DC-DC转换器早期多源故障诊断的特征提取方法

    公开(公告)号:CN112115663B

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202011012475.4

    申请日:2020-09-23

    Abstract: 一种DC‑DC转换器早期多源故障诊断的特征提取方法,属于DC‑DC转换器故障诊断技术领域。本发明为解决现有DC‑DC转换器的故障检测主要针对单个元件引起的故障,对具有隐蔽性特征的早期多源故障检测效果差的问题。包括:获得正常样本和待识别早期多源故障样本;对正常样本和待识别早期多源故障样本分别获得所有子频带的m×n个局部候选能量;在待识别早期多源故障样本对应的m×n个局部候选能量中优选出v个选定局部能量,构成最优局部能量集;由v个选定局部能量与已知的w个早期多源故障构建初始矩阵;对初始矩阵采用贪婪算法从v个选定局部能量中再优选出u个局部能量作为u个故障特征,供DC‑DC转换器早期多源故障诊断。本发明提高了早期多源故障识别能力。

    基于统计特征典型相关分析的PFC故障检测方法

    公开(公告)号:CN113985173A

    公开(公告)日:2022-01-28

    申请号:CN202111254775.8

    申请日:2021-10-27

    Abstract: 一种基于统计特征典型相关分析的PFC故障检测方法,属于PFC故障检测领域。本发明针对现有通过PFC变换器的输出电压对其进行故障检测,不明显的故障特征易被掩盖造成检测效果差的问题。包括:采集PFC转换器的样本输入电压和样本输出电压;对样本输入电压特征量和样本输出电压特征量进行典型相关分析,得到典型相关系数;构建样本残差矩阵,计算获得样本统计量;并确定故障检测阈值;采集实际输入电压和实际输出电压,利用实际输入电压特征量、实际输出电压特征量和典型相关系数构建实际残差矩阵,计算获得实际统计量;将实际统计量与故障检测阈值进行比较,若实际统计量大于故障检测阈值,则判定运行状态PFC转换器为故障状态。本发明用于PFC故障检测。

    DC-DC转换器早期多源故障诊断的特征提取方法

    公开(公告)号:CN112115663A

    公开(公告)日:2020-12-22

    申请号:CN202011012475.4

    申请日:2020-09-23

    Abstract: 一种DC‑DC转换器早期多源故障诊断的特征提取方法,属于DC‑DC转换器故障诊断技术领域。本发明为解决现有DC‑DC转换器的故障检测主要针对单个元件引起的故障,对具有隐蔽性特征的早期多源故障检测效果差的问题。包括:获得正常样本和待识别早期多源故障样本;对正常样本和待识别早期多源故障样本分别获得所有子频带的m×n个局部候选能量;在待识别早期多源故障样本对应的m×n个局部候选能量中优选出v个选定局部能量,构成最优局部能量集;由v个选定局部能量与已知的w个早期多源故障构建初始矩阵;对初始矩阵采用贪婪算法从v个选定局部能量中再优选出u个局部能量作为u个故障特征,供DC‑DC转换器早期多源故障诊断。本发明提高了早期多源故障识别能力。

    一种考虑权重的硬件电路FMEA方法

    公开(公告)号:CN109782746A

    公开(公告)日:2019-05-21

    申请号:CN201910104633.X

    申请日:2019-02-01

    Abstract: 本发明提供一种考虑权重的硬件电路FMEA方法,属于产品与系统可靠性分析技术领域。本发明首先确定硬件电路每种故障模式的各影响因素的评价因子;然后应用层次分析法建立各影响因素的判断矩阵,进而得到故障模式的各影响因素的权重;利用得到的评价因子及权重得到各故障模式的风险系数;最后将各种故障模式的风险系数的按照数值大小进行排序。本发明解决了现有产品与系统可靠性分析技术不能同时兼顾准确性与计算量的问题。本发明可用于快速进行硬件电路的故障模式影响分析。

    一种SRAM-basedFPGA退化测试系统

    公开(公告)号:CN103439644B

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201310351573.4

    申请日:2013-08-13

    Abstract: 一种SRAM-based FPGA退化测试系统,属于电力电子技术领域。为了解决现有用于检测NBTI退化效应使FPGA产生延时量的测量系统测量精度低且进一步解决了无法同时测量多种应力的问题,本发明包括示波器、控制器、程控双路电源、辅助控制器FPGA、恒温箱、A/D转换器、被测FPGA和晶振;控制器控制辅助控制器FPGA,且辅助控制器FPGA输出的信号应力、辅助控制器FPGA通过程控双路电源输出的电压应力和通过恒温箱输出的温度应力同时施加给被测FPGA,示波器用于接收被测FPGA输出的信号。本发明主要应用在检测NBTI退化效应领域。

