一种具有灵活分配测试存取机制的SOC测试调度方法

    公开(公告)号:CN101995544A

    公开(公告)日:2011-03-30

    申请号:CN201010566520.0

    申请日:2010-11-30

    Abstract: 一种具有灵活分配测试存取机制的SOC测试调度方法,本发明涉及集成电路测试领域,能够使IP核测试存取机制的分配方式更加灵活,更好的实现IP核的并行测试,从而缩短测试时间。它包括下述步骤:根据BFD算法,找出待测SOC内部各个IP核的pareto-point;根据vt-1产生N个随机样本;利用B*-Tree二叉树结构计算各个IP核的布局;选择部分IP核进行灵活的TAM分配;利用CE方法求解各个IP核的的总线分配和时间分配,直到满足CE收敛的条件。本发明用于SOC的测试。

    小卫星执行机构的状态信息采集装置

    公开(公告)号:CN101738332A

    公开(公告)日:2010-06-16

    申请号:CN200910312925.9

    申请日:2009-12-31

    Abstract: 小卫星执行机构的状态信息采集装置,它涉及一种信号采集装置,它解决了目前尚无设备能够有效检测多种类的卫星执行机构部件状态信息的问题。小卫星执行机构的状态信息采集装置,包括磁力矩传感器电压采集模块、卫星飞轮转速采集模块、卫星飞轮转速方向采集模块、卫星燃料推进器开关时间采集模块、控制及计算模块、数据组帧模块、启动帧判断模块、50ms周期信号采集模块和动力学计算机;状态信息采集装置接收到50ms周期信号后,采集磁力矩传感器、飞轮和卫星燃料推进器输出的各个信号并处理,将处理后的数据组帧后通过RS-485通讯逻辑程序传送给动力学计算机。本发明克服了已有技术的不足,可用于航天领域执行机构部件的信号采集检测。

    直流变换器中电解电容失效参数辨识方法

    公开(公告)号:CN112698142B

    公开(公告)日:2024-04-23

    申请号:CN202110104815.4

    申请日:2021-01-26

    Abstract: 一种直流变换器中电解电容失效参数辨识方法,属于DC‑DC变换器的电解电容监测技术领域。本发明针对目前电解电容的健康监测结果需要通过高频率的采样数据获得,造成采样成本高的问题。包括:获取纹波电压和纹波电流并进行压缩得到纹波电压观测值和纹波电流观测值;利用正交匹配跟踪算法,结合感知矩阵,重构出纹波电压在小波子空间投影值和纹波电流在小波子空间投影值;取纹波电压在小波子空间投影值的最大值作为纹波电压特征值,取纹波电流在小波子空间投影值的最大值作为纹波电流特征值;将纹波电压特征值和纹波电流特征值的比值作为电解电容的当前等效串联电阻辨识结果。本发明可实时在线辨识电解电容的失效参数ESR。

    基于统计特征典型相关分析的PFC故障检测方法

    公开(公告)号:CN113985173B

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202111254775.8

    申请日:2021-10-27

    Abstract: 一种基于统计特征典型相关分析的PFC故障检测方法,属于PFC故障检测领域。本发明针对现有通过PFC变换器的输出电压对其进行故障检测,不明显的故障特征易被掩盖造成检测效果差的问题。包括:采集PFC转换器的样本输入电压和样本输出电压;对样本输入电压特征量和样本输出电压特征量进行典型相关分析,得到典型相关系数;构建样本残差矩阵,计算获得样本统计量;并确定故障检测阈值;采集实际输入电压和实际输出电压,利用实际输入电压特征量、实际输出电压特征量和典型相关系数构建实际残差矩阵,计算获得实际统计量;将实际统计量与故障检测阈值进行比较,若实际统计量大于故障检测阈值,则判定运行状态PFC转换器为故障状态。本发明用于PFC故障检测。

    基于退化特征参数正常包络模型的模拟电路早期故障检测方法

    公开(公告)号:CN110135088B

    公开(公告)日:2022-08-23

    申请号:CN201910420731.4

    申请日:2019-05-20

    Abstract: 基于退化特征参数正常包络模型的模拟电路早期故障检测方法,属于电子系统可靠性领域。电路早期故障状态和正常工作状态有较大混叠难以区分,导致检测结果不理想。基于退化特征参数正常包络模型的模拟电路早期故障检测方法,确定电路的输出信号及分析电路中可能存在的退化源作为电路的关键元器件;建立关键元器件的退化模型,通过仿真实验获取退化数据;对电路的输出信号进行特征提取,提取出能够反映输出信号退化的特征参数;建立基于退化的特征参数的正常包络模型并进行检测,完成电路的早期故障检测。

