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公开(公告)号：CN103175634A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201310048162.8
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: TDLAS温度校准系统，用于实现对TDLAS温度测量的校准，其特征在于，包括标准传感器温度测量系统和被校准的在真空环境下测量气体温度的TDLAS温度测量系统，所述TDLAS温度测量系统中的光学系统位于恒温槽中，所述光学系统的壳体与所述恒温槽周壁之间具有恒温液，所述标准传感器温度测量系统中的标准传感器位于所述恒温液内。
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公开(公告)号：CN103134773A
公开(公告)日：2013-06-05
申请号：CN201310048774.7
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01N21/39
Abstract: TDLAS温度测量与校准用真空腔，其特征在于，包括通过透射镜片隔开的上真空室和下真空室，所述下真空室的底部设置有反射镜片，所述下真空室的侧壁分别设置有试验气体充气口和真空获得系统接口，所述试验气体充气口连接第二充气阀，所述真空获得系统接口连接第二隔断阀，所述上真空室分别内设有准直器安装架和光电探测器安装架，所述上真空室的侧壁分别设置有光纤引入口、抽真空口和氩气充气口。
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公开(公告)号：CN103090995A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201310047501.0
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 真空环境下温度比对试验系统，所述计量系统有利于通过真空环境下的标准温度传感器对被检的真空环境下温度传感器进行计量，其特征在于，包括均温真空室，所述均温真空室分别连接缓冲真空室和稳压配气室，所述缓冲真空室通过过渡真空室连接分子泵，所述缓冲真空室、所述稳压配气室和所述分子泵各自通过预抽管路连接机械泵。
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公开(公告)号：CN102539019A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201210001769.6
申请日：2012-01-05
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 空间真空环境下的温度测量与校准平台，有利于实现接触式测温与非接触式测温的同时校准，从而服务于卫星、飞船等航天器的热真空、热平衡试验包括恒温槽，所述恒温槽内设置有双子真空腔，所述双子真空腔包括第1真空腔体和第2真空腔体，所述第1真空腔体和第2真空腔体通过三通连接真空抽取装置，所述第1真空腔体的外壁上和所述第2真空腔体的外壁上均设置有标准温度计传感器，所述标准温度计传感器连接温度二次仪表；所述第1真空腔体的真空腔中设置有激光光路反射装置，用于校准基于可调谐二极管激光吸收光谱技术的非接触式测温系统；所述第2真空腔体的真空腔用于容纳温度传感器，以校准采用所述温度传感器的接触式测温系统。
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公开(公告)号：CN114236450A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111464781.6
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种等离子体静电探针校准用模拟负载，包括可调精密恒压源、MOSFET模块、二极管阵列、相位补偿过压保护网络、屏蔽机箱和同轴接头，二极管阵列用于产生单向导通且随电压指数增长的探针电流，以模拟探针过渡区的电流信号，MOSFET模块用于在探针对地正电压下产生饱和电流信号以模拟探针的电子饱和电流；可调精密恒压源用于为MOSFET模块提供精准稳定的栅极电压，相位补偿过压保护网络用于限制MOSFET模块饱和电流、补偿探针高速扫描时二极管阵列引起的相位偏差、保护测试负载免受过高的探针电压烧毁。本发明可模拟空间等离子体的特征阻抗，与探针电源配合使用可获得大电流范围内的等离子体探针特征电压电流曲线，具有极高的精度、重复性和稳定性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111315106A
公开(公告)日：2020-06-19
申请号：CN202010203562.1
申请日：2020-03-20
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: H05H1/00
