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公开(公告)号：CN101346632B
公开(公告)日：2011-03-30
申请号：CN200680049124.2
申请日：2006-12-25
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01R1/07342
Abstract: 本发明提供一种探针卡。其目的在于抑制在相邻的检查对象间的串扰的影响。为达成此目的，本发明的探针卡具有：与检查对象接触从而进行电信号的输入或者输出的至少任一方的多个探针；具有对应于生成检查用信号的电路构造的配线图案的基板；一端电连接于所述多个探针的任一个，从而向所述检查对象传送输入信号的多个输入用导线；一端电连接于所述基板，另一端与所述多个输入用导线的任一个或者所述多个探针的任一个电连接的多个同轴电缆；一端电连接于所述多个探针的任一个，从而传送来自所述检查对象的输出信号的多个输出用导线；以及在与相邻的两个所述检查对象中的一个检查对象连接的所述输出用导线和与另一个检查对象连接的所述输入用导线相交叉的区域附近设置的屏蔽板。
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公开(公告)号：CN100492038C
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200480004731.8
申请日：2004-02-20
Applicant: 日本发条株式会社
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R1/07314
Abstract: 高精度地进行在TAB、COF等带子上形成的电极垫的检验。对在带子(1)上以一定间隔设置的电路图案形成区域(10、10a)中的多个电极垫(11)，在测试装置(2)上以大致垂直状态配置的多个探针(21)从大致垂直方向分别接触，从而进行电气检验。为了对应于各电路图案形成区域(10、10a)而在带子表面上形成对位用对准标记(13a、13b、13c、13d)，将与其对应的标记确认孔(25)设置在测试装置(2)上，以在测试装置(2)的与带子(1)的相反的一侧配置相机(31)的状态，通过相机(31)观察并调整测试装置(2)与带子(1)之间的相对位置，使得对准标记位于标记确认孔(25)的内部。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101317099B
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN200580052033.X
申请日：2005-11-10
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01R31/2891 , G01R31/2884
Abstract: 本发明提供一种具有简易的构成，而且在与检查对象之间可进行正确定位的接触单元。在接触单元(2)所具备的支撑基板(15)的上面，对应于作为检查对象的电路形成区域(5a)所具备的测试垫(11)的配置形态，配置有接触探针(13)的同时，对应于虚设垫(7a)至(7d)，配置有检测探针组(14a)至(14d)。检测探针组(14)是由探针(19、20)所构成，而分别连接于构成位置关系检测部(22)的发光二极管(12)及电压源(21)。以接触单元(2)实施检查时，经由探针(19、20)与所对应的虚设垫(7)接触而互为导通时，发光二极管会发光，因此借助确认发光二极管(12)的发光状态，即可判定是否正确进行定位。
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公开(公告)号：CN1751244A
公开(公告)日：2006-03-22
申请号：CN200480004731.8
申请日：2004-02-20
Applicant: 日本发条株式会社
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R1/07314
Abstract: 高精度地进行在TAB、COF等带子上形成的电极端的检验。对在带子(1)上以一定间隔设置的电路图案形成区域(10、10a)中的多个电极端(11)，在测试装置(2)上以大致垂直状态配置的多个探针(21)从大致垂直方向分别接触，从而进行电气检验。为了对应于各电路图案形成区域(10、10a)而在带子表面上形成对位用对准标记(13a、13b、13c、13d)，将与其对应的标记确认孔(25)设置在测试装置(2)上，以在测试装置(2)的与带子(1)的相反的一侧配置相机(31)的状态，通过相机(31)观察并调整测试装置(2)与带子(1)之间的相对位置，使得对准标记位于标记确认孔(25)的内部。
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公开(公告)号：CN115335708A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202180022852.9
申请日：2021-03-17
Applicant: 日本发条株式会社
Abstract: 本发明的探针单元具有：多个第一接触探针，其分别在长度方向上的一个端部侧与接触对象的电极接触；第二接触探针，其与外部的接地连接；探针座，其保持第一接触探针和第二接触探针，其中，探针座中形成有：第一中空部，其插入并保持第一接触探针；第二中空部，其插入并保持第二接触探针；通孔，其设置在第一中空部的周围，且探针座具有导电部，该导电部构成通孔，且将该通孔与第二接触探针电连接。
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公开(公告)号：CN101346632A
公开(公告)日：2009-01-14
申请号：CN200680049124.2
申请日：2006-12-25
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01R1/07342
Abstract: 本发明提供一种探针卡。其目的在于抑制在相邻的检查对象间的串扰的影响。为达成此目的，本发明的探针卡具有：与检查对象接触从而进行电信号的输入或者输出的至少任一方的多个探针；具有对应于生成检查用信号的电路构造的配线图案的基板；一端电连接于所述多个探针的任一个，从而向所述检查对象传送输入信号的多个输入用导线；一端电连接于所述基板，另一端与所述多个输入用导线的任一个或者所述多个探针的任一个电连接的多个同轴电缆；一端电连接于所述多个探针的任一个，从而传送来自所述检查对象的输出信号的多个输出用导线；以及在与相邻的两个所述检查对象中的一个检查对象连接的所述输出用导线和与另一个检查对象连接的所述输入用导线相交叉的区域附近设置的屏蔽板。
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公开(公告)号：CN101317099A
公开(公告)日：2008-12-03
申请号：CN200580052033.X
申请日：2005-11-10
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01R31/2891 , G01R31/2884
Abstract: 本发明提供一种具有简易的构成，而且在与检查对象之间可进行正确定位的接触单元。在接触单元(2)所具备的支撑基板(15)的上面，对应于作为检查对象的电路形成区域(5a)所具备的测试垫(11)的配置形态，配置有接触探针(13)的同时，对应于虚设垫(7a)至(7d)，配置有检测探针组(14a)至(14d)。检测探针组(14)是由探针(19、20)所构成，而分别连接于构成位置关系检测部(22)的发光二极管(12)及电压源(21)。以接触单元(2)实施检查时，经由探针(19、20)与所对应的虚设垫(7)接触而互为导通时，发光二极管会发光，因此借助确认发光二极管(12)的发光状态，即可判定是否正确进行定位。
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