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公开(公告)号：CN107991561A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201711226436.2
申请日：2017-11-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法；所述用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置包括底端开口的壳体；位于所述壳体底端的输出转接基座；位于所述壳体内且与所述输出转接基座结合固定的信号处理及调试功能通用底板；及位于所述壳体内且位于所述信号处理及调试功能通用底板上方的振荡及加热控温功能适配插板。所述老化性能测试方法包括将石英晶体谐振器插接在振荡及加热控温功能适配插板上；将振荡及加热控温功能适配插板插接在信号处理及调试功能通用底板上；将插装完成的老化性能测试装置装入老化测试系统中并加电调试；进行老化性能测试；卸载石英晶体谐振器。本发明解决了现有方法破坏产品形貌、产品适配性差等问题。
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公开(公告)号：CN105978525A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201610268746.X
申请日：2016-04-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种石英谐振器，包括：通过石英晶片与镀有金属膜的下电极之间悬离；和/或，石英晶片与镀有金属膜的上电极之间悬离，使得石英谐振器中石英晶片与上下电极上的金属膜分离，有效地解决了由于石英谐振器中上、下电极对应的金属膜被附着在石英晶片表面使得金属膜内表面和石英晶体外表面形成内应力进而该内应力引发石英谐振器的振荡频率发生漂移的问题，提升石英谐振器输出振荡频率的稳定性。
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公开(公告)号：CN119995550A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202411967082.7
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03H9/19 , H03H3/02 , H10N30/088
Abstract: 本发明涉及谐振器技术领域，公开一种微小型高稳石英谐振器及其制备方法，微小型高稳石英谐振器包括基座、金属盖板和石英振子，基座的一面设置有至少两个引出端，另一面形成有容纳槽，容纳槽的槽底设置有至少两个引出平台，每个引出平台与一个引出端相连；石英振子位于容纳槽中，石英振子包括石英晶片和设置在石英晶片上的金属电极，金属电极具有两个延伸至石英晶片边缘的连接端，每个连接端通过导电胶粘接于一个引出平台，石英晶片的长度为1.9mm‑2.1mm，宽度为1.2mm‑1.4mm；金属盖板密封盖设在基座设置容纳槽的一面。在保证小尺寸的同时降低其在工作温度范围内的频率跳点，有利于提升应用电路频率温度稳定性。
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公开(公告)号：CN118385799A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410570662.6
申请日：2024-05-09
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种降低小型表贴晶体振荡器内部水汽含量的封口工艺方法，解决了小型表贴晶体振荡器内部水汽含量高的问题。一种降低小型表贴晶体振荡器内部水汽含量的封口工艺方法，包括步骤：确认焊封室内露点温度低于‑60℃，开始真空烘烤；真空烘烤完成后，焊接封口。本发明有效降低了小型表贴晶体振荡器内部的水汽含量，减小了石英谐振器老化的质量吸附效应和内部水汽释放效应，满足了晶体振荡器可靠性方面的需求。
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公开(公告)号：CN114384096B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202111659785.X
申请日：2021-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种用于表贴晶体元器件的X射线照相治具及设备。该治具包括底座、可动定位板、弹性元件以及活动翻板。底座的上表面设置有凹槽，凹槽底部设置有侧面拍照置槽；可动定位板可滑动地设置于凹槽内；弹性元件固定设置于底座与可动定位板之间；活动翻板可翻转地设置于可动定位板与第一侧壁之间，以用于将表贴晶体元器件从正面翻转至侧面，活动翻板上设置有正面拍照置槽。采用该治具对表贴晶体元器件正面进行X射线照相后，可以很方便地把表贴晶体元器件从正面转换到侧面位置进行X射线照相，操作简单方便，无需对表贴晶体元器件进行夹持，进而不容易对表贴晶体元器件造成损伤，能够提高表贴晶体元器件的生产效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112285455B
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202010959590.6
申请日：2020-09-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种引线元器件通用测试装置，包括：底架，所述底架包括：载板，所述载板包括：用于放置元器件的限位槽；压边板，所述压边板用于对放置于所述底架上的元器件进行固定；所述限位槽底部包括贯穿载板底部的引线过孔，将元器件引线朝下穿过所述引线过孔并放入所述限位槽内，所述引线过孔和限位槽的双重作用，用于限制元器件向四周运动，防止元器件引线承受外力。
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公开(公告)号：CN116722835A
公开(公告)日：2023-09-08
申请号：CN202310659471.2
申请日：2023-06-05
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请实施例公开一种晶体滤波器及其制作方法，滤波器包括：第一基座、第一单片晶体滤波器和第二单片晶体滤波器；第一单片晶体滤波器和第二单片晶体滤波器分别包括：第二基座和结合固定在第二基座上的石英振子，第二基座包括有第一引脚、第二引脚和第三引脚，第一引脚、第二引脚和第三引脚分别与石英振子连接；第一单片晶体滤波器的第一引脚和第二单片晶体滤波器的第一引脚分别作为晶体滤波器的输入端和输出端，第一单片晶体滤波器的第二引脚和第二单片晶体滤波器的第二引脚连接且分别与耦合电容的输入端连接。本发明大大减少了组成滤波器所用的构件数量，从而大大减小了滤波器的体积，提高了滤波器的抗振性和可靠性，可完成高精度的滤波功能。
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公开(公告)号：CN114487594A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202111533962.X
申请日：2021-12-15
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R23/02
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种表贴晶振频率跳点的优化方法，包括：S10：将表贴晶振的电极设计为长方形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；S20：将表贴晶振的电极设计为长方形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；S30：将表贴晶振的电极设计为长方形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。缩短了设计周期，优化了表贴晶振频率跳点指标。
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公开(公告)号：CN108169651B
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN201711174137.9
申请日：2017-11-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请实施例提供一种时钟晶体振荡器检测方法，包括整体检测过程、开封检测过程，所述整体检测过程包括以下步骤：用显微镜外观检查；X光检查、电流电压特征测试、密封测试、颗粒碰撞试验、超声扫描显微镜检测；所述开封检测包含以下步骤：显微镜检查、扫描电镜晶片检测、晶片功能测试、金相显微镜芯片检测、芯片功能测试、扫描电镜芯片内部检测步骤。此检测流程按照先非破坏性检测后破坏性检测的方法，缩短了失效检测步骤，提高了失效检测的效率和准确性。通过此方法的应用，可以达到在生产、试验和使用过程中提高器件质量和可靠性的目的。
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公开(公告)号：CN112676250A
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：CN202011590377.9
申请日：2020-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Inventor： 哈斯图亚
Abstract: 本发明的一种气压元件清洗装置，包括：清洗网、承载篮、清洗筒、转接盖，清洗网由丝网和支撑盖组成，丝网设置在支撑盖的端面上；承载篮上设置有若干放置孔，承载篮外侧面对称设置有两个伸出端；清洗筒一端内壁上对称设置有两个固定槽，承载篮位于清洗筒内，伸出端卡装在固定槽内，支撑盖内壁上设置有螺纹，并与清洗筒设置有固定槽的一端外壁螺纹连接；转接盖与清洗筒另一端外壁螺纹连接，转接盖上设置有进气端。本发明的目的在于提供一种清洗洁净度高、清洗效率高、清洗后元件表面能充分干燥的气压元件清洗装置。
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