一种提高假单孢菌石油烃降解能力的方法

    公开(公告)号:CN103333881A

    公开(公告)日:2013-10-02

    申请号:CN201310289198.5

    申请日:2013-07-11

    IPC分类号: C12N13/00 C12N15/01

    摘要: 本发明涉及一种提高假单孢菌石油烃降解能力的方法。采用假单孢菌降解石油烃是一种有效的方法,但目前主要问题是由于其降解效率低而导致降解成本高,变异频谱窄,变异率低,操作较复杂。一种提高假单孢菌石油烃降解能力的方法,其特征在于:采用离子辐射系统产生的离子束注入假单孢菌,使假单孢菌的石油烃降解特性得以提高。本发明采用的离子辐射诱变育种,其离子能量和注入剂量方便调整和控制,适应性强,变异频率高,变异谱宽及变异稳定性好。

    一种光学零件几何参数非接触测量方法及其测量装置

    公开(公告)号:CN101922919B

    公开(公告)日:2013-06-19

    申请号:CN201010273721.1

    申请日:2010-09-07

    发明人: 梁海锋 刘缠牢

    IPC分类号: G01B11/02 G01B11/06

    摘要: 本发明属于一种几何量的非接触光学测量领域,具体是一种光学零件几何参数非接触测量方法及其测量装置。本发明要克服现有技术存在的速度慢,测量动态范围小,成本昂贵,不适用于在线快速测量的问题。为了克服现有技术存在的问题,本发明提供的技术方案是:一种光学零件几何参数非接触测量方法:对平行光进行电扫描光开关的调制,形成环带状平行光,经锥透镜(螺纹透镜)会聚实现不同距离的会聚点,利用会聚点瞄准并识别光学零件的表面,从而实现对光学零件几何厚度、移动距离以及光学透镜中心高的测量。本发明具有以下优点:成本低,稳定性好,适合快速在线测量,可以实现比光谱扫描类仪器大的测量动态范围,同时仪器结构简单,容易加工。

    等离子体加工装置
    33.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101289285A

    公开(公告)日:2008-10-22

    申请号:CN200810150008.0

    申请日:2008-06-06

    IPC分类号: C03C23/00

    摘要: 本发明涉及非接触法抛光技术领域,具体涉及一种等离子体加工装置。本发明的目的是要解决现有技术存在的抛光表面会引入外来元素,污染抛光表面,并且会因反应气体元素吸附在抛光表面,破坏抛光表面晶格完整性,易造成亚表面损伤的问题。为解决现有技术存在的问题,所提供的技术方案是:一种等离子体加工装置,包括工作室和其内部的电容耦合等离子体发生器,所述的电容耦合等离子体发生器包括进气口、射频接头和内套,所述的工作室为真空室,所述电容耦合等离子体发生器的内套外侧还依次设置有绝缘层和屏蔽层,内套、绝缘层和屏蔽层以过盈配合方式连接,在屏蔽层的外侧环设有环形磁铁,该环形磁铁通过直线移动机构联接于屏蔽层上。

    一种自由曲面光学系统的设计方法

    公开(公告)号:CN117891067A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202410071456.0

    申请日:2024-01-18

    IPC分类号: G02B27/00

    摘要: 一种自由曲面光学系统设计的方法,包括选择非球面系统,非球面方程为基础,利用光学设计软件,导出非球面面形数据;将得到的非球面面形数据导入到数据处理软件中;引入自由曲面的数学描述表达式;将非球面高次项所构成的面形分布作为转化自由曲面面形部分,进行自由曲面面形的拟合;利用优化拟合算法将非球面面形分布转换为自由曲面面形分布,得到自由曲面数学表达式中各项的拟合系数;将转化得到的自由曲面光学系统,本发明得到的自由曲面光学系能够有效提升传统光学系统的成像质量,无需改变原有光学系统性能,直接将非球面面形替换为自由曲面面形,此方法在MTF调制传递函数与畸变方面有着明显的提升,满足光学系统更高成像质量的发展方向。

    一种柔性近眼显示波导光机系统的制作方法

    公开(公告)号:CN113759458A

    公开(公告)日:2021-12-07

    申请号:CN202110904871.6

    申请日:2021-08-07

    IPC分类号: G02B6/00 G02B27/00 G02B27/01

    摘要: 本发明公开了一种柔性近眼显示波导光机系统的制作方法,包括:波导片;所述波导片由波导基底、耦入区域和耦出区域构成;所述波导片的一侧斜面位置设置有所述耦入区域,在所述耦入区域设置有用于折光以及成像的第一折光区域和第二折光区域,将光线折转于所述第二折光区域内,将光线折转于所述波导片内部;所述波导片中部为传输区域,光线全反射于所述波导片内部,最终传输进入所述耦出区域;所述波导片的另一侧设置有用于二维扩瞳的所述耦出区域;该方法设计合理、解决了工业量产技术问题、可以采用模板压印和材料喷覆技术实现柔性波导片的制作;制作生成的波导片具有一定的延展性和弯曲性,增加了工作场所的灵活性。

