第一信号输入输出端连接，N个光耦隔离器的第二信号输入输出端分别与N个可编程多协议收发器的第一信号输入输出端连接；本发明主要用于对串行通信设备的通讯接口容限进行测试。
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公开(公告)号：CN103365976A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201310268650.X
申请日：2013-06-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 使用Perl语言对电路XDL级网表描述进行面向应用的测试修改方法及测试方法，涉及一种对电路XDL级网表描述进行面向应用的测试修改方法及测试方法。它是为了解决现有对电路XDL级网表描述进行面向应用的测试修改的正确性和有效性差的问题。本发明使用Xilinx提供的XDL工具将NCD文件转换为XDL文件，然后使用适用于文本处理的Perl语言修改XDL文件，最后通过XDL工具将修改后的XDL文件转成NCD文件，获得最后的配置文件，完成对电路XDL级网表描述进行面向应用的测试修改。本发明适用于对电路XDL级网表描述进行面向应用的测试修改及测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103364711A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201310329417.8
申请日：2013-07-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 温度约束下基于软核的三维SoC测试调度方法，属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下，无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为：基于软核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核，建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量，若IP核i和IP核j并行测试，则有xij=1，否则xij=0，tj为IP核j的测试时间，|M|表示一个SoC中的IP核总数，表示并行测试的各IP核测试时间的最大值，yi表示一个二进制变量，设IP核的标号j
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公开(公告)号：CN102495357B
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201110382188.7
申请日：2011-11-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3185
Abstract: 一种基于比较器响应分析器的输入向量监测并发内建自测试电路。它涉及SOC的测试装置。它解决了现有测试中存在的硬件成本过高、测试延时过大以至于一些输入引脚较多的电路无法被监测的问题。被测集成电路有n个原始输入信号，在原始输入信号中选择t个作为地址信号，n-t个为非地址信号，t个地址信号的组合后均不相同，通过二选一多路选择器选择信号发给测试集发生器和被测集成电路；比较器对选择器信号与列输出信号进行比较，并向测试集发生器发比较信号；测试集发生器和被测集成电路分别发行输出信号和实际输出信号给响应分析器，响应分析器对两个信号进行比较，并发测试结果。应用于一些原来不可测的电路中进行检测。
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公开(公告)号：CN102323538B
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201110191557.4
申请日：2011-07-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3181 , G01R31/3185
Abstract: 基于改进测试向量集的部分扫描的扫描单元的设计方法，涉及数字集成电路SOC测试技术领域。本发明解决了现有在线测试的方法中存在的测试延迟、硬件冗余以及所需要的存储器容量较大的问题。本发明首先采用对时序电路组合部分的等效输出引脚进行故障仿真的方法获取对故障检测重要的重要等效输出引脚；然后采用对时序电路组合部分的等效输入引脚进行故障仿真的方法获得改进测试向量集；最后根据改进测试向量集和对故障检测不重要的等效输出引脚，将触发器分成定输入触发器和重要触发器，并将重要触发器串联形成部分扫描链。采用本发明的方法获得的扫描单元在达到较高故障覆盖率的同时，减小测试电路的硬件冗余、缩短测试向量的位数、减小了存储空间。
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公开(公告)号：CN102043122B
公开(公告)日：2012-12-05
申请号：CN201010572388.4
申请日：2011-01-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/317 , G01R31/3181
Abstract: 一种改进扫描链单元及基于该单元的非并发测试方法，属于片上系统测试领域，本发明为解决现有基于扫描链的非并发方式的在线测试方法存在对时序的要求比较严格、控制难度大、且无法一次移入多组测试向量的问题。本发明所述改进扫描链单元用于代替片上系统中的D触发器，该单元中有两个触发器和两个选择器，第一触发器是构成原电路扫描链的基本单元，实现与原D触发器相同功能，第二触发器是为进行测试时保存数据而引入的。两个数据选择器通过使能端来控制数据的流向，第一选择器控制第二触发器中的数据是否可以送到第一触发器，第二选择器控制第一触发器的工作状态或扫描状态。此单元可输入多组测试向量连续测试。测试前后不改变电路的运行状态。
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公开(公告)号：CN102034555B
公开(公告)日：2012-09-19
申请号：CN201110021671.2
申请日：2011-01-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G11C29/42
Abstract: 一种利用奇偶校验码进行故障在线纠错装置及方法，属于在线测试领域，本发明为解决现有利用纠错码对嵌入式存储器进行在线测试时，带来的冗余开销过于庞大的问题。本发明它的分为检错和纠错两个过程，其中检错的步骤如下：检测是否有新的地址输入或者读写信号改变；对数据计算器校验码；读出数据并与已存校验码比较；将比较的结果写入故障标志位存储器；将故障地址以及纠错码跟别写入相应存储器。纠错的过程：检测是否有新的地址输入或者读写信号改变；判断故障标志位；查找纠错码；本发明是在不改变存储器以存储数据，不影响存储器正常读写操作的条件下对嵌入式存储器进行在线测试，保证检测到所有奇数个故障。
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