公开(公告)号：CN104316213B

公开(公告)日：2017-06-20

申请号：CN201410576638.X

申请日：2014-10-24

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 彭翔宇 ,  刘文中 ,  何乐

IPC: G01K7/36

Abstract: 本发明公开了一种基于磁纳米粒子交流磁化率的温度测量方法，所述方法包括如下步骤：(1)确定待测对象区域，并利用通电螺线管对待测区域施加交流激励磁场；(2)利用探测线圈采集交流激励磁场下待测区域的磁感应强度H1；(3)保持交流激励磁场不变，将磁纳米样品放置于待测对象的待测区域内，利用探测线圈采集施加磁纳米样品之后待测区域的磁感应强度H2；(4)计算磁纳米粒子的交流磁化率χ的实部χ’和虚部χ”；其中的A1，A2，α都由先前检测信号H1，H2求得；(5)计算磁纳米粒子的有效弛豫时间τ，进而求得温度T。通过本发明方法能够实现非侵入式测量。

公开(公告)号：CN104316213A

公开(公告)日：2015-01-28

申请号：CN201410576638.X

申请日：2014-10-24

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 彭翔宇 ,  刘文中 ,  何乐

IPC: G01K7/36

Abstract: 本发明公开了一种基于磁纳米粒子交流磁化率的温度测量方法，所述方法包括如下步骤：(1)确定待测对象区域，并利用通电螺线管对待测区域施加交流激励磁场；(2)利用探测线圈采集交流激励磁场下待测区域的磁感应强度H1；(3)保持交流激励磁场不变，将磁纳米样品放置于待测对象的待测区域内，利用探测线圈采集施加磁纳米样品之后待测区域的磁感应强度H2；(4)计算磁纳米粒子的交流磁化率χ的实部χ’和虚部χ”；其中的A1，A2，α都由先前检测信号H1，H2求得；(5)计算磁纳米粒子的有效弛豫时间τ，进而求得温度T。通过本发明方法能够实现非侵入式测量。