一种用于中子Soller准直器发散角测试方法

    公开(公告)号:CN104216000B

    公开(公告)日:2017-03-29

    申请号:CN201410443111.X

    申请日:2014-09-02

    Abstract: 本发明公开了一种用于中子Soller准直器发散角测试方法,包括如下步骤:选取高斯函数用来描述中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数,将中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数进行数学积分形成摇动曲线表达式;然后实验测量得到中子通过待测中子Soller准直器、参考中子Soller准直器后中子强度随摇动角度变化的摇动曲线实验数据;随后利用摇动曲线表达式对摇动曲线实验数据进行数据拟合得到摇动曲线标准误差;计算得到待测中子Soller准直器的发散角。本发明无需限制中子源的发散角范围,测试过程中参考准直器发散角可以任选,相对于6个待定参数的5次多项式,并且可以在一定误差范围内方便估算待测准直器发散角。

    一种用于中子Soller准直器发散角测试方法

    公开(公告)号:CN104216000A

    公开(公告)日:2014-12-17

    申请号:CN201410443111.X

    申请日:2014-09-02

    Abstract: 本发明公开了一种用于中子Soller准直器发散角测试方法,包括如下步骤:选取高斯函数用来描述中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数,将中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数进行数学积分形成摇动曲线表达式;然后实验测量得到中子通过待测中子Soller准直器、参考中子Soller准直器后中子强度随摇动角度变化的摇动曲线实验数据;随后利用摇动曲线表达式对摇动曲线实验数据进行数据拟合得到摇动曲线标准误差;计算得到待测中子Soller准直器的发散角。本发明无需限制中子源的发散角范围,测试过程中参考准直器发散角可以任选,相对于6个待定参数的5次多项式,并且可以在一定误差范围内方便估算待测准直器发散角。

    中子束流位置探测仪
    46.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102279409B

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201110179455.0

    申请日:2011-06-28

    Abstract: 本发明涉及中子束流定位技术,具体涉及一种中子束流位置探测仪。其结构包括用于将中子影像转化成可见光影像的闪烁屏,闪烁屏后侧设有用于将可见光折射到相机的反射镜,反射镜折射的光线经过镜头汇聚到CCD相机,其中,所述的反射镜共有两块,两块反射镜平行设置且与闪烁屏形成一定的夹角;闪烁屏和第一反射镜设置于探测头腔内,第二反射镜设置在探测腔的后端,镜头和CCD相机位于相机腔内;探测头腔、探测腔、相机腔顺次连接,并共同设置在移动平台上。本发明使用模块化设计,可满足不同测量环境的空间要求,且能够大幅提高定位的效率和安全性。

    中子织构衍射仪测控方法及系统

    公开(公告)号:CN102353688A

    公开(公告)日:2012-02-15

    申请号:CN201110179453.1

    申请日:2011-06-28

    Abstract: 本发明涉及中子织构谱仪的自动化测量技术,具体涉及一种中子织构衍射仪测控方法及系统。该方法首先通过监视束流的稳定性,为探测器计数的测量模式提供依据;然后扫描样品的衍射谱,并查看晶面的衍射峰及其孤立程度,为选择衍射角提供依据,然后将全部感兴趣的晶面极图测量参数一次性输入计算机,通过自动测量得到织构的全部信息;最后,如果发现效果不好的数据点,则重新测量并自动替换原来的数据。本发明从整体上考虑了当前软件的不足,针对当前的问题设计了详细可行的技术方案,该技术方案具有可实施性,能够准确高效自动化的测量材料的织构,并最大程度的提高测量精度。

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