公开(公告)号：CN109725013B

公开(公告)日：2021-07-13

申请号：CN201811563260.4

申请日：2018-12-20

申请人： 深圳晶泰科技有限公司

发明人： 王炎 ,  刘雪涛 ,  张万超 ,  雷焱森 ,  刘阳 ,  温书豪 ,  马健 ,  赖力鹏

IPC分类号： G01N23/2005 ,  G01N23/20058

摘要： 本发明属于晶体结构的分析领域，具体涉及一种X射线衍射数据分析系统，包括格式转换模块、数据处理模块、数据分析模块、批处理模块、计算服务模块、资源统计服务模块、用户认证模块。本发明提供的X射线衍射数据分析系统，可以批量进行数据处理，结合人工智能技术，增强数据采集能力，是一种更高效的指标化方法，丰富的可视化分析，能有效的降低人工成本。

公开(公告)号：CN113092507A

公开(公告)日：2021-07-09

申请号：CN202110295244.7

申请日：2021-03-19

申请人： 四川大学

发明人： 田晓宝 ,  楼旭辉 ,  陈宇 ,  周志宏 ,  范海冬 ,  张卓 ,  王清远 ,  吴主龙

IPC分类号： G01N23/20058

摘要： 本发明提供一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，涉及材料微观结构分析技术领域。该种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，包括以下具体内容：S1.将待测材料放置在X射线单晶体衍射仪中，关闭X射线单晶体衍射仪中的灯光，启动X射线单晶体衍射仪的X射线扫描机构，从而利用X射线扫描机构对待测材料的表面进行扫描和分析；S2.将X射线单晶体衍射仪扫描后得到的材料晶体结构数据导入计算机文件夹中存储备用；S3.将经过X射线扫描后的待测材料从X射线单晶体衍射仪中取出。通过设计简单的智能识别分析方法，不仅可以快速的分析材料的晶体结构以及相关缺陷，同时也能够结合图形信息观察材料表面成分的分布情况，从而使其整体的工作效率大大提高。

公开(公告)号：CN111982943B

公开(公告)日：2021-07-06

申请号：CN202010778339.X

申请日：2020-08-05

申请人： 上海大学

发明人： 陈日明 ,  周晶晶 ,  吕迎春 ,  俞卓尔 ,  郭炳焜

IPC分类号： G01N23/20025 ,  G01N23/20058 ,  G01N23/203 ,  G01N23/2055 ,  G01N23/2204 ,  G01N23/2206 ,  G01N23/2251

摘要： 本发明涉及一种EBSD测试样品台，属于试验器材领域，包括夹具体和底座，夹具体通过其底端设置在底座上，其特征在于，夹具体为直角梯形的四棱柱，所述夹具体的四个侧端面沿其周向依次为第一端面、第二端面、第三端面、第四端面，第一端面作为夹具体的工作面，其与夹具体的底端呈70°夹角，夹具体上开有至少一开槽，开槽分别与第一端面、第二端面、第三端面相连通；与夹具体相配合的还设置有挡板，挡板设置于所述开槽中并与夹具体可分离式连接，且挡板的一侧端面作为工作端；本发明能够适用于薄型样品如电池极片、无机晶体薄膜等的EBSD测试，尤其适用于日立SU8000系列冷场扫描电镜的EBSD测试。

公开(公告)号：CN112862952A

公开(公告)日：2021-05-28

申请号：CN202110125103.0

申请日：2021-01-29

申请人： 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所

发明人： 张永皞 ,  杨川 ,  杨琴 ,  孙明艳 ,  张志清 ,  刘庆 ,  陈捷 ,  范啟超 ,  黄姝珂

IPC分类号： G06T17/00 ,  G06T7/00 ,  G06K9/32 ,  G06K9/62 ,  G01N3/42 ,  G01N23/203 ,  G01N23/2055 ,  G01N23/20058 ,  G01N23/2251

摘要： 本发明公开了一种合金型金属材料的三维重建方法，涉及三维重建技术领域，解决了EBSD并不擅长于复杂物相形貌的精确表征的问题。本发明包括在待测合金型金属材料的表面选定测试区域，在测试区域旁打下硬度压痕，测硬度压痕对角线长度，并进行抛光处理，测量抛光后的硬度压痕对角线长度变化，计算抛光深度确定相邻的测试面间距；对每层测试面的EBSD图像和BSE图像进行匹配校正；对校正后的各层测试面的二维测试图像进行三维重建。本发明通过BSE图像采集有效弥补了EBSD技术在辨析复杂形貌第二相颗粒方面的不足，所获取的三维重建体可更加准确地反映材料内部微观组织的真实信息。

公开(公告)号：CN111351811B

公开(公告)日：2021-04-13

申请号：CN201811580387.7

申请日：2018-12-24

申请人： 清华大学

发明人： 李雪明 ,  周珩

IPC分类号： G01N23/20058

摘要： 本发明实施例提供一种晶体电子衍射数据采集方法及装置，该方法包括：获取相机拍摄的样品台上晶体每一角度对应的图像信号，其中，所述样品台在所述相机每次曝光时按照相同方向转动预设角度，所述样品台在所述相机快门关闭时保持静止；根据所述晶体每一角度对应的图像信号获取所述晶体的电子衍射数据。本发明实施例通过保证相机曝光时样品台才会旋转，也就是说相机曝光时晶体旋转，除去相机曝光的时间，其它时间样品台台保持静止，通过该方法，实现了相机对晶体的连续拍照，使得相机可以完全不受曝光时间、帧数和帧率的限制，并且大幅度降低了收集电子衍射数据时对硬件的要求，使得单帧模式的相机也可以被用来收集高质量的衍射数据。

