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公开(公告)号：CN114884574B
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202210431738.8
申请日：2022-04-22
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种L波段扩展混合光纤放大器，属于宽带光纤放大器技术领域。系统包括第一放大模块和第二放大模块；第一放大模块，用于放大常规信号波段信号功率；第二放大模块设置有掺铒光纤，用于消除第一放大模块产生的后向ASE并放大扩展波长波段信号功率。本发明通过在包含掺铒光纤及波分复用器的第一放大模块前端连接一段高吸收的掺铥光纤，利用其在C+L波段的吸收和发射特性，消除系统中产生的后向1.5μmASE，从而改善L波段扩展波段放大性能。本发明系统结构简单，性价比高，效率高，同时贴合现阶段光纤通信系统对于通信容量的急切需求。
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公开(公告)号：CN103892809A
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201410128659.5
申请日：2014-04-01
Applicant: 华中科技大学
IPC: A61B5/01
CPC classification number: A61B5/7278 , A61B5/01 , A61B5/0515 , G01K7/36 , G01R33/1276
Abstract: 本发明公开一种磁纳米温度成像方法，首先，对磁纳米粒子样品所在区域同时施加恒定直流磁场和交流磁场，采集磁纳米粒子的交流磁化强度信号，检测出各奇次谐波幅值；然后，将恒定直流梯度场替换为含梯度磁场的组合直流磁场，采集磁纳米粒子的交流磁化强度信号，检测出各奇次谐波幅值；计算两次谐波幅值差值；利用朗之万函数的泰勒级数展开建立奇次谐波差值与温度的关系式，求解关系式获得在体温度；最后，改变直流梯度场至下一位置，直到完成整个一维空间的温度测量。本发明对磁纳米粒子施加不同的激励磁场，从而一维空间的温度成像转变成了对每一个小区间的点温度求解，从而在不知磁纳米粒子浓度的情况下精密、快速地获得一维空间温度场。
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公开(公告)号：CN114884574A
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202210431738.8
申请日：2022-04-22
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种L波段扩展混合光纤放大器，属于宽带光纤放大器技术领域。系统包括第一放大模块和第二放大模块；第一放大模块，用于放大常规信号波段信号功率；第二放大模块设置有掺铒光纤，用于消除第一放大模块产生的后向ASE并放大扩展波长波段信号功率。本发明通过在包含掺铒光纤及波分复用器的第一放大模块前端连接一段高吸收的掺铥光纤，利用其在C+L波段的吸收和发射特性，消除系统中产生的后向1.5μmASE，从而改善L波段扩展波段放大性能。本发明系统结构简单，性价比高，效率高，同时贴合现阶段光纤通信系统对于通信容量的急切需求。
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公开(公告)号：CN104473642B
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201410699206.8
申请日：2014-11-27
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开一种磁纳米粒子浓度成像方法，其主要创新在于采用交流磁化率的虚部来进行浓度成像，有效提高磁纳米粒子成像的空间分辨率。对磁纳米粒子施加交流磁场和直流梯度磁场，检测出一次谐波幅值和相位。利用幅值差和相位差或直接利用磁化强度变化量计算出磁纳米粒子交流磁化率的实部和虚部。通过控制直流梯度磁场的零磁场点位置，求解出不同空间位置的磁纳米粒子交流磁化率的实部和虚部，进而利用交流磁化率的虚部实现磁纳米浓度成像。从仿真数据来看，利用交流磁化率虚部进行浓度成像可以很好地提高磁纳米成像的空间分辨率。
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公开(公告)号：CN104101444A
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201410287591.5
申请日：2014-06-24
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开一种基于磁纳米磁化强度的温度测量方法，其主要创新在于考虑了磁纳米试剂粒径分布对温度测量的影响，实现了在未知磁纳米粒径分布的情况下的温度精确测量。当对磁纳米试剂施加直流磁场时，检测不同磁场强度激励下的磁化强度信号；利用磁纳米粒子磁化强度与温度、浓度以及粒径高阶矩的关系式精确求解出温度。当对磁纳米试剂施加交流磁场时，采集交流磁化强度信号，检测出一、三次谐波幅值；利用交流磁化强度一、三次谐波幅值与温度、浓度以及粒径高阶矩的关系式精确求解出温度。本发明对基于单一粒径的基于磁纳米磁化强度的温度测量方法进行了优化和改进。从实验数据来看，磁纳米温度测量优化方法的温度误差小于0.2K。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103892809B