    一种用于串行通信设备波特率容限测试的信号发生装置

    公开(公告)号:CN103457684B

    公开(公告)日:2015-02-11

    申请号:CN201310459573.6

    申请日:2013-09-29

    Abstract: 一种用于串行通信设备波特率容限测试的信号发生装置,属于波特率容限测试领域。本发明是解决了现有弹上机测试系统无法对通信设备的串行通讯接口容限进行测试的问题,本发明所述的上位机控制器的控制信号输出端与FPGA处理模块的控制信号输入端连接,上位机控制器的数据信号输入输出端与FPGA处理模块的第一数据信号输入输出端连接,晶振的频率信号输出端与FPGA处理模块的时钟信号输入端连接,FPGA处理模块的第二数据信号输入输出端同时与N个光耦隔离器的第一信号输入输出端连接,N个光耦隔离器的第二信号输入输出端分别与N个可编程多协议收发器的第一信号输入输出端连接;本发明主要用于对串行通信设备的通讯接口容限进行测试。

    基于微分进化算法和回声状态网络静态分类的模拟电路故障诊断方法

    公开(公告)号:CN102253301B

    公开(公告)日:2013-07-10

    申请号:CN201110099275.1

    申请日:2011-04-20

    Abstract: 基于微分进化算法和回声状态网络静态分类的模拟电路故障诊断方法,涉及一种模拟电路故障诊断方法,它解决了采用传统神经网络进行模拟电路故障诊断的诊断精度较低的问题。其方法:采用单位脉冲信号激励模拟电路工作,获得电路待诊断响应信号,并采集模拟电路的单位脉冲响应输出信号;采用小波变换法对采集到的模拟电路的单位脉冲响应输出信号进行处理,将获得故障特征作为数据样本,输入至回声状态网络中,采用微分进化算法进行训练,建立模拟电路故障诊断模型;采用小波变换法对电路待诊断响应信号进行处理,获得故障数据,输入至模拟电路故障诊断模型中,获得并输出故障诊断结果。本发明适用于模拟电路的故障诊断。

    SoC测试中的基于平均值余量的测试封装扫描链平衡方法

    公开(公告)号:CN102156258B

    公开(公告)日:2013-04-03

    申请号:CN201110057651.0

    申请日:2011-03-10

    Abstract: SoC测试中的基于平均值余量的测试封装扫描链平衡方法,涉及系统芯片测试技术领域。本发明解决了现有基于BFD算法实现测试封装扫描链平衡方法以及基于平均值近似的SoC扫描链平衡方法中存在的不足。本发明的测试封装扫描链平衡方法的过程为:首先,计算Wrapper扫描链长度平均值;然后,根据获得的长度平均值确定误差限,所述误差限为所述长度平均值的1%至3%;最后,根据所述误差限及Wrapper扫描链长度平均值计算得到取值区间,把该取值区间作为全局优化的指导原则,实现测试封装扫描链平衡。本发明采用Wrapper扫描链平衡算法的原理实现缩短单个IP核测试时间这一目标,进而缩短SoC测试时间。

    基于回声状态网络同步优化的模拟电路故障诊断方法

    公开(公告)号:CN102262198B

    公开(公告)日:2013-02-27

    申请号:CN201110099271.3

    申请日:2011-04-20

    Abstract: 基于回声状态网络同步优化的模拟电路故障诊断方法,涉及一种模拟电路故障诊断方法。它解决了采用传统神经网络进行模拟电路故障诊断的诊断精度较低的问题。其方法:采用单位脉冲信号激励模拟电路工作,获得电路待诊断响应信号,采集模拟电路的单位脉冲响应输出信号;采用小波变换法对模拟电路的单位脉冲响应输出信号进行处理,获得故障特征并作为数据样本输入至回声状态网络中,采用微分进化算法进行参数与特征的同步优化选择,建立模拟电路故障诊断模型;采用小波变换法对电路待诊断响应信号进行处理,获得故障数据,将所述故障数据输入至模拟电路故障诊断模型中,获得并输出故障诊断结果。本发明适用于模拟电路故障诊断。

    一种利用奇偶校验码进行故障在线检测装置及方法

    公开(公告)号:CN102142281B

    公开(公告)日:2012-11-14

    申请号:CN201010612198.0

    申请日:2010-12-29

    Abstract: 一种利用奇偶校验码进行故障在线检测装置及方法,属于在线测试领域,本发明为解决现有利用纠错码对嵌入式存储器进行在线测试时,带来的冗余开销过于庞大的问题。本发明将读写控制信号和地址信号发送给信号分析器,控制器输出读写标识信号和故障标识信号给故障标志位存储器,控制器还输出存储器读写控制信号给RAM存储器,新输入数据同时发送给RAM存储器和新输入数据编码器,新输入数据编码器输出编码后的新输入数据信号给校验码存储器,校验码存储器输出新输入数据校验码给校验码比较器;RAM存储器输出存储数据信号给存储数据编码器;存储数据编码器输出存储数据校验码给校验码比较器;校验码比较器的比较结果信号反馈给控制器。

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