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公开(公告)号：CN116819238A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310317975.6
申请日：2023-03-28
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及多芯线缆电性能测试系统及测试方法，所述多芯线缆电性能测试系统包括：矩阵开关电路，包括多个分支，各分支均包括第一总线和第二总线，所述第一总线上并联多个第一总线通道继电器，所述第二总线上并联多个第二总线通道继电器，各所述第一总线通道继电器和各所述第二总线通道继电器所在的支路均连接至待测线缆，所述第一总线通过第一总线继电器分别与各所述第一总线通道继电器所在支路连接，所述第二总线通过第二总线继电器分别与各所述第二总线通道继电器所在支路连接；MCU模块，被配置为向所述矩阵开关电路下发控制指令。本发明可根据导通或绝缘测试需求按照预定程控逻辑测试，可有效提高测试效率和测试精度。
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公开(公告)号：CN103115714B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201310048775.1
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01L5/00
Abstract: 全自动磁性表座磁力检测装置，采用该检测装置能够避免磁性表座不合格时可能对检测人员产生的伤害，其特征在于，包括机箱，所述机箱内具有竖立设置的底板，所述底板的上部固定有电机，所述电机通过螺杆往下连接拉力传感器，所述拉力传感器通过活动悬挂组件连接磁性表座固定机构，所述磁性表座固定机构的下方设置有磁性表座工作磁力吸附平台，所述磁性表座工作磁力吸附平台为角铁结构的一个平面，所述角铁结构的另一面与所述底板的下部通过螺栓紧固连接。
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公开(公告)号：CN103175634A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201310048162.8
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: TDLAS温度校准系统，用于实现对TDLAS温度测量的校准，其特征在于，包括标准传感器温度测量系统和被校准的在真空环境下测量气体温度的TDLAS温度测量系统，所述TDLAS温度测量系统中的光学系统位于恒温槽中，所述光学系统的壳体与所述恒温槽周壁之间具有恒温液，所述标准传感器温度测量系统中的标准传感器位于所述恒温液内。
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公开(公告)号：CN103134773A
公开(公告)日：2013-06-05
申请号：CN201310048774.7
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01N21/39
Abstract: TDLAS温度测量与校准用真空腔，其特征在于，包括通过透射镜片隔开的上真空室和下真空室，所述下真空室的底部设置有反射镜片，所述下真空室的侧壁分别设置有试验气体充气口和真空获得系统接口，所述试验气体充气口连接第二充气阀，所述真空获得系统接口连接第二隔断阀，所述上真空室分别内设有准直器安装架和光电探测器安装架，所述上真空室的侧壁分别设置有光纤引入口、抽真空口和氩气充气口。
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公开(公告)号：CN103090995A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201310047501.0
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 真空环境下温度比对试验系统，所述计量系统有利于通过真空环境下的标准温度传感器对被检的真空环境下温度传感器进行计量，其特征在于，包括均温真空室，所述均温真空室分别连接缓冲真空室和稳压配气室，所述缓冲真空室通过过渡真空室连接分子泵，所述缓冲真空室、所述稳压配气室和所述分子泵各自通过预抽管路连接机械泵。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115900129A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202310017762.1
申请日：2023-01-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种低温温度传感器校准的制冷装置，包括低温冷源，冷量分配器、真空绝热系统和柔性冷链，真空绝热系统设置有多层真空腔，低温冷源依次穿过多层真空腔的外层筒体、中层筒体并通过冷量分配器与内层筒体连接；柔性冷链连接冷量分配器和内层筒体的顶端；低温冷源为电制冷机。本发明，采用电制冷机作为主要的制冷源，通过合理设计冷量分配器，抑制了电制冷机冷源的温度波动，同时实现了对冷量的动态分配，与柔性冷链相结合，分配部分冷量直接传导到校准区的上部，实现了恒温器上部和底部同时降温的效果，克服了制冷机处于下部，只能通过热传导由下而上传递冷量，减小了上下的温度梯度，提高了温度均匀度。
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公开(公告)号：CN114674275A
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN202011549958.8
申请日：2020-12-24
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01B21/32
Abstract: 本申请公开了一种高低温引伸计的校准装置及方法，所述装置包括：温箱，用于为引伸计提供相应的高低温环境；移动心轴和固定心轴，设置于所述温箱内，并安装所述引伸计；测微头，设置于所述温箱外部，通过隔热材料与所述移动心轴连接；定位机构，安装于所述温箱外部；测长仪表，安装于所述定位机构上。本申请使高低温引伸计校准装置的测量结果的不确定度达到Urel＝0.06％～0.10％，能够满足0.5级及以下高低温引伸计的校准工作。
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公开(公告)号：CN114236222A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111465080.4
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种静电探针电流测量装置，包括：采样电阻(1)，用于采集所述静电探针反馈的信号；放大电路(2)，用于接收所述采样电阻(1)采集的信号并进行放大；采集器(3)，用于对经过所述放大的信号进行模数转换；处理器(4)，用于对经过所述模数转换的信号进行处理得到测量结果；所述放大电路(2)对其接收的信号按量程分多路进行放大，所述采集器(3)对经过所述放大的多路信号分别进行模数转换，所述处理器(4)对经过所述模数转换的多路信号进行合并处理。本发明的测量装置可以实现大动态范围信号的自动测量，保证信号测量的精度，可实现无人值守的自动测量，尤其适用于信号大小未知的不可重复试验，保证信号能完整测量。
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公开(公告)号：CN111654966A
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN202010504516.5
申请日：2020-06-05
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: H05H1/00
Abstract: 本公开实施例公开了一种等离子体测量装置，该等离子体测量装置包括：移动台，用于在第一方向或第二方向上移动，第一方向与第二方向不同；支撑架，位于移动台上，能够跟随移动台的移动而移动；至少两个探针，位于支撑架上，用于通过支撑架的移动，与等离子体的至少两个点接触并同时测量至少两个点的等离子体特征参数。通过本公开实施例，能够提高测量效率及精度。
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公开(公告)号：CN103115699A
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN201310048769.6
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 一种真空下温度传感器校准用均温系统，所述均温系统既可以实现热辐射式测温，又可以实现热传导式测温，从而有利于实现真空下温度传感器校准，其特征在于，包括恒温槽，所述恒温槽内有恒温介质，所述恒温槽的槽口上设置有覆盖所述槽口的吊固平台，所述吊固平台将均温真空室吊装固定在所述恒温槽内的恒温介质中，所述均温真空室的上方与弯管的一端连接，所述弯管从所述吊固平台穿越，所述弯管的另一端设置有连接真空抽气系统的接口，所述均温真空室的外壁设置有铜管，所述铜管的底端被封堵，所述铜管的顶端穿越在所述吊固平台之外，所述均温真空室内设置有绝热传感器固定支架。
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