公开(公告)号：CN112378937A

公开(公告)日：2021-02-19

申请号：CN202011281334.2

申请日：2020-11-16

申请人： 重庆大学

发明人： 黄天林 ,  黄小愉 ,  吴桂林

IPC分类号： G01N23/203 ,  G01N23/205 ,  G01N23/20058 ,  G01N23/20025

摘要： 本发明公开了一种平插式的电子探头，涉及电子显微成像技术、金属材料晶体学表征技术领域，使其具有更高的空间分辨率，同时支持样品的大范围移动，以及能够直接获取背散射电子图像；提高大尺寸样品的适用性、以及与ECCI技术联合使用的便利性，具体方案为：包括电子枪、传输通道、样品室、信号读取装置和信号接收装置，电子枪用于发射电子束，电子束通过传输通道进入至样品室，样品室内设有样品台，样品台用于放置样品，电子束照射到样品并进行背散射，信号读取装置用于接收经样品台背散射的电子束，信号读取装置为CCD相机，CCD相机与信号接收装置数据连接。本发明提供的一种平插式的电子探头空间分辨率高，直插式的EBSD探头工作距离更小。

公开(公告)号：CN112051288A

公开(公告)日：2020-12-08

申请号：CN202011062009.7

申请日：2020-09-30

申请人： 深圳市美信检测技术股份有限公司

发明人： 张伟 ,  邓伟 ,  许佳佳 ,  彭璟 ,  樊申腾 ,  张涛

IPC分类号： G01N23/203 ,  G01N23/20058 ,  G01N23/205 ,  G01N23/02 ,  G01N23/20016 ,  G01N23/20

摘要： 本发明公开直接电子探测相机进行EBSD和TKD测试切换的装置，涉及测试装置技术领域，主要结构包括包括底座、滑动臂、中间臂和前臂；所述滑动臂可滑动的设置于所述底座上，所述中间臂可转动的设置于所述滑动臂与所述前臂之间，直接电子探测器设置于所述前臂的前端。通过调整中间臂和前臂的角度以改变直接电子探测器的角度，通过滑动臂改变直接电子探测器的的水平方向的位置，从而能够实现方便、快捷、自动地在块体材料的EBSD和薄样品的TKD之间切换。使用DED相机，利用其没有光纤或透镜的优点，便于大角度切换其采集方向。

公开(公告)号：CN111650227A

公开(公告)日：2020-09-11

申请号：CN202010580400.X

申请日：2020-06-23

申请人： 广西大学

发明人： 王双宝 ,  魏波 ,  韩相彬 ,  刘玉莹

IPC分类号： G01N23/20008 ,  G01N23/20058

摘要： 本发明公开一种块体金属样品的透射电镜原位加热芯片的制样方法，包括以下步骤：1）块体金属透射电镜样品获取；2）TEM成像记录；3）样品转移前的保护；4）样品的切割和转移；5）样品的清洗。本发明能减少传统金属样品的透射电镜原位加热芯片的制样步骤，节约制样时间和成本，提升制样的效率，避免FIB样品制备过程中，将样品用Pt焊接到微操作手时Pt原子沉积到样品表面，防止样品较薄时Ga离子注入样品而引起结构损伤。

公开(公告)号：CN108490011B

公开(公告)日：2020-08-14

申请号：CN201810186946.X

申请日：2018-03-07

申请人： 燕山大学

发明人： 闫志刚 ,  郑春雷 ,  林耀军

IPC分类号： G01N23/20008 ,  G01N23/20058 ,  G01N23/20 ,  G01N23/2055

摘要： 一种透射电镜块体样品已检测区域的定位方法，通过对透射电镜块体样品薄区孔的记录，来测量透射电镜块体样品再检测时相对第一检测时的旋转角度，求出第二次检测时透射电镜块体样品坐标系相对第一次检测时样品坐标系的旋转矩阵，进而根据第一次检测时特征区域的样品台坐标X、Y、Z、α、β来计算第二次检测的新坐标，可快速找到这些特征区域，实现使用透射电镜对同一特征区域进行数据补充，也可用于确保样品在不同透射电镜下检测同一特征区域。本发明具有以下优点：不需要添加硬件设备，操作简单，易行；而且计算简单，易于编程实现，可作为透射电子显微镜精确分析的辅助工具。

公开(公告)号：CN108169262B

公开(公告)日：2020-06-02

申请号：CN201711384239.3

申请日：2017-12-20

申请人： 北京大学

发明人： 张志斌 ,  徐小志 ,  俞大鹏 ,  王恩哥 ,  刘开辉

IPC分类号： G01N23/20 ,  G01N23/203 ,  G01N23/20058

摘要： 本发明提供了一种快速标定金属晶面的方法，所述金属例如为铜箔，利用高温氧化后铜表面形成的氧化物的厚度与颜色的关系来判断晶面，不同晶面由于氧化速率不同，氧化物薄膜就会有不同的厚度，由此的衬度(颜色)则有不同的差别。不同晶面的区别在光学显微就下就可以明显地看到。本发明提出的方法，通过非常简单的操作，在光学显微镜下即可区分出不同的晶面。