一种基于谐振的磁场发生装置及其设计方法

    公开(公告)号:CN104297706A

    公开(公告)日:2015-01-21

    申请号:CN201410553325.2

    申请日:2014-10-17

    Abstract: 本发明公开了一种基于谐振的磁场发生装置及其设计方法,相比于常见的磁场发生装置,其主要创新在于大幅提高了电到磁的转换效率,实现了低噪声、低谐波磁场的产生。在确定磁场发生线圈和检流电阻规格后,计算它们在工作频率f下的串联阻抗ZL;利用串联阻抗ZL推算谐振电流比Iratio的最大值;根据期望的谐振电流比Iratio,滤波器截止频率f1、f2,通带纹波推导滤波器参数;最后对磁场发生装置组装调试。

    一种磁纳米温度成像方法及系统

    公开(公告)号:CN103892809A

    公开(公告)日:2014-07-02

    申请号:CN201410128659.5

    申请日:2014-04-01

    CPC classification number: A61B5/7278 A61B5/01 A61B5/0515 G01K7/36 G01R33/1276

    Abstract: 本发明公开一种磁纳米温度成像方法,首先,对磁纳米粒子样品所在区域同时施加恒定直流磁场和交流磁场,采集磁纳米粒子的交流磁化强度信号,检测出各奇次谐波幅值;然后,将恒定直流梯度场替换为含梯度磁场的组合直流磁场,采集磁纳米粒子的交流磁化强度信号,检测出各奇次谐波幅值;计算两次谐波幅值差值;利用朗之万函数的泰勒级数展开建立奇次谐波差值与温度的关系式,求解关系式获得在体温度;最后,改变直流梯度场至下一位置,直到完成整个一维空间的温度测量。本发明对磁纳米粒子施加不同的激励磁场,从而一维空间的温度成像转变成了对每一个小区间的点温度求解,从而在不知磁纳米粒子浓度的情况下精密、快速地获得一维空间温度场。

    一种焊接接头成形组织特征的测量方法

    公开(公告)号:CN101629812A

    公开(公告)日:2010-01-20

    申请号:CN200910061699.1

    申请日:2009-04-17

    Abstract: 本发明公开了一种焊接接头成形组织特征的测量方法,对接头轮廓图像作二值化处理,采用深度优先搜索法消除二值化轮廓图像的横向和纵向毛刺,再将消除毛刺后的二值化轮廓图像离散化,采用两点距离偏差法搜索轮廓分段点以实现对接头轮廓的分段,分别将各段拟合成二次曲线,识别各二次曲线的特征点,对其作近似对称处理后用于计算接头成形特征。本发明准确分析了接头轮廓形状的变化规律,提高测量的精确性,有利于焊接质量分析。

    一种小型TEC温度控制芯片结构
    46.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119937683A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202510070341.4

    申请日:2025-01-16

    Inventor: 李明蕙 刘文中

    Abstract: 本发明涉及一种小型TEC温度控制芯片结构,涉及电路通信领域,包括接收放大模块、发射模块、控制电路模块、电源模块和核心处理单元;接收放大模块用于进行温度信号的接收采集,并进行相应的滤波放大处理;发射模块用于对接收放大模块处理后的信号进行再处理与调控输出;控制电路模块用于将经由发射模块处理后的信号接收,并进行相应温度控制信号指令的接收与执行;电源模块外接相应的输入接口,并与接收放大模块、发射模块和控制电路模块电信连通,用与提供相应的电力供应;核心处理单元为微控制器,与收放大模块、发射模块、控制电路模块和电源模块均电信连通,用于控制和监测相应模块的运行状态。本发明由具体由ADN8834控制电路、电源稳压电路、接受放大电路以及核心处理单元STM32构成。实现了数字温控电路的小型化与多功能。

    一种磁纳米粒子X射线CT造影断层成像方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN118319344A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410759779.9

    申请日:2024-06-13

    Inventor: 崔鑫超 刘文中

    Abstract: 本发明公开了一种磁纳米粒子X射线CT造影断层成像方法、装置及系统,属于磁纳米粒子成像领域,方法包括:使含有磁纳米粒子为造影剂的目标对象相对于X射线(存在与其轴线相平行的周期变化的激励磁场)旋转一周,记录每个角度下目标对象的多张连续的透射投影图像;对每个角度下的多张透射投影图像,进行图像后处理操作后,对所有角度下的磁纳米粒子造影成像投影图进行反投影变换,得到断层成像结果;图像后处理操作包括:时频变换:将三维时域矩阵的第三个维度转换到频域,得到三维频域矩阵;特征提取:沿三维频域图像矩阵的第三个维度选取频率为kf的二维矩阵;k为正整数;f为激励磁场的频率。本发明能够有效提高X射线断层成像对比度。

    一种基于磁纳米粒子磁化响应的透射式高分辨率成像方法

    公开(公告)号:CN117169792A

    公开(公告)日:2023-12-05

    申请号:CN202311122825.6

    申请日:2023-08-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于磁纳米粒子磁化响应的透射式高分辨率成像方法,属于磁纳米粒子成像领域,该方法包括:S1,对放置在目标区域的磁纳米粒子样品施加激励磁场使其磁化;S2,对磁化后的样品进行激光扫描;其中,所述激光的入射方向与所述激励磁场的方向平行;S3,根据各扫描点处出射激光、入射激光的电场分布与浓度、温度的关系式进行非线性拟合,得到各扫描点处的温度或浓度成像信息。该方法的成像分辨率取决于扫描的最小步长以及激光光斑尺寸,这两者都容易限制在100μm以下,因此相较于现有的MPI技术,本发明提供的方法能够提高成像分辨率。

    一种用于磁纳米温度测量标定的动态测温方法

    公开(公告)号:CN113945297B

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202010688010.4

    申请日:2020-07-16

    Abstract: 本发明属于磁纳米粒子测温标定领域,具体涉及一种用于磁纳米温度测量标定的动态测温方法,包括:待标定磁纳米样品内设置有与其初始温度平衡的热电偶传感器和铂电阻传感器,分别采用该热电偶传感器和铂电阻传感器采集磁纳米样品于恒温环境降温过程中的温度,对应得到第一动态温度和第二动态温度;基于热电偶传感器的测温响应即时性,采用其对应的第一动态温度修正铂电阻传感器采集的第二动态温度中温度和时间的对应关系,修正后的动态温度为磁纳米样品的实际动态温度。本发明提出对磁纳米样品进行加热,达到一定温度后使之自然降温,利用热电偶和铂电阻传感器进行测温,利用各传感器优势,实现对磁纳米样品的动态高准确度测温。

    一种离散红外频谱温室气体流量光学计量方法及装置

    公开(公告)号:CN114543914A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202210225749.0

    申请日:2022-03-09

    Inventor: 唐朝清 刘文中

    Abstract: 本发明公开了一种离散红外频谱温室气体流量光学计量方法及装置,属于温室气体流量计量领域。方法包括:形成不同中心频率的N+2路窄带红外光。测量N路窄带光穿过气体之前和之后的信号能量强度变化,得到N路相应的吸收系数S1,S2,……,SN;对其中1路做同样处理,得到的吸收系数记为基准吸收系数S,将S1,S2,……,SN和S代入吸收系数与浓度间的关系式,得到气体的浓度;使另一路窄带光产生两束同频光束在气体管道内形成两个干涉焦点,测量气体携带的微粒经过两个焦点的时间和两个焦点的间距,得到流速。本发明还提供了一种离散红外频谱温室气体流量光学计量装置。本发明能够实现流量、浓度的一体化测量,并提升温室气体流量及浓度测量的精度。

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