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公开(公告)号：CN103115699A
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN201310048769.6
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 一种真空下温度传感器校准用均温系统，所述均温系统既可以实现热辐射式测温，又可以实现热传导式测温，从而有利于实现真空下温度传感器校准，其特征在于，包括恒温槽，所述恒温槽内有恒温介质，所述恒温槽的槽口上设置有覆盖所述槽口的吊固平台，所述吊固平台将均温真空室吊装固定在所述恒温槽内的恒温介质中，所述均温真空室的上方与弯管的一端连接，所述弯管从所述吊固平台穿越，所述弯管的另一端设置有连接真空抽气系统的接口，所述均温真空室的外壁设置有铜管，所述铜管的底端被封堵，所述铜管的顶端穿越在所述吊固平台之外，所述均温真空室内设置有绝热传感器固定支架。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103134773A
公开(公告)日：2013-06-05
申请号：CN201310048774.7
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01N21/39
Abstract: TDLAS温度测量与校准用真空腔，其特征在于，包括通过透射镜片隔开的上真空室和下真空室，所述下真空室的底部设置有反射镜片，所述下真空室的侧壁分别设置有试验气体充气口和真空获得系统接口，所述试验气体充气口连接第二充气阀，所述真空获得系统接口连接第二隔断阀，所述上真空室分别内设有准直器安装架和光电探测器安装架，所述上真空室的侧壁分别设置有光纤引入口、抽真空口和氩气充气口。
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公开(公告)号：CN103090995A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201310047501.0
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 真空环境下温度比对试验系统，所述计量系统有利于通过真空环境下的标准温度传感器对被检的真空环境下温度传感器进行计量，其特征在于，包括均温真空室，所述均温真空室分别连接缓冲真空室和稳压配气室，所述缓冲真空室通过过渡真空室连接分子泵，所述缓冲真空室、所述稳压配气室和所述分子泵各自通过预抽管路连接机械泵。
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公开(公告)号：CN103134773B
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201310048774.7
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01N21/39
Abstract: TDLAS温度测量与校准用真空腔，其特征在于，包括通过透射镜片隔开的上真空室和下真空室，所述下真空室的底部设置有反射镜片，所述下真空室的侧壁分别设置有试验气体充气口和真空获得系统接口，所述试验气体充气口连接第二充气阀，所述真空获得系统接口连接第二隔断阀，所述上真空室分别内设有准直器安装架和光电探测器安装架，所述上真空室的侧壁分别设置有光纤引入口、抽真空口和氩气充气口。
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公开(公告)号：CN103090995B
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201310047501.0
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 真空环境下温度比对试验系统，所述计量系统有利于通过真空环境下的标准温度传感器对被检的真空环境下温度传感器进行计量，其特征在于，包括均温真空室，所述均温真空室分别连接缓冲真空室和稳压配气室，所述缓冲真空室通过过渡真空室连接分子泵，所述缓冲真空室、所述稳压配气室和所述分子泵各自通过预抽管路连接机械泵。
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公开(公告)号：CN103115699B
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201310048769.6
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 一种真空下温度传感器校准用均温系统，所述均温系统既可以实现热辐射式测温，又可以实现热传导式测温，从而有利于实现真空下温度传感器校准，其特征在于，包括恒温槽，所述恒温槽内有恒温介质，所述恒温槽的槽口上设置有覆盖所述槽口的吊固平台，所述吊固平台将均温真空室吊装固定在所述恒温槽内的恒温介质中，所述均温真空室的上方与弯管的一端连接，所述弯管从所述吊固平台穿越，所述弯管的另一端设置有连接真空抽气系统的接口，所述均温真空室的外壁设置有铜管，所述铜管的底端被封堵，所述铜管的顶端穿越在所述吊固平台之外，所述均温真空室内设置有绝热传感器固定支架。
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