Abstract: 本申请提供了一种等离子体发生器校准系统。所述等离子体发生器校准系统包括：第一真空校准系统，所述第一真空校准系统用于校准标准量传装置以及标准探针；第二真空校准系统，所述第二真空校准系统与所述第一真空校准系统连通，其内设置有待校准等离子体发生器；其中，所述第二真空校准系统用于使用经过所述第一真空校准系统校准后的标准量传装置对所述待校准等离子体发生器进行校准。采用本申请的等离子体发生器校准系统，通过第一真空校准系统以及第二真空校准系统的组合，满足校准的同时，提供了一种高效的等离子体校准与舱室压力调节形式，在保证设备易用性、经济性的前提下，提升校准平台在校准电推进器过程的效率与灵活性。
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公开(公告)号：CN102539019B
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201210001769.6
申请日：2012-01-05
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 空间真空环境下的温度测量与校准平台，有利于实现接触式测温与非接触式测温的同时校准，从而服务于卫星、飞船等航天器的热真空、热平衡试验包括恒温槽，所述恒温槽内设置有双子真空腔，所述双子真空腔包括第1真空腔体和第2真空腔体，所述第1真空腔体和第2真空腔体通过三通连接真空抽取装置，所述第1真空腔体的外壁上和所述第2真空腔体的外壁上均设置有标准温度计传感器，所述标准温度计传感器连接温度二次仪表；所述第1真空腔体的真空腔中设置有激光光路反射装置，用于校准基于可调谐二极管激光吸收光谱技术的非接触式测温系统；所述第2真空腔体的真空腔用于容纳温度传感器，以校准采用所述温度传感器的接触式测温系统。
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公开(公告)号：CN102519670A
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN201210001886.2
申请日：2012-01-05
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 真空计电参数检定装置，有利于实现多种型号的简便校准，包括具有电流端和电压端的数字多用表，所述电流端连接第一个二选一开关的一个活动端，所述电压端连接第一个二选一开关的另一个活动端，所述第一个二选一开关的固定端连接第二个二选一开关的固定端，所述第二个二选一开关的一个活动端连接电离真空计测量电路，所述第二个二选一开关的另一个活动端连接热偶真空计测量电路；所述电离真空计测量电路包括电源，所述电源连接电阻阵列，所述电阻阵列向被测电离真空计提供离子流输入，所述电离真空计测量电路通过真空规接线座连接被测电离真空计；所述热偶真空计测量电路通过等效电阻电路连接电源，通过真空规接线座连接被测热偶真空计。
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公开(公告)号：CN114245554B
公开(公告)日：2025-01-17
申请号：CN202111465016.6
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: H05H1/00
Abstract: 本发明涉及一种等离子体推力器羽流参数多点测量装置及测量方法，多点测量装置，包括：真空舱；与所述真空舱相连接的真空泵单元；与所述真空泵单元相连接的工控单元，用于提供并维持所述真空舱的真空环境；以及测量单元；所述测量单元包括：至少两个设置在所述真空舱内的三维移动平台；设置于所述三维移动平台上的探测结构；与所述探测结构连接，用于采集数据的采集单元；探测结构采用朗缪尔探针、RPA探针或Faraday探针。本发明可以提高等离子体测量效率、能够连续测量羽流多点对称性，打破朗缪尔探针使用的局限性、屏蔽探针电路中的误差干扰，同时，本发明的多点测量装置结构简单、稳定可靠，实用性强。
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公开(公告)号：CN116222824A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310271436.3
申请日：2023-03-20
Applicant: 北京东方计量测试研究所 , 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明涉及一种高精度低温温度传感器校准装置及校准方法，所述装置包括：氦气瓶(1)、水冷机组(2)、GM制冷机(3)、恒温校准舱系统(4)和控制机柜(5)，氦气瓶(1)和恒温校准舱系统(4)连接，控制恒温校准舱系统(4)的温度场均匀性；水冷机组(2)和GM制冷机(3)连接，为GM制冷机(3)提供冷量；GM制冷机(3)和恒温校准舱系统(4)连接，控制恒温校准舱系统(4)内的温度；控制机柜(5)和恒温校准舱系统(4)连接，控制恒温校准舱系统(4)内的温度和压力参数；恒温校准舱系统(4)由上舱体和下舱体两部分组成。本发明的静态有效温度场均匀性可达10mK，并能同时校准多个不同规格的温度传感器。
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