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公开(公告)号：CN115618648A
公开(公告)日：2023-01-17
申请号：CN202211404868.9
申请日：2022-11-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明提供了一种界面态模型的构建方法、装置、系统及存储介质，涉及仿真技术领域。本发明所述的方法包括：获取试验数据，根据试验数据得到界面态缺陷的浓度分布模型；基于浓度分布模型，通过复合率公式组确定表面复合率；根据复合率公式组和界面态公式组确定被电离的界面态浓度；根据表面复合率和被电离的界面态浓度构建仿真模型；根据浓度分布模型和仿真模型对晶体管进行仿真试验，确定转移特性曲线；当转移特性曲线满足预设转移特性曲线变化范围时，根据仿真模型确定最终界面态模型；本发明所述的技术方案，通过建立一种界面态模型，采用仿真试验，验证了模型的准确性，修正了现有界面态模型只考虑单一能级的问题。
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公开(公告)号：CN115206442A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202210759866.5
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G16C10/00
Abstract: 本发明提供了一种不同掺杂体系器件的缺陷演化模拟方法及系统，属于模拟仿真技术领域。所述方法包括：建立纯硅体系模型；向所述纯硅体系模型中引入掺杂元素，得到掺杂体系模型；基于所述掺杂体系模型，将入射粒子辐照器件后产生的初级撞出粒子的信息作为输入条件，利用分子动力学方法模拟所述器件的缺陷演化过程，输出演化结构；统计所述演化结构中的缺陷信息，并获取所述缺陷信息与所述掺杂体系模型中的掺杂信息、所述初级撞出粒子的信息之间的关系。本发明通过分子动力学方法实现了对不同掺杂体系的半导体器件缺陷演化情况的模拟，模拟过程极尽地贴合实际情况，模拟结果可与实验数据相互对比，且计算方法逻辑清晰，步骤简单且易于操作。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115186465A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210768685.9
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F30/15 , G06F113/28
Abstract: 本发明提供了一种计算单机内部深度‑剂量曲线的方法，属于空间环境分析技术领域。方法包括：S1、计算输入的深度‑剂量曲线，选取所要分析的空心的单机壳体；S2、进行射线跟踪分析，获取每一个扇形区域的屏蔽深度值；S3、将每一个扇形区域的屏蔽深度值与输入的深度‑剂量曲线的屏蔽深度值进行加和，之后依据加和的屏蔽深度值计算出对应的剂量值，以输入的深度‑剂量曲线的屏蔽深度值和依据加和的屏蔽深度值计算得到的剂量值构建输出的深度‑剂量曲线；S4、根据每一个扇形区域的权重对输出的深度‑剂量曲线进行累加，构建单机内部的深度‑剂量曲线。本发明实现了高效、精确地将外部环境的深度‑剂量曲线转化为单机壳体的深度‑剂量曲线。
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公开(公告)号：CN115171797A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210768357.9
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一种材料中不同种类空位缺陷的识别和统计方法。属于模拟技术领域。所述方法包括建立与材料对应的体系模型；设定模拟参数，利用分子动力学方法对所述体系模型进行缺陷演化模拟计算；获取缺陷演化过程直至缺陷演化完成后的各体系结构，并获取所述体系结构中的空位缺陷及其坐标信息；利用团簇分析法将所述空位缺陷划分为不同种类的空位团簇；统计同一种类所述空位团簇的数目，根据各体系结构中空位团簇的信息，得到不同种类空位缺陷随时间演化的关系。本发明可以直观且准确的表征出半导体材料受辐照后材料中各类空位缺陷的存在情况，且方法逻辑清晰，步骤简单、易于操作。
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公开(公告)号：CN115167982A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210769818.4
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一种航天器空间环境模型仿真计算方法、装置及可读存储介质，涉及航天器仿真计算技术领域，所述方法包括：基于航天器的空间环境模型编写Fortran源代码，调通所述Fortran源代码并自行调用；修改所述Fortran源代码，将所述Fortran源代码封装为动态链接库；通过C++程序调用所述动态链接库封装中的空间环境模型，并使用主函数进行调用计算，得到空间环境数据并输出。与现有技术比较，本发明解决了基于Fortran语言编写的空间环境模型大多难以在以C++为基础的仿真主程序中调用计算的问题，实现了空间环境的量化表征。
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公开(公告)号：CN115146458A
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN202210762698.5
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F17/10 , G06F111/10
Abstract: 本发明提供了一种不同能量入射粒子辐照器件的缺陷演化仿真方法及系统，属于模拟仿真技术领域。所述方法包括：获取入射粒子辐射器件后产生的PKA的信息，对所述器件进行网格化处理，并获取每个网格中的所述PKA的信息；建模；利用分子动力学模拟方法进行PKA在器件中级联碰撞的微观损伤过程模拟；利用动力学蒙特卡罗方法进行缺陷演化模拟；S5，改变所述入射粒子的能量数值，重复上述步骤，获取不同入射粒子能量与所述器件中缺陷信息之间的关系。本发明采用不同模拟方法分别覆盖不同的时间尺度，模拟计算更为精确，模拟过程与实际情况更为贴合，模拟结果与实验数据也较为贴合，且计算法方法逻辑清晰，步骤简单且易于操作。
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公开(公告)号：CN115146229A
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN202210762514.5
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/18
Abstract: 本发明提供了一种基于射线跟踪技术的卫星总剂量分析方法，属于卫星空间环境分析技术领域。方法包括：S1、构建与卫星对应的几何体，添加材料属性和探测点；S2、在基于GEANT4的射线跟踪程序中设置相关参数，按照极角、方位角的范围以及划分份数，进行空间立体角的扇形划分，随后进行随机射线发射和基于对数平均累加的射线跟踪计算，获得每个所述探测点、每个所述扇形区域的深度数据；S3、获取深度‑剂量曲线；S4、进行多探测点对多深度‑剂量曲线的剂量计算，获得指定所述探测点的总剂量。S5、进行可视化、交互式的多种剂量分析。本发明能够实现随机射线的发射以及结果的平均，提高了扇形区域内数据的代表性，有利于增强交互性和用户体验。
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