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公开(公告)号：CN101932941B
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：CN200980103792.2
申请日：2009-01-22
Applicant: 日本发条株式会社
Abstract: 本发明提供一种用于抑制起因于探针的细径化造成的容许电流的降低的探针单元，其具备：多个大径探针；多个小径探针，其直径比大径探针的直径小；大径探针支架，具有：多个大孔部，分别独立地保持多个大径探针；多个收容孔部，直径比大孔部的直径小，且与多个大孔部的任一个连通，并在与大径探针接触的状态下收容小径探针的端部，并且互相连通的大孔部及收容孔部的组合在厚度方向上穿过该大径探针支架；小径探针支架，其设有多个小孔部，并层叠在大径探针支架上，使得各小孔部分别与多个收容孔部中的任一个连通，多个小孔部在厚度方向上穿过该小径探针支架，并独立地将多个小径探针保持在止脱的状态，其中，互相连通的大孔部与小孔部的长度方向的中心轴不同，在多个小孔部中包含邻接的二个小孔部的中心轴间距离比分别对应该二个小孔部的二个大孔部的中心轴间距离小的小孔部。
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公开(公告)号：CN101828310B
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN200880112224.4
申请日：2008-10-16
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: H05K3/326 , H01L23/49811 , H01L2224/0554 , H01L2224/0557 , H01L2224/05571 , H01L2224/05573 , H01L2224/16 , H01L2924/00014 , H01L2924/1461 , H01R12/714 , H01R13/2407 , H05K3/32 , H05K3/4015 , H05K3/4092 , H05K2201/0311 , H05K2201/0379 , H05K2201/0397 , H05K2201/1031 , H05K2201/10333 , H05K2201/1059 , H05K2201/10734 , Y02P70/611 , H01L2924/00 , H01L2224/05599 , H01L2224/0555 , H01L2224/0556
Abstract: 本发明提供一种可实现与接触对象的稳定接触的连接端子、半导体封装件、布线基板、连接器及微接触器。为了达成该目的，藉由与接触对象接触而与该接触对象的电连接，具备多个导电性的端子用构件，该端子用构件具有其至少一部分的表面呈曲面且延伸成带状的端子部，且构成为该端子部与至少1个其它端子部将其彼此的一部分在厚度方向上层叠。亦可使所有的端子部的前端部在厚度方向上层叠。
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公开(公告)号：CN101317099B
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN200580052033.X
申请日：2005-11-10
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01R31/2891 , G01R31/2884
Abstract: 本发明提供一种具有简易的构成，而且在与检查对象之间可进行正确定位的接触单元。在接触单元(2)所具备的支撑基板(15)的上面，对应于作为检查对象的电路形成区域(5a)所具备的测试垫(11)的配置形态，配置有接触探针(13)的同时，对应于虚设垫(7a)至(7d)，配置有检测探针组(14a)至(14d)。检测探针组(14)是由探针(19、20)所构成，而分别连接于构成位置关系检测部(22)的发光二极管(12)及电压源(21)。以接触单元(2)实施检查时，经由探针(19、20)与所对应的虚设垫(7)接触而互为导通时，发光二极管会发光，因此借助确认发光二极管(12)的发光状态，即可判定是否正确进行定位。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101932941A
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200980103792.2
申请日：2009-01-22
Applicant: 日本发条株式会社