    兼容电磁屏蔽红外增透薄膜器件的制备方法

    公开(公告)号:CN113504588A

    公开(公告)日:2021-10-15

    申请号:CN202110763474.1

    申请日:2021-07-06

    IPC分类号: G02B1/115 H05K9/00

    摘要: 本发明涉及兼容电磁屏蔽红外增透薄膜器件的制备方法,该器件是将介质薄膜作为红外增透层与石墨烯薄膜组合,构建三明治结构的红外增透薄膜器件;利用石墨烯网栅叠加红外增透薄膜的方法实现兼容电磁屏蔽红外增透薄膜器件的制备。对其透明电磁屏蔽性能进行测试分析,本发明薄膜器件保持了红外增透膜的高透过率,同时具备良好的电磁屏蔽性能,能够解决现有装备窗口不能同时满足红外增透和电磁屏蔽的问题,研究成果可广泛的应用于各类装备窗口表面并为新型多功能复合薄膜的应用奠定技术基础。

    一种提高氧化物薄膜激光损伤阈值的热处理设备与方法

    公开(公告)号:CN105200389B

    公开(公告)日:2018-11-16

    申请号:CN201510727119.3

    申请日:2015-10-30

    IPC分类号: C23C14/58 C23C14/08

    摘要: 本发明提供一种提高氧化物薄膜激光损伤阈值的热处理设备与方法。该设备包括:样品台,位于腔室的内部,设有石英玻璃衬底和氧化物光学薄膜,该薄膜经由真空热蒸发技术或磁控溅射进行镀膜处理制成;加热装置,位于样品台的上方以及两侧,用于对样品台进行加热;输入气路管,用于将高纯度氧气充入腔室;真空泵,用于对腔室进行抽真空处理,使真空度达到2.0×10‑4Pa;以及负偏压电路,电性耦接至样品台。相比于现有技术,本发明的负偏压电路将电压电位调至500V,施加的电场使充入的高纯度氧气进行辉光放电,形成的氧离子对薄膜表面进行轰击,从而使薄膜晶化并可减少氧化物光学薄膜的表面缺陷。

    手机嵌入式光谱仪
    38.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108801456A

    公开(公告)日:2018-11-13

    申请号:CN201810892708.0

    申请日:2018-08-07

    发明人: 梁海锋

    IPC分类号: G01J3/02 G01J3/28

    CPC分类号: G01J3/02 G01J3/28

    摘要: 本发明涉及一种手机嵌入式光谱仪,包括一种手机嵌入式光谱仪,包括入射狭缝、准直镜、色散光栅、成像镜和成像面CCD,所述入射狭缝、准直镜、色散光栅、成像镜和成像面CCD设置于一块扁平光学材料的侧面,所述入射光通过入射狭缝到达设置在光路上的准直镜,准直镜出射平行光到色散光栅,经过色散光栅后,各种色光平行出射到成像镜,成像镜出射的光线汇聚成像在成像面CCD,成像面CCD和手机处理系统连接,使手机获得光谱识别能力。本发明为共体光学原件,设计的光学系统尺寸小,可以嵌入目前主流的手机中,不需要装配调试光学系统,适合大规模的生产。

    一种光学薄膜激光毁伤的识别装置及识别方法

    公开(公告)号:CN103954680B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201410200783.8

    申请日:2014-05-13

    IPC分类号: G01N27/64

    摘要: 本发明公开了一种光学薄膜激光毁伤的识别方法及装置,通过采集质荷比分布,用计算机软件进行质谱分析与元素判别,就能确定所毁伤材料中包含的元素种类,从而准确、在线、快速判别出薄膜是否发生损伤。采用该方法的装置由测试样品台、质荷比采集系统及计算机运算系统组成。本发明能够实现在线、实时、快速、准确判别薄膜或光学元件在强激光下的毁伤状态。将该方法应用于激光损伤阈值测试中,可实现测试系统的集成化、自动化、智能化。

    一种薄膜损伤的判别方法
    40.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103163147A

    公开(公告)日:2013-06-19

    申请号:CN201310047480.2

    申请日:2013-02-06

    IPC分类号: G01N21/88 G01N21/49 G01N21/59

    摘要: 本发明提出了一种薄膜损伤的判别方法,包括以下步骤:1)将测试光束作用于待测光学薄膜获取背景光能量Eb;2)变化测试光束与待测光学薄膜的角度0,获取在当前角度0的散射光能量Eθ;3)获取测试光束波长处待测光学薄膜的透过率Tλ;4)根据步骤1)一步骤3)中的背景光能量Eb散射光能量Eθ、待测光学薄膜的透过率Tλ,得到相对光能量分布5)建立薄膜损伤判别模型:6)根据步骤5)的薄膜损伤判别模型,判别待测光学薄膜是否损伤;本发明针对不同膜系功能的损伤判别的统一标准,给出了判别损伤标准的方法,损伤判别过程不需要人为干预,即不同测量者可以获得统一的结果。