    具有时间序列状态变量的工业设备故障检测方法

    公开(公告)号:CN114595767A

    公开(公告)日:2022-06-07

    申请号:CN202210223287.9

    申请日:2022-03-07

    Abstract: 一种具有时间序列状态变量的工业设备故障检测方法,属于工业设备故障检测领域。本发明针对现有工业系统的故障检测依赖故障数据建立检测模型,故障数据获取难度大造成方法难以适用的问题。包括:采集时间序列状态数据作为训练数据;计算训练数据m维特征变量的均值和标准差,并对训练数据进行标准化;对标准化后时间序列数据采用滑动窗口进行分割得到序列数据P,对LSTM自编码网络进行训练;再基于训练后LSTM自编码网络获得训练数据的误差序列;基于极值理论的方法对误差序列进行分析,得到故障阈值;再基于待检测设备序列数据对故障阈值进行调整,得到调整后阈值,进而实现工业设备的故障检测。本发明用于变量具有时序特征的工业设备的故障检测。

    直流变换器中电解电容失效参数辨识方法

    公开(公告)号:CN112698142A

    公开(公告)日:2021-04-23

    申请号:CN202110104815.4

    申请日:2021-01-26

    Abstract: 一种直流变换器中电解电容失效参数辨识方法,属于DC‑DC变换器的电解电容监测技术领域。本发明针对目前电解电容的健康监测结果需要通过高频率的采样数据获得,造成采样成本高的问题。包括:获取纹波电压和纹波电流并进行压缩得到纹波电压观测值和纹波电流观测值;利用正交匹配跟踪算法,结合感知矩阵,重构出纹波电压在小波子空间投影值和纹波电流在小波子空间投影值;取纹波电压在小波子空间投影值的最大值作为纹波电压特征值,取纹波电流在小波子空间投影值的最大值作为纹波电流特征值;将纹波电压特征值和纹波电流特征值的比值作为电解电容的当前等效串联电阻辨识结果。本发明可实时在线辨识电解电容的失效参数ESR。

    一种电子系统多退化进程研究方法

    公开(公告)号:CN107203677B

    公开(公告)日:2021-01-08

    申请号:CN201710482200.9

    申请日:2017-06-22

    Abstract: 一种电子系统多退化进程研究方法,本发明涉及电子系统多退化进程研究方法。本发明的目的是为了解决现有实际研究中通常考虑系统中所有退化量分析其退化,导致计算量大,研究复杂,以及为了优化分析过程需要考虑多退化系统的主要退化量而忽略次要退化量,导致可靠性及寿命预测结果置信度低的问题。过程为:一、得到电路的传递函数;绘制出电路全部元件退化时的幅频特性曲线和相频特性曲线;得到电路全部元件退化时的电路增益、上下限截止频率和中心频率电路特征信息;二、进行灵敏度分析,按照灵敏度排序情况划分关键元件组合;三、选取关键元件组合,进行电路性能退化分析。本发明用于电路退化领域。

    一种基于响应混叠性度量小波包分解算法的参数优化方法

    公开(公告)号:CN111610428A

    公开(公告)日:2020-09-01

    申请号:CN202010326364.4

    申请日:2020-04-26

    Abstract: 一种基于响应混叠性度量小波包分解算法的参数优化方法,涉及模拟电路故障检测中一种参数优化方法。本发明为了解决现有模拟电路中部分低灵敏度器件在参数容差的影响下故障状态与正常状态界限模糊,导致其故障检测率低的问题。本发明所述方法包括获取电路元件灵敏度顺序表;得到正常/故障状态原始数据;建立小波包分解特征提取方法库;使用方法库内小波包分解方法处理电路正常/故障状态原始数据,计算处理后得到的高维距离度量值;根据高维距离度量值得到正常/故障状态正态分布曲线;计算每种小波包分解方法处理后的故障/正常状态正态分布曲线间的混叠面积;按优先级优选出最优小波包分解算法的参数。属于模拟电路故障检测领域。

    一种基于自定义探针的绑定前TSV测试方法

    公开(公告)号:CN108008286B

    公开(公告)日:2019-10-22

    申请号:CN201711261542.4

    申请日:2017-12-04

    Abstract: 本发明涉及一种基于自定义探针的绑定前TSV测试方法,是为了解决现有技术的3‑D芯片测试技术缺少绑定前测试的缺点而提出的,包括:将第一探针与芯片的测试输入引脚接触,将第二探针与芯片的测试输出引脚接触;并向测试输入引脚始终输入高电平;按照预设的顺序向芯片的指定输入端输入预定的电平信号,并根据芯片的测试输出引脚的输出情况判断芯片是否出现漏电故障;再将被测TSV对应的每个引脚分别与自定义探针组中的每个探针接触,并根据前述的方法输入另一种电平信号组合,根据芯片的测试输出引脚的输出情况判断芯片是否出现阻性故障,最后将探针组由接触状态转换为悬空状态。本发明适用于3‑D集成电路的故障检测。

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