Abstract: 本发明提供一种用于抑制起因于探针的细径化造成的容许电流的降低的探针单元，其具备：多个大径探针；多个小径探针，其直径比大径探针的直径小；大径探针支架，具有：多个大孔部，分别独立地保持多个大径探针；多个收容孔部，直径比大孔部的直径小，且与多个大孔部的任一个连通，并在与大径探针接触的状态下收容小径探针的端部，并且互相连通的大孔部及收容孔部的组合在厚度方向上穿过该大径探针支架；小径探针支架，其设有多个小孔部，并层叠在大径探针支架上，使得各小孔部分别与多个收容孔部中的任一个连通，多个小孔部在厚度方向上穿过该小径探针支架，并独立地将多个小径探针保持在止脱的状态，其中，互相连通的大孔部与小孔部的长度方向的中心轴不同，在多个小孔部中包含邻接的二个小孔部的中心轴间距离比分别对应该二个小孔部的二个大孔部的中心轴间距离小的小孔部。
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公开(公告)号：CN101258409A
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200680032853.7
申请日：2006-09-07
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01R1/07357 , G01R1/06716 , G01R1/06738 , G01R1/0675 , G01R1/06761 , G01R3/00 , Y10T29/49204
Abstract: 本发明提供一种导电性触头以及导电性触头的制造方法，其在施加外力时可易于控制弯曲的方向，能够实现更高精度且可靠性高的电特性检查。为了实现该目的，相对于具备多个连接端子的电路构造，通过与所述多个连接端子的任意一个物理接触来建立电连接，该导电性触头的与主体部的长度方向垂直的剖面形状具有各向异性。也可以形成对包含该主体部的长度方向的中心附近、且不包含上述主体部的两端部的区域的表面进行覆盖的绝缘层。
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公开(公告)号：CN1751244A
公开(公告)日：2006-03-22
申请号：CN200480004731.8
申请日：2004-02-20
Applicant: 日本发条株式会社
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R1/07314
Abstract: 高精度地进行在TAB、COF等带子上形成的电极端的检验。对在带子(1)上以一定间隔设置的电路图案形成区域(10、10a)中的多个电极端(11)，在测试装置(2)上以大致垂直状态配置的多个探针(21)从大致垂直方向分别接触，从而进行电气检验。为了对应于各电路图案形成区域(10、10a)而在带子表面上形成对位用对准标记(13a、13b、13c、13d)，将与其对应的标记确认孔(25)设置在测试装置(2)上，以在测试装置(2)的与带子(1)的相反的一侧配置相机(31)的状态，通过相机(31)观察并调整测试装置(2)与带子(1)之间的相对位置，使得对准标记位于标记确认孔(25)的内部。
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公开(公告)号：CN1537233A
公开(公告)日：2004-10-13
申请号：CN02813247.5
申请日：2002-07-08
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: H01R13/2421 , G01R1/06722 , H01R11/18
Abstract: 相对细图案化的接触部，确保进行电气检查的针状体的位置精度。具备前端部(3a)接触布图形成的接触部的多个导电性针状体(3)；与各针状体(3)同轴连结、向与所述接触部的接触方向对针状体(3)施力的多个导电性盘簧(4)；和绝缘性支架(2)，在形成分别容纳至少盘簧(4)的容纳孔(12)的同时，与各容纳孔(12)连通地形成在防拔出状态下露出针状体(3)的前端部的引导孔(13)。通过相对容纳孔(12)的中心将全部或部分引导孔(13)的中心沿同一平面内的特定的一个方向偏离，确保针状体(3)的位置精度。
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公开(公告)号：CN1518667A
公开(公告)日：2004-08-04
申请号：CN01823375.9
申请日：2001-06-19
Applicant: 日本发条株式会社
Abstract: 本发明涉及导电性探针及由多个导电性探针构成的电探测装置。将一对插棒(3、4)连接在卷簧(2)的两端的插棒组件(5)允许一对插棒(3、4)往复移动地装在设置在由绝缘材料构成的支撑体(6)上的支撑孔(7)中，一端的插棒(4)突出于在外并被止挡，另一端的插棒(3)安装成与叠层在支撑体(6)上的布线板(11)电连接，另外，由于插棒组件(5)可通过支撑孔(7)在布线板(11)一侧的开口部(9a)自由地插入拔出支撑孔(7)，支撑孔(7)的开口部(9a)可通过拆开布线板(11)敞开。
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