半导体激光装置
    31.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1906821A

    公开(公告)日:2007-01-31

    申请号:CN200580001983.X

    申请日:2005-03-08

    Abstract: 本发明涉及一种半导体激光装置,其具备用于防止散热器的制冷剂流路的腐蚀,并且长期稳定地对半导体激光器阵列进行冷却的构造。该半导体激光装置具备半导体激光器堆、制冷剂供给器、绝缘性配管和制冷剂。制冷剂供给器向半导体激光器堆供给制冷剂。制冷剂包含碳氟化合物。绝缘性配管是具有柔软性的绝缘性管子。在绝缘性配管内配置有接地的导电体。该导电体起着除去当制冷剂在绝缘性配管内流通时生成的静电的作用。

    透射型光电阴极和电子管
    35.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1628364A

    公开(公告)日:2005-06-15

    申请号:CN03803429.8

    申请日:2003-02-24

    CPC classification number: H01J31/50 H01J1/34 H01J31/506 H01J2201/3421

    Abstract: 本发明的透射型光电阴极包括以下构成:由金刚石或以金刚石为主要成分的材料形成的光吸收层(1)、增强光吸收层(1)机械强度的支持框(21)、与光吸收层(1)的入射面相对设置的第1电极(31)、以及与光吸收层(1)的出射面相对设置的第2电极(32)。而且,在光吸收层(1)的入射面和出射面之间施加电压在光吸收层(1)内部形成有电场,一旦待检测光入射在光吸收层(1)内部有光电子产生,光电子就因光吸收层(1)内部所形成的电场而在出射面方向上得到加速,从而放射出到透射型光电阴极的外部。

    齿科用治疗装置
    37.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103596520A

    公开(公告)日:2014-02-19

    申请号:CN201280027064.X

    申请日:2012-05-17

    CPC classification number: A61C1/0046 A61C1/0015 A61C3/02

    Abstract: 本发明提供一种可以更可靠地低侵袭地进行齿科治疗的齿科用治疗装置。齿科用治疗装置(10A)具备:输出具有5.7μm~6.6μm的波段的波长的激光(L)的激光光源(11)、脉冲驱动激光光源并且控制从激光光源输出的脉冲状的激光的脉冲宽度和重复频率中的至少一者的控制部(12)、以及用于将从激光光源输出的光照射到包含蛀牙部位(21)的牙齿(20)的照射光学系统(13)。在该齿科治疗装置中,控制部通过控制脉冲状的激光的脉冲宽度和重复频率中的至少一者,来选择性地对蛀牙部位(21)进行切削。

    硅发光元件
    39.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102210029A

    公开(公告)日:2011-10-05

    申请号:CN200980144433.1

    申请日:2009-09-08

    Inventor: 楚树成 菅博文

    CPC classification number: H01L33/34 H01L33/0008 H01L33/025

    Abstract: 本发明提供了一种硅发光元件,具备:具有第1面(10a)和位于该第1面相反侧的第2面(10b)的第1导电类型的硅衬底(10);设置在硅衬底(10)的第1面(10a)上的绝缘膜(11);设置在绝缘膜(11)上不同于第1导电类型的第2导电类型的硅层(12);设置在硅层(12)上的第1电极(13);以及设置在硅衬底的第2面上的第2电极(14),硅衬底(10)的载流子浓度为5×1015cm-3~5×1018cm-3,硅层(12)的载流子浓度为1×1017cm-3~5×1019cm-3并且比硅衬底(10)的载流子浓度大一个数量级以上,绝缘膜(11)的膜厚是0.3nm~5nm。由此,实现了可以适用于硅光子学的光源的硅发光元件。

    硅元件的制造方法
    40.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101132046B

    公开(公告)日:2011-03-16

    申请号:CN200710146680.8

    申请日:2007-08-24

    Inventor: 楚树成 菅博文

    CPC classification number: H01L33/0054

    Abstract: 本发明提供硅元件的制造方法,其具有:在显示第1导电型的硅基板(2a)的第1面(S1a)上形成显示第2导电型的硅层(4a)的工序,和在该工序后,使硅层(4a)的第3面(S3a)在30分钟以上6小时以内的时间段,露出于被调整为400℃以上900℃以下的温度及4MPa以上200MPa以下的压力的包含氩气的气氛中的工序。

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