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：CN201410128659.5
申请日：2014-04-01
Applicant: 华中科技大学
IPC: A61B5/01
CPC classification number: A61B5/7278 , A61B5/01 , A61B5/0515 , G01K7/36 , G01R33/1276
Abstract: 本发明公开一种磁纳米温度成像方法，首先，对磁纳米粒子样品所在区域同时施加恒定直流磁场和交流磁场，采集磁纳米粒子的交流磁化强度信号，检测出各奇次谐波幅值；然后，将恒定直流梯度场替换为含梯度磁场的组合直流磁场，采集磁纳米粒子的交流磁化强度信号，检测出各奇次谐波幅值；计算两次谐波幅值差值；利用朗之万函数的泰勒级数展开建立奇次谐波差值与温度的关系式，求解关系式获得在体温度；最后，改变直流梯度场至下一位置，直到完成整个一维空间的温度测量。本发明对磁纳米粒子施加不同的激励磁场，从而一维空间的温度成像转变成了对每一个小区间的点温度求解，从而在不知磁纳米粒子浓度的情况下精密、快速地获得一维空间温度场。
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公开(公告)号：CN104473642A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201410699206.8
申请日：2014-11-27
Applicant: 华中科技大学
CPC classification number: A61B5/00
Abstract: 本发明公开一种磁纳米粒子浓度成像方法，其主要创新在于采用交流磁化率的虚部来进行浓度成像，有效提高磁纳米粒子成像的空间分辨率。对磁纳米粒子施加交流磁场和直流梯度磁场，检测出一次谐波幅值和相位。利用幅值差和相位差或直接利用磁化强度变化量计算出磁纳米粒子交流磁化率的实部和虚部。通过控制直流梯度磁场的零磁场点位置，求解出不同空间位置的磁纳米粒子交流磁化率的实部和虚部，进而利用交流磁化率的虚部实现磁纳米浓度成像。从仿真数据来看，利用交流磁化率虚部进行浓度成像可以很好地提高磁纳米成像的空间分辨率。
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公开(公告)号：CN104316213A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201410576638.X
申请日：2014-10-24
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01K7/36
Abstract: 本发明公开了一种基于磁纳米粒子交流磁化率的温度测量方法，所述方法包括如下步骤：(1)确定待测对象区域，并利用通电螺线管对待测区域施加交流激励磁场；(2)利用探测线圈采集交流激励磁场下待测区域的磁感应强度H1；(3)保持交流激励磁场不变，将磁纳米样品放置于待测对象的待测区域内，利用探测线圈采集施加磁纳米样品之后待测区域的磁感应强度H2；(4)计算磁纳米粒子的交流磁化率χ的实部χ’和虚部χ”；其中的A1，A2，α都由先前检测信号H1，H2求得；(5)计算磁纳米粒子的有效弛豫时间τ，进而求得温度T。通过本发明方法能够实现非侵入式测量。
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公开(公告)号：CN103156581B
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201310065896.7
申请日：2013-03-01
Applicant: 华中科技大学
IPC: A61B5/01
CPC classification number: A61B5/01 , A61B5/0515 , G01K7/36 , G01K13/002 , G06F17/16
Abstract: 本发明公开了一种基于磁纳米粒子交流磁化强度的在体温度测量方法，属于纳米测试技术领域。本发明将磁纳米试剂置放于待测对象处，对磁纳米试剂所在区域施加交流激励磁场，采集交流激励磁场作用下磁纳米试剂的交流磁化强度，检测出交流磁化强度信号中各奇次谐波幅值，最后根据谐波和温度的关系式计算在体温度。本发明通过离散化朗之万函数和傅里叶变换预先建立各奇次谐波分量与在体温度关系式，通过该关系式求解在体温度，求解过程中无需考虑磁纳米粒子浓度信息及其有效磁矩随温度变化情况，便可实现在体温度的准确检测。
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公开(公告)号：CN104316213B
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201410576638.X
申请日：2014-10-24
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01K7/36
Abstract: 本发明公开了一种基于磁纳米粒子交流磁化率的温度测量方法，所述方法包括如下步骤：(1)确定待测对象区域，并利用通电螺线管对待测区域施加交流激励磁场；(2)利用探测线圈采集交流激励磁场下待测区域的磁感应强度H1；(3)保持交流激励磁场不变，将磁纳米样品放置于待测对象的待测区域内，利用探测线圈采集施加磁纳米样品之后待测区域的磁感应强度H2；(4)计算磁纳米粒子的交流磁化率χ的实部χ’和虚部χ”；其中的A1，A2，α都由先前检测信号H1，H2求得；(5)计算磁纳米粒子的有效弛豫时间τ，进而求得温度T。通过本发明方法能够实现非侵入式